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IC芯片直流工作电压测量：这是一种在通电情况下，用万用表直流电压挡对直流供电电压、外层元件的工作电压进行测量；检测IC各引脚对地直流电压值，并与正常值相比较，进而压缩故障范围，出损坏的元件。测量时要注意以下：万用表要有足够大的内阻，少要大于被测电路电阻的10倍以上，以免造成较大的测量误差。通常把各电位器旋到中间位置，如果是电视机，信号源要采用标准彩条信号发生器。表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏IC。ic芯片厂家对于芯片的生产、制作都有极大的支持，因此生产的效率是很值得信赖的。TJA1021TK/20/C库存充足

IC芯片检测需要应用的设备主要是自动测试设备【ATE】+机械臂【Handler】+仪器仪表，需要制作的硬件是测试板【Loadboard】+测试插座【Socket】等。系统级SLT测试，常应用于功能测试、性能测试和可靠性测试中，常常作为成品FT测试的补充而存在，顾名思义就是在一个系统环境下进行测试，就是把芯片放到它正常工作的环境中运行功能来检测其好坏，缺点是只能覆盖一部分的功能，覆盖率较低所以一般是FT的补充手段。需要应用的设备主要是机械臂【Handler】，需要制作的硬件是系统板【SystemBoard】+测试插座【Socket】。TJA1021TK/20/C库存充足IC芯片对照法：找一块相同内容的好电脑板对照测量相应IC的引脚波型和其数来确认的IC是否损坏。

IC芯片可靠性测试，芯片通过了功能与性能测试，得到了好的芯片，但是芯片会不会被冬天里讨厌的静电弄坏，在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作，以及芯片能用一个月、一年还是十年等等，这些都要通过可靠性测试进行评估。板级测试，主要应用于功能测试，使用PCB板+芯片搭建一个“模拟”的芯片工作环境，把芯片的接口都引出，检测芯片的功能，或者在各种严苛环境下看芯片能否正常工作。需要应用的设备主要是仪器仪表，需要制作的主要是EVB评估板。晶圆CP测试，常应用于功能测试与性能测试中，了解芯片功能是否正常，以及筛掉芯片晶圆中的故障芯片。

IC芯片检测时万用表置于交流电压挡，正表笔插入db插孔；对于无插孔的万用表，需要在正表笔串接一只0.1～0.5μｆ隔直电容。该法适用于工作频率较低的ic，如电视机的视频放大级、场扫描电路等。由于这些电路的固有频率不同，波形不同，所以所测的数据是近似值，只能供参考。总电流测量法：该法是通过检测IC电源进线的总电流，来判IC好坏的一种方法。由于IC内部绝大多数为直接耦合，IC损坏时（如某一个pn结击穿或开路）会引起后级饱和与截止，使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断IC的好坏。ic芯片是一种特别型号的技术研究成果。

若IC芯片各引脚电压正常，则一般认为ic正常；若ic部分引脚电压异常，则应从偏离正常值较大处入手，检查外层元件有无故障，若无故障，则ic很可能损坏。对于动态接收装置，如电视机，在有无信号时，ic各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大，该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化，就可确定ic损坏。对于多种工作方式的装置，如录像机，在不同工作方式下，ic各引脚电压也是不同的。交流工作电压测量法：为了掌握ic交流信号的变化情况，可以用带有插孔的万用表对ic的交流工作电压进行近似测量。ic芯片的采购帮助企业更好的认识不同的生产厂商，能够注意的它们之间的不同。TJA1021TK/20/C库存充足

ic芯片是比较拥有技术含量的芯片。TJA1021TK/20/C库存充足

IC芯片用途-更加方便应用：一种功能对应一种电路，将一种功能集中成一个集成电路，如此一来，在以后应用中，要什么功能就可以应用相应的集成电路，从而方便了应用。集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗和高可靠性方面迈进了一大步。它的英文（integratedcircuit）用字母“IC”表示。TJA1021TK/20/C库存充足

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