上海小型测试系统

电路中采用负载电阻及差分放大电路LM343对测试点进行电压跟随，将测试点的电流值转换为A/D变换电路可以处理的电压量。选用AD7574八位逐次比较式高速A/D变换电路。转换时间为15μS，单+5V电源供电。参考电压选用VREF=-8V。输入电压范围为0~+|VREF|。程序控制芯片RD端产生一个负脉冲就可启动A/D转换。软件模块：测试仪由便携式主控计算机通过串行口进行控制，单片机测试平台的完成激励控制、数据采集等工作，所有数据分析处理及命令控制由便携式主计算机完成。整套测试软件由主控软件、数据通信软件、离线测试软件、在线功能测试软件、在线状态测试软件、VI特性测试软件、节点电压测试软件、电子手册、测试开发软件、系统自检软件等几个主要模块组成。现代功能测试系统采用先进技术、便于操作。上海小型测试系统

FrameScan电容藕合测试 FrameScan利用电容藕合探测管脚的脱开。每个器件上面有一个电容性探头，在某个管脚激励信号，电容性探头拾取信号。如图所示：1 夹具上的多路开关板选择某个器件上的电容性探头。2 测试仪内的模拟测试板（ATB）依次向每个被测管脚发出交流信号。3 电容性探头采集并缓冲被测管脚上的交流信号。4 ATB测量电容性探头拾取的交流信号。如果某个管脚与电路板的连接是正确的，就会测到信号；如果该管脚脱开，则不会有信号。GenRad类式的技术称Open Xpress。原理类似。此技术夹具需要传感器和其他硬件，测试成本稍高。上海功能测试系统设备现代化的测试手段：功能测试系统融合了现代科技，为电子设备提供更为精确、快速的检测。

在上电路中，因R1、R2的连接分流，使Ix笽ref ，Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时，只要使G与F点同电位，R2中无电流流过，仍然有Ix=Iref，Rx的等式不变。将G点接地，因F点虚地，两点电位相等，则可实现隔离。实际实用时，通过一个隔离运算放大器使G与F等电位。ICT测试仪可提供很多个隔离点，消除外围电路对测试的影响。IC的测试 对数字IC，采用Vector（向量）测试。向量测试类似于真值表测量，激励输入向量，测量输出向量，通过实际逻辑功能测试判断器件的好坏。如:与非门的测试对模拟IC的测试，可根据IC实际功能激励电压、电流，测量对应输出，当作功能块测试。

测试对象的功能测试应侧重于所有可直接追踪到用例或业务功能和业务规则的测试需求。这种测试的目标是核实数据的接受、处理和检索是否正确，以及业务规则的实施是否恰当。测试目标 确保测试的业务功能正常，其中包导航性质菜单，数据输入，处理和检索等功能。功能系统测试，根据产品特性、操作描述和用户方案，测试一个产品的特性和可操作行为以确定它们满足设计需求。本地化软件的功能测试，用于验证应用程序或网站对目标用户能正确工作。功能测试系统普遍用于电子产品的功能性验证。

电路，测试电路主要包括传感器和变换器、信号调理装置、数据采集设备、负载模拟器等，传感器和变换器测量不同的物理量，并将它们变换为电信号；信号调理主要对电信号进行加工，使其符合采集设备的要求；模拟器仿真UUT的真实负载，为其提供工作环境。传感器和变换器的种类很多，它们直接与各种物理量相关联，并将这些物理量转换为采集设备可以采集的电信号。在设计测试电路前必须对被测对象和测量需求做详细分析，正确选择相应的传感器和变换器。信号调理设备对传感器和变换器送来的信号采取放大、滤波、隔离等措施，将它们转化为采集设备易于读取的信号。集成功能测试系统可同时测试多个功能。台州功能测试系统供应商

模块化设计：功能测试系统采用模块化设计，方便用户根据需求进行组合和升级。上海小型测试系统

在不同的技术领域里,测试内容、要求、条件和自动测试系统各不相同，但都是利用计算机代替人的测试活动。一般自动测试系统包括控制器、激励源、测量仪表(或传感器)、开关系统、人机接口和被测单元－机器接口等部分。① 控制器，一般是小型计算机、微型计算机或计算器(即专门使用母线控制器)。控制器应有测试程序软件，用来管理测试过程,控制数据流，接受测量结果,处理数据，检验读数误差，完成计算，并将结果送到显示器或打印机。② 激励源，即信号源，它向被测单元提供输入信号。它可以是电源、函数发生器、数模转换器、频率合成器等。上海小型测试系统