东莞在线AOI光学检测

时间:2023年03月29日 来源:

随着计算机的快速发展,AOI也采用了目前许多成熟的图像分析技术,包括模板匹配法(或自动对比)、边缘检测法、特征提取法(二值图)、灰度直方图法、傅里叶分析法、光学特征识别法等,每个技术都有优势和局限。模板比较法通过获得物体图像,如片状电容或QFP,并用该信息产生一个刚性的基于像素的模板。在检测位置的附近,传感器找出相同的物体。当相关区域中所有点进行评估之后,找出模板与图像之间有Z小差别的位置停止搜寻。AOI系统为每个要检查的物体产生这种模板,通过在不同位置使用相应模板,建立对整个板的检查程序,来查找所有要求的元件。但是由于元件检测图像很少完全匹配模板,所以用两种方法来解决这个问题:可以用一定数量的容许误差来确认匹配的,如果模板太僵硬,可能产生对元件的“误报”;如果模板松散到接受大范围的可能变量,也会导致“漏报”;可以根据同类的众多良品进行标准模板的计算,或者叫“特征元件”,这样可以Zda限度提取该类元件的共性特征,从而降低误报率。 AOI一般可以发现大部分缺陷,存在少量的漏检问题,不过主要影响其可靠性的还是误检问题。东莞在线AOI光学检测

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AOI图像采集的一个关键步骤是控制系统,光电传感器的FOV(视窗)有限,物体高速运动中准确地抓拍到清晰的图像,软硬件协调动作非常重要,如下图所示,当图像传感器与机台移动速度不匹配时造成图像的拉伸,收缩等变形,所以,载物移动平台XY方向移动与图像采集光电传感器的同步移动影响到数据的准确,要在固定光照,等间距下拍摄一幅清晰的图像,高精度的导轨,电机和运动控制程序是非常必要的。在AOI检测中,噪声是造成图像退化的因素之一,起因是AOI图像获取,传输过程中,外界杂散光,光电二极管电子噪声及温度,光源的不稳定不均匀,机械系统的抖动,传感器温度等原因导致,不可避免的使得图像因含有噪音而变得模糊。给图像识别,图像切割等后续处理工作带来了困难。因此,为了获得真实的图像信息,除去噪声的滤波处理必不可少。 深圳AOI检测AOI通过人工光源LED灯光代替自然光,光学透镜和CCD代替人眼,已经编好程的标准进行比较、分析和判断。

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经过波峰焊后,焊点所有的参数会有很大的变化,这主要是由于焊炉内锡的老化导致焊盘反射特性从光亮到灰暗,因此,在检查时算法上必须要包含这些变化。在波峰焊中,典型的缺陷是短路和焊珠。当检测到短路时,假如印刷的图案或者无反射印刷这两种情况的减少以及应用阻焊层,就可以消除这些误报。如果基准点没有被阻焊膜盖住而过波峰焊,可能会导致一个圆形基准点上锡成了一个半球,其内在的反射特性将会发生改变;应用十字型作为基准点或者用阻焊层覆盖基准点,可以防止这种情况的发生。

必要的组件自动光学检测(AOI检测)系统为多层结构,而机器视觉相机只是其中的组件之一。充足的人工或天然光源以及用于启动相机的光栅及编码器等信号触发装置,也是必不可少的硬件组件。要对所收集的图像数据进行进一步处理,还需要分析软件。这些软件既可以直接集成到相机,也可以置于相机外的流程下游,将数据经由合适的接口传递给所连接的计算。去芜存菁...如果对图像的分析确定了某项特征或发现与标准存在偏差,则必须相应地分拣出这个有缺陷的物体。其中的相机数据将可供文档编制所用,而自动光学检测即顺利完成了它的使命。 AOI设备是高度定制化产品,设备厂商往往需要根据下游客户的要求进行主机设备的调整或是软件的二次开发。

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AOI图像采集的一个关键步骤是控制系统,光电传感器的FOV(视窗)有限,物体高速运动中准确地抓拍到清晰的图像,软硬件协调动作非常重要,如下图所示,当图像传感器与机台移动速度不匹配时造成图像的拉伸,收缩等变形,所以,载物移动平台XY方向移动与图像采集光电传感器的同步移动影响到数据的准确,要在固定光照,等间距下拍摄一幅清晰的图像,高精度的导轨,电机和运动控制程序是非常必要的。数据处理阶段是图像的预处理阶段,是采集图像的加工处理过程,为图像比对提供准确可靠的图片信息,主要包含了背景噪音减少,图像增强和锐化等过程。图像背景噪音减小一般为图像的低通滤波平滑法,图像增强和锐化则是提高被检测特征的对比度,突出图像中需要关注的特征,忽略不需要关注的部分,方法是图像二值化处理,经过二值化处理的图像数据量明显减少,能凸显出需要关注的轮廓。 AOI系统是集精密机械、自动控制、光学图像处理、软件系统等多学科的自动化设备。深圳在线AOI测试

以目前AOI(自动光学检测)技术在PCB行业渗透率较高,复杂化趋势以及制造行业整体对智能化变革的需求。东莞在线AOI光学检测

照明光源按照波长分类可以分为可见波长光源,特殊波长光源。可见波长光源也就是一般现代工业AOI检测设备中较常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源,一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大,灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源,比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理,检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段,因材料成分与红外光谱有对应关系的原理,红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用,甚至可以实现成分分析。特殊光源中,利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化,利用光学干涉原理的白光干涉(whitelightinterferometry)在特定缺陷检测中的得到了应用,例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差,可以测量出被测物体与参考物体之间的差异,且分辨率与精度为可以达到亚波长。 东莞在线AOI光学检测

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