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衍射仪也称X射线发生器、探测器X射线发生器，是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。衍射仪的进展主要在三个方面：1、X射线发生器，2、探测器，3、衍射几何与光路。X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。探测器是用来记录衍射谱的，因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射线会透过而不被吸收；它的计数线性范围不大，强衍射不易测准；而且，还会起“雾”；又由于要有暗室用化学法进行显影、定影、冲洗、晒干等一套繁琐的过程，因此被性能更好的光子计数器所取代。计数器探测器不需化学处理，可以通过电子电路直接记录衍射的光子数，方便了许多。较早的计数器是盖格计数器，但由于它的时间分辨率不高，计数的线性范围不大，故不是一个良好的探测器。以后，正比计数器及闪烁计数器取代了盖格计数器，成为普遍使用的探测器。X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。上海奥林巴斯XRD批发价格

X射线衍射分析是利用晶体形成的X射线衍射，对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时，X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射，散射的X射线在某些方向上相位得到加强，从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。衍射X射线满足布拉格（W.L.Bragg）方程：2dsinθ=nλ式中：λ是X射线的波长；θ是衍射角；d是结晶面间隔；n是整数。波长λ可用已知的X射线衍射角测定，进而求得面间隔，即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照，即可确定试样结晶的物质结构，此即定性分析。从衍射X射线强度的比较，可进行定量分析。常州衍射仪生产厂家X射线衍射即XRD，通过对材料进行X射线衍射。

多晶X射线衍射仪，也称粉末衍射仪，通常用于测量粉末、多晶体金属或者高聚物块体材料等。主要由四个部分构成：1) X射线发生器(产生X射线的装置);2)测角仪(测量角度2θ的装置);3) X射线探测器(测量X射线强度的计数装置);4) X射线系统控制装置(数据采集系统和各种电气系统、保护系统等).另外：测角仪（包括狭缝系统）、探测器等都是X射线衍射仪中非常关键的组成部分X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及保护电路等组成。这里着重介绍X射线管。X射线管的实质是个真空二极管，其阴极是钨丝，阳极为金属片。在阴极两端加上电流之后，钨丝发热，产生热辐射电子。这些电子在高压电场作用下被加速，轰击阳极（又称靶），产生X射线（此过程产生大量热量，为了保护靶材，必须确保循环水系统工作正常）。

X射线单晶体衍仪器基本公式： 由于晶体中原子是周期排列的，其周期性可用点阵表示。而一个三维点阵可简单地用一个由八个相邻点构成的平行六面体（称晶胞）在三维方向重复得到。一个晶胞形状由它的三个边（a,b,c）及它们间的夹角（γ，α，β）所规定，这六个参数称点阵参数或晶胞参数。这样一个三维点阵也可以看成是许多相同的平面点阵平行等距排列而成的，这样一族平面点阵称为一个平面点阵族，常用符号HKL（HKL为整数）来表示。一个三维空间点阵划分为平面点阵族的方式是很多的，其平面点阵的构造和面间距d可以是不同的。晶体结构的周期性就可以由这一组dHKL来表示。XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。

X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构，织构及应力，精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。普遍应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。基本构造:X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。高稳定度X射线源：提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有特用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。上海泽权衍射仪安心售后。欢迎来电咨询上海泽权！常州衍射仪生产厂家

便携式X射线衍射仪是一种用于土木建筑工程领域的物理性能测试仪器。上海奥林巴斯XRD批发价格

X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题： （1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。 （2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。 （3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。 （4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。 （5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。上海奥林巴斯XRD批发价格