山西2D 测量传感器技术

时间:2023年11月15日 来源:

什么是光谱共焦?光学传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理,我们的传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。用于工业环境中的设计,STIL传感器的各系列,吸引集成器与测量检测机器轻松连接,这归功于为每台仪器提供的动态链接库(DLL)光学原理我们的光学传感器基于高度创新的共焦彩色成像原理。入射的白光***通过彩色物镜成像为沿Z轴的连续单色图像,从而沿光轴提供“颜色编码”反向散射的光束通过过滤***进入光谱仪,该光谱仪确定波长已完全聚焦于物体上,然后精确地确定其在测量场的位置。共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,让您满意,欢迎您的来电哦!山西2D 测量传感器技术

山西2D 测量传感器技术,传感器

多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放,多个产品可同时测量,**节省测量时间,减少用工成本!低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量,图像畸变也很小,无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有毛边或缺陷时系统能自动识别,排除异常点提高测量的准确度。数据追溯管理更简单测量结果自动保存,可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索,数据追溯管理简单。测量结果自动保存,可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索,数据追溯管理简单。检测报告及统计报告都可通过一键完成制作,无需数据传输及电脑输入等繁琐的过程,支持多种格式。2D 测量传感器测量速度适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理。

山西2D 测量传感器技术,传感器

应用范围:光谱共聚焦传感器既可用于工业环境中,也可用于生产过程中的在线检测以及实验室环境中的高精度仪器。他们主要涵盖以下内容:l微形貌(测量样品的形状和表面特征)l尺寸控制(测试制造产品的特定尺寸是否符合规格)l质量控制(制造产品缺陷的识别和特征描述)l粗糙度测量(测量样品表面的统计特征)l摩损度(表征机械或化学侵蚀)l厚度测量光谱共焦传感器完全符合涉及3D真实表面纹理的测量和分析的ISO25178标准。此外,此标准第601章节致力于非接触式表面测量,引用CCI作为***参考技术原理

闪测仪测量更准确采用双倍率双侧远心光学镜头,具有较高的远心度,即使有段差情况下也能高精度正确的测量。倍率涵盖0.16X大视野/0.7X高精度。一键测量闪测仪是一种新型的影像测量技术,它和传统的二次元影像测量仪不同的是它不再需要光栅尺位移传感器作为精度标,也不要经过大焦距的镜头经过放大产品影像来保障测量精度。多年来精密测量业里流行着这么一句话:影像测量仪是传统投影仪的替代产品,影像测量仪将取代传统投影仪。如今我们将再一次打破传统,闪测仪将取代影像测量仪和传统投影仪汽车挡风玻璃质量控制, 大工作距离和大景深的点传感器适用于车间环境,对3D形状、轮廓、HUD的多层厚度测量。

山西2D 测量传感器技术,传感器

公司基于创新的技术开发了两个系列的产品:从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器。这些高分辨率的非接触式传感器***运用于各种不同要求的高精密测量场合。从物体表面细微结构、形状及纹理粗糙度的测量分析,到工业环境下的在线质量检测、过程控制与逆向工程,及实验室研究场合的高精度设备,我们的光谱共焦传感器都成了众多客户不可或缺的选择。我们为全球各行业(可应用行业范围:玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业…等)企业提供高性能的光谱共焦位移传感器。任何材料的物体,如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等,我们的光谱共焦传感器都可轻松测量,而且对被测物体表面的颜色和光洁度也没有任何特殊要求,无论什么颜色,物体表面是漫反射或者高光面,乃至于镜面都可以轻松测量。马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器,欢迎您的来电!安徽非接触式传感器解决方案

马波斯测量科技光谱共焦传感器获得众多用户的认可。山西2D 测量传感器技术

生物医疗-人造膝关节粗糙度测量符合ISO标准25178-602,传感器适用任何反射表面机械手表特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射微流体类通过塑料或玻璃等透明层,使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点涡轮叶片特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射电池点对点厚度测量2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量;使用简单,拆装方便,扫描速度快,定位精度高重复精度±0.5~±1µm;稳定性高,抗干扰能力强膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制非接触测量,适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm,适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理山西2D 测量传感器技术

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责