天津偏光金相显微镜分析仪器
金相显微镜的使用、注意事项及维护:使用说明:观察前原则上要装上各个物镜。在装上或除下物镜时,须把载物台升起,以免碰触透镜。如选用某种放大倍率,可参照总倍率表来选择目镜和物镜;试样放上载物台时,使被观察表面复置在载物台当中,如果是小试样,可用弹簧压片把它压紧;使用低倍物镜观察调焦时,注意避免镜头与试样撞击,可从侧面注视接物镜,将载物台尽量下移,直至镜头几乎与试样接触(但切不可接触),再从目镜中观察。此时应先用粗调节手轮调节至初见物像,再改用细调节手轮调节至物像十分清楚为止。切不可用力过猛,以免损坏镜头,影响物像观察。正置透反射金相显微镜,主要用于鉴别和分析材料的内部结构和组织,为显微观察和测量的重要工具。天津偏光金相显微镜分析仪器
正置金相显微镜和倒置金相显微镜应用区别:倒置金相显微镜,由于试样观察面向下与工作台表面重合,观察物镜位于工作台的下面,向上观察,这种观察形式不受试样高度的限制,在制备试样时只要一个观察面平整,因此工厂实验室、科研机构院校教学普遍选用。倒置金相显微镜底座支承面积较大,重心较低,安全平稳可靠,目镜与支承面呈45℃倾斜,观察舒适。正置金相显微镜具有和倒置金相显微镜同样的基本功能,除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,因为符合人的日常习惯,因此更普遍的应用于透明,半透明或不透明物质。正置金相显微镜在观察时成像为正像,这对使用者的观察与辨别带来了极大的方便。除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外,大于3微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。重庆偏光金相显微镜制造厂商 明、暗场、偏光正置金相显微镜,适用于工矿企业、高等院校及科研等机构作材料内部组织结构分析。
金相显微镜断口分析技术,断口的起伏形貌使得金相显微镜下的图象很难完全聚焦,也就是说,在金相显微镜下只能取得较小区域的清晰图象。为了克服这个缺点,可用x400的光学显微境下选取视野的极小区域拍摄聚熊照片,然后将这些同的视野照片中的聚焦部分剪切下免再把这些照片按照各个部纪的相对位置贴接成一张图象。这种方法比较繁耽但是从扩大光学显微镜的用途来看,还是可取的。特别是对于那些目前还不具备电镜的单位来说,更有实际意义。另——种光学显微镜是双筒立体显微镜,它通常使用的倍率为×l一×100,并且立体感强,可配照相设备。
金相显微镜主要用途如下:绘图——可以在计算机显示器上很方便地观察金相图像,并对金相图谱进行分析,评级等。结合光学影像量测系统,对工件进行高度的光学量测,并可以以EXCEL、WORD、TXT格式输出做数据分析,并可以用DFX格式输出在CAD中进行工程图的设计;测量——可测量平面上的任何几何图形之尺寸(角度、长度、直径、半径、点到线的距离、圆的偏心、两圆间距等);标注——可在实时影像中的实际工件上标注各种几何尺寸;拍照——可拍下实物,包括所标注的尺寸。体视显微镜,防静电功能:架台、变倍镜筒、10X目镜、辅助物镜等都具有防静电功能。
电子显微镜与金相显微镜,光源不同:金相显微镜采用可见光作为光源,扫描电镜采用电子束作为光源成像;原理不同:金相显微镜利用几何光学成像原理进行成像,扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面,激发出样品表面的各种物理信号,再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息;分辨率不同:金相显微镜因为光的干涉与衍射作用,分辨率只能局限于0.2-0.5um之间。扫描电镜因为采用电子束作为光源,其分辨率可达到1-3nm之间,因此金相显微镜的组织观察属于微米级分析,扫描电镜的组织观测属于纳米级分析;景深不同:一般金相显微镜的景深在2-3um之间,因此对样品的表面光滑程度具有*的要求,所以其的制样过程相对比较复杂。而扫描电镜则有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构。高级正置金相显微镜,操作机构根据人机工程学设计,较大限度减轻使用疲劳。天津正置金相显微镜性价比高
体视显微镜,是国产显微镜中比较好的显微镜,为日本NIKON提供OEM生产。天津偏光金相显微镜分析仪器
倒置金相显微镜构造,主要分为三部分:机械部分、照明部分和光学部分。机械部:镜座:是显微镜的底座,用以支持整个镜体;镜柱:是镜座上面直立的部分,用以连接镜座和镜臂;镜臂:一端连于镜柱,一端连于镜筒,是取放显微镜时手握部位;镜筒:连在镜臂的前上方,镜筒上端装有目镜,下端装有物镜转换器;物镜转换器(旋转器):接于棱镜壳的下方,可自由转动,盘上有3-4个圆孔,是安装物镜部位,转动转换器,可以调换不同倍数的物镜,当听到碰叩声时,方可进行观察,此时物镜光轴恰好对准通光孔中心,光路接通;天津偏光金相显微镜分析仪器
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