上海顺序式X荧光光谱仪鉴定规程

X荧光光谱仪技术原理：受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关。因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。X荧光光谱仪的购买要认准正规公司。上海顺序式X荧光光谱仪鉴定规程

X射线荧光光谱仪的选择程序是什么？(1)对同一台X射线荧光光谱仪、设备，应同时选择3～5家生产企业，进行对比、考察。每次考察归来，考察负责人要向主管中心递交有明确结论的考察报告，并凭经主管中心主任签字的报告作为报销差旅费的依据。(2)用同一张图纸和同一样的技术要求向所选择的X射线荧光光谱仪、设备生产厂家发出采购投标邀请函，同时进行资质认证，技术认定，实物考查，现场试验；(3)本着公平公正的原则，对投标信息进行质量分析，技术确认，对满足招标要求的厂家进行对照例表，较后选择合适的X射线荧光光谱仪、设备厂家向领导汇报。重庆小型X荧光光谱仪使用便携X荧光光谱仪系统配合井下采矿和能源勘探，以及化学地层研究是进行重点扫描。

X射线荧光光谱仪使用型态：XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

X荧光光谱仪在涂镀层分析中的应用：1.贵金属、珠宝首饰，黄金分析，贵金属合金分析，珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析。2.钢铁、五金电镀，钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定。3.装饰材料：装饰涂层分析。4.电子电器：PCB印刷电路板，金手指及连接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy，RoHS指令合规检查。5.新能源/锂电，电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性能。6.微电子、半导体，贴片电子元器件、太阳能电池、焊点、高精度感应芯片、柔性线路板、磁性介质的成分检测和RoHS指令合规检查。7. 防腐涂层，涂层厚度及组分分析。手持式x荧光光谱仪检测结果准确可靠，是油品生产、研究中的不可或缺的检测设备之一。

X荧光光谱仪计数率不稳定故障分析：X荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。检查方法：在低X射线光管功率情况下，选一个KKα计数率约2000CPS的样品，测定计数率，然后用一个钾含量高的样品取代原样品，将光管调到满功率，保持2分钟，再将X射线光管功率减至原值，测量样品，如窗膜导电正常，将得到原计数率，如窗膜导电性能变差，会发现计数率减小，然后慢慢回升至初始值，这时就应调换窗膜。便携式X射线荧光光谱仪使用方便，不受时间地点的限制，使用场景多。湖北手提X荧光光谱仪采购

X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。上海顺序式X荧光光谱仪鉴定规程

关于X荧光光谱分析误区避免：由于X射线荧光的能量比较大，样品被激发后，产生的特征X射线极易被吸收，而从样品中发射出来的荧光很少，也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素，不是特长，因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理，对于轻元素，如硼、碳、氮、氧等，也不要指望有多好的检出限；但对于高含量的轻元素分析，却有很高的精度。有人曾分析生铁中3%左右的碳，标准偏差不超过0.1%；分析钼铁中60%左右的钼，误差不超过0.2%；分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量，误差不超过0.3%等。而对微量元素，镁的检量限，低于0.01%，峰几乎没有了；钠，低于0.05%，峰也没了，连强度都没了还怎么测？由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析，而不适合微量元素的分析。上海顺序式X荧光光谱仪鉴定规程

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