天津IC探针台平台
除探针台外,晶圆检测环节还需要使用测试仪/机,测试仪/机用于检测芯片功能和性能,探针台实现被测芯片与测试机的连接,通过探针台和测试机的配合使用,可以对晶圆上的裸芯片进行功能和电参数测试或射频测试,可以对芯片的良品、不良品的进行筛选。 在封装之前对单个芯片进行测试可以将有缺陷的器件从流通中移除,确保只封装功能器件。探针台在整个研发、产品开发和故障分析中都有很大的用途,工程师需要灵活而精确的工具来对设备的不同区域进行一系列测试。探针台可以促进人类文明的发展和太空探索的进程。天津IC探针台平台
手动探针台的工作原理及应用范围。工作原理:手动探针台是普遍应用于半导体行业的综合经济型测试仪器,主要用于半导体芯片的电参数检测。手动探针台是通过两根探针以及吸片盘够成的回路以及相应大型电参数测试仪对芯片中的集成电路进行检测的。应用范围:手动探针台主要用于对生产及科研中的集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯的电压、电流、电阻等参数进行手动测试。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。四川双层位移探针台探针台需要高度的保密性和安全措施。
根据探针测试需要,XY 精密工作台的技术要 求为:XY 向行程160 mm;精度±0.008 mm;重复 定位精度±0.003 mm;分辨率0.001 mm。在结构 设计时,为达到上述精密控制要求选用伺服电机 驱动,全闭环运动控制;整个工作台需要放置于真 空腔体内,结构紧凑合理的工作台结构可以有效 地减小真空腔体设计尺寸,XY 工作台结构采用 丝杠、交叉滚子导轨组合形式。其中Y 向丝杠采 用偏置方式;X 向丝杠采用对称方式。对于电机、丝杠、导轨等外购件,选型号时,需 要考虑温度、湿度、腐蚀性等特种环境下运行情 况,要求在高真空状态下材料不能逸出空气,外购 件内部、外部不能有挥发性油脂。如果没有合适的 型号满足上述要求,需要对相应外购件加装特制 密封罩。
探针台厂家分享低温探针台的优势,现在探针台的种类非常多,这里就带大家一起来了解低温真空探针台:满足各种温度的需求:因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。 晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。探针台的科研成果有助于人类更有效地保护地球和地球上的所有生命。
半自动型,chuck尺寸800mm/600mm;X,Y电动移动行程200mm/150mm;chuck粗调升降9mm,微调升降16mm;可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜;针座摆放个数6~8颗;显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2";可搭配Probe card测试;适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品;电动型;chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金);X,Y电动移动行程300mm x 300mm;chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u;可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜。探针台的研究成果不仅对天文学有着重要的意义,还对物理学等学科领域产生了深远的影响。天津IC探针台平台
探针台的观测数据对未来宇宙探索和科学研究提供了宝贵的资源。天津IC探针台平台
手动探针台系统顾名思义是手动控制的,这意味着晶圆载物台、显微镜以及定位器/操纵器都是由使用者手动移动的。因此一般是在没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下使用手动探针台。该类探针台的优点之一是只需要较少的培训,易于配置环境和转换测试环境,并且不需要涉及额外培训和设置时间的电子设备、PC或软件。由于其灵活和可变性高的特点,非常适合研发人员使用。全自动探针台相比上述两种添加了晶圆材料处理搬运单元(MHU)和模式识别(自动对准)。负责晶圆的输送与定位,使晶圆上的晶粒依次与探针接触并逐个测试。可以24小时连续工作,通常用于芯片量产或有一些特殊要求如处理薄晶圆、封装基板等。全自动探针台价格也是远比手动/半自动探针台要昂贵。天津IC探针台平台
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