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X射线衍射分析的应用实例： 1、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。 2、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合 理选择响应的方向平面。 3、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 4、粉末样品要求磨成320目的粒度，约40微米。粒度粗大衍射强度低，峰形不好，分辨率低。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。 5、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。奥林巴斯仪器使用透射几何技术不是基于测角仪的传统XRD仪器所使用的反射几何技术。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD厂商

x射线衍射图谱： 横坐标：角度（度），是2θ 角，是衍射谱仪扫描的角度。 纵坐标：是检测到的计数，单位：CPS-每秒计数counts per sec. 另外，测试单上还会给出一系列数据，它们是： 一列数据，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。 第二列数据，的d,单位是Å， 第三列数据，BG，可能是背景缩写； 第四列数据，峰高，计数值； 第五列数据，相对峰高（%），是把强峰作为归一标准的相对强度值； 第六列数据，峰面积； 第七列数据，相对峰面积（%）； 第八列数据，FWHM-Full width at half maximum （脉冲）峰半高宽；一般用于计算的峰强度使用高度就可以了，这是把峰都看成是常规峰。但这一项 FWHM 可以给出特异峰信息，在解析时会带来特殊意义。 第九列数据，XS(Å)，XS是晶粒度(Å）。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD厂商X射线衍射仪晶体取向分析，如晶体取向、解理面及惯析面的 测定。

X射线衍射工作原理： X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生大强度的光束称为X射线的衍射线 满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=nλ 应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。 XRD分析常用的软件有有Pcpdgwin，Search match，High score和Jade，比较常用的是后两种。

X射线衍射仪技术（XRD） X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。 X射线衍射仪是对流体、粉末及块状晶体等物质的重要无损分析工具。

当x射线以掠角θ(入射角的余角)入射到某一点阵晶格间距为d的晶面上时,在符合上式的条件下，将在反射方向上得到因叠加而加强的衍射线。布拉格方程简洁直观地表达了衍射所必须满足的条件。当 x射线波长λ已知时(选用固定波长的特征x射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布拉格方程条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布拉格方程即可确定点阵晶面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。这便是x射线结构分析中的粉末法或德拜-谢乐(debye—scherrer)法的理论基础。而在测定单晶取向的劳厄法中所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布拉格方程的条件,故选用连续x射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算x射线的波长，从而判定产生特征x射线的元素。这便是x射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。奥林巴斯装配有电荷耦合装置（CCD）探测器的XRD分析仪，可以采集衍射环的切片。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD厂商

X射线衍射仪测定晶粒尺寸和点阵畸。浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD厂商

便携式XRD衍射仪是一种用于能源科学技术领域的科学仪器X射线发生器，射线管功率：10W，X射线辐射剂量：仪器表面2cm处辐射能级0.5mRad/H；样品振动系统，测量角度范围：5°—55°，微量样品室：小可检测样品量15mg，扫描方式：全谱扫描；探测器，探测效率：98%，XRD 分辨率 0.25°(2θFWHM)，XRF 分辨率230eV；冷却系统：制冷方式：2D Peltier 电子制冷，仪器制冷效率：仪器正常工作持续8时机箱温度不超过35℃；数据库：PDF2由国际衍射数据中心(ICDD)中心提供，至少包含3000多种矿物30000多个矿物数据。 浙江奥林巴斯BTX小型台式XRD厂商

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