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SPM5000高精度快速光谱仪用于教育灯具测量，各种场所需要选择不同的色温，配光人员已在使用一套标准的配光方法，学校一般选用白光，白光正好是正午的光线，光源接近自然光，有明亮的感觉，使人精力集中及不容易睡着，在5000K色温学习环境中学习，提高学生的专注力。比较好推荐色温：教室照明光源选择时，应选用4000K左右中等色温的荧光灯，LED为主光源。教室照明应避免色温与光照组合。在此基础上，不考虑色温，盲目提高教室平均照度，不但不能改善光环境，反而会降低学生的学习效率，影响他们的健康。SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足一般显色指数Ra的测量。中山光谱仪欢迎咨询

SPM5000高精度快速光谱仪与TR-200光学透过率测试装置、直流电源组成灯具外壳光学透过率的测量系统。可以模拟得到加上指定外壳后灯具的色温，色品坐标、光通量、光效等等一系列光色电参数。灯具外壳光学透过率的测量系统是您选择合适的外壳、漫射罩壳的理想工具，也是您进行灯具光色设计的好帮手。波长范围380-800nm(可定制)。灯具外壳光学透过率的测量系统可以测得透明材料的光谱透过率曲线、通过叠加已测得的无外壳发光光源的光谱，深圳光谱仪推荐咨询SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足DF的测量。

SPM-5000高精度快速光谱仪组成IMS-2021植物生长灯光电综合测试系统。参考标准：CIE 84:1989 ；CIE 13.3:1995 ； GB/T 24824:2009 普通照明用LED模块测试方法；QB/T 2944-2008 植物生长用荧光灯；ANSI/ASABE S640 Quantities and Units of Electromagnetic Radiation for Plants;IES LM-79-19 Approved Method: Optical and Electrical Measurements of SSL Products;CSA 021-2013植物生长用LED平板灯 性能要求;CSA032-2016植物光照用LED灯具通用技术规范;GB/T 32655-2016 植物生长用LED光照 术语和定义;DLC Horticultural Lighting Resources_Measurement;

SPM-5000高精度快速光谱仪用于植物灯测试之《光质、光量、光周期与LED植物灯的极限参数》：光质LQ（LightQuality），是在一定的波长范围内的光谱形态，无单位。光量LI（LightIntensity），是表示光质所能辐射的光子数量，既可以用光子流量表示，也可以用光子密度表示，单位：PPF（YPF）或者PPFD（YPFD）。光周期PP（PhotoPeriod），表示在一个自然日内，植物灯开灯的时间总和，单位：小时；植物灯光谱形态确定后，对应于这种光谱形态的YPF或PPF就可以计算出来，这对评估LED植物灯的应用非常重要，也是LED植物灯与其他类型的植物灯性能比较的主要方法。以辐射效率40%为例：波长445nm，PPF/w=1.538，波长660nm，PPF/w=2.19，3000k白光，YPF/w=1.99，蓝光+红粉，YPF/w=2.133红蓝光，PPF/w=2.12。目前的LED封装技术批量供货的比较高辐射效率低于40%。目前LED植物灯的PPF/w值小于2，基本上在1.6-1.8之间。目前农用钠灯的PPF/w值2.0-2.2之间。SPM-5000高精度快速光谱仪采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术，光路设计独特，杂散光极低。

SPM-5000高精度快速光谱仪与1.5m及以上积分球，交直流电源，数字功率计，标准灯，标准机柜组成IMS-2020光色电综合测试系统。满足GB/T 5702-2019 ,GB/T 7922-2008,IESNA LM-79-08,ANSI C78.377,IESNA TM-30,美国能源之星Lamps V2.1等标准的测试要求，适用于实验室或研究机构。主要用于测量LED背光源，LED模组，LED灯条，卤素灯，节能灯等的相对光谱功率分布，光通量(配1.5m/2m/2.5m积分球)，光效，(EU)2019/2015 EEI能效等级，辐射功率，CIE色温，CIE色品坐标，CIE色纯度，红色比，色容差SDCM(含国际和国内标准)，峰值波长，主波长，峰值半宽度，显色指数CRI，CQS，TM-30-18，Ponmax，电学参数等。SPM-5000高精度快速光谱仪可用于校园教室教育照明检测。福州光谱仪设计

IMS-2021植物生长灯光电综合测试系统QB/T 2944-2008 植物生长用荧光灯。中山光谱仪欢迎咨询

SPM-5000高精度快速光谱仪采用全息凹面光栅分光技术，光路设计独特，杂散光极低。测试准确度及重复性好。目前市场上大多数光谱仪制造商所提供的快速CCD光谱仪分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合，会产生极大的杂散光，对测量结果影响很大。翊明科技为了克服以上问题，公司采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计，通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的，只需一个光学元件，很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光，使光学匹配更完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的效果。中山光谱仪欢迎咨询

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