云南纳米粒度分析仪哪家好

时间:2023年03月12日 来源:

CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展,电子器件尺寸缩小,要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分,其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分重要。CMP过程中使用的磨料颗粒典型尺寸范围是10-200nm,其颗粒表征要求精确地确定纳米级颗粒的尺寸,因此高分辨率纳米粒度分析仪是磨料颗粒表征的完美解决方案。磨料对CMP工艺起着至关重要的作用!欢迎选用CPS纳米粒度分析仪为您完美解决磨料颗粒问题!选择驰光,就是选择质量、真诚和未来。云南纳米粒度分析仪哪家好

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低维护配置允许安装分析仪在常压下将样品返回的合适位置,进一步减少维护需求。C-Quand在线EDXRF分析仪的优势:1.带有十五个测量通道,可以同时分析15种元素的含量。2.没有运动部件,不需要更换动力窗模块。3.运行维护成本低,无后期耗材成本。4.维护操作简单,带有全自动样品池清洗模块,每次维护时间多数十分钟,宕机时间短。5.内置标准样品,不需要停机校准,实现真正的完全在线测量。6.测量结果不受样品密度和原料种类影响,直接测量元素含量。云南纳米粒度分析仪哪家好驰光机电科技有限公司愿和各界朋友真诚合作一同开拓。

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EyeTec浓度测量:除了颗粒大小,激光和颗粒交互产生的信号可以提供非常有用的颗粒浓度信息。EyeTech记录全部的交互信号。因为旋转的激光的检测范围是一定的,所以颗粒浓度可以计算出来。了解颗粒数据库系统:可通过鼠标点击调出每个已检测颗粒的详细数据信息,包括图像、图形和参数;颗粒数量无限制;颗粒信息易于输出至Excel进行进一步处理;提供颗粒信息数据库,数据挖掘便于分析对比和统计。动态粒形分析的形状和粒径相关数据可提供关于单个颗粒丰富的信息。

测量低密度颗粒:示差沉降法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度的颗粒,CPS开发了一项新的技术技术(US Patent5,786,898)。很多用常规示差沉降法很难或者不可能分析的材料(例如油乳液、蜡乳液、粘性乳液或脂质体),现在可以方便地使用CPS进行分析,而且精度很高。速度调节:CPS开发了一种特殊的圆盘设计使得在分析过程中可以调节圆盘的转速,而不会对沉降液体产生扰动,转速可以在20倍范围内升高或者降低,这样一来就使得分析的动态范围几乎增大了20倍。驰光机电倾城服务,确保产品质量无后顾之忧。

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印刷和涂料,涂料:水基和油基涂料,微纤维涂料粘度改性剂,打印机/复印件墨粉,喷墨打印机墨水,炭黑,磁性材料。半导体:微磨料,CMP化学机械抛光。其他:纳米微球,淀粉/面粉颗粒,颗粒团聚模式分析,标准颗粒。CPS纳米粒度分析仪的操作软件集数据于一体,主要包括以下特性:后台数据采集,允许测量时浏览数据;重量,表面积,数量和吸收分布图;可以在同一张图表上显示20个不同的分布结果;可定制的分布统计输出结果;完整的粒度分布统计。驰光机电生产的产品受到用户的一致称赞。湖北高灵敏度纳米粒度分析仪

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CPS纳米粒度仪测量金刚石的粒径:金刚石微粉是指颗粒度细于36/54微米的金刚石颗粒,金刚石微粉硬度高、耐磨性好。大量用于机械、航天、光学仪器、玻璃、陶瓷、电子、石油、地质、工业部门,用于制作PCD(聚晶金刚石)、 PDC(金刚石复合片)、陶瓷结合剂、金属结合剂、电镀产品;制作拉丝模、电镀磨具,陶瓷、金属结合剂磨具等;制造金刚石树脂结合剂弹性磨块等;用于精密机械、光学玻璃、精细陶瓷、宝石及半导体等产品的研磨抛光。CPS纳米粒度分析仪测量金刚石微粉的粒径。云南纳米粒度分析仪哪家好

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