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用x射线照射固体时，由于光电效应，原子的某一能级的电子被击出物体之外，此电子称为光电子。 如果x射线光子的能量为hν，电子在该能级上的结合能为eb，射出固体后的动能为ec，则它们之间的关系为： hν=eb+ec+ws 式中ws为功函数，它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外，还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面，即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为： eb＝hν-ec-ws 可见，当入射x射线能量一定后，若测出功函数和电子的动能，即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出，因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。淮安衍射仪品牌

衍射（diffraction）又称为绕射，波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的现象。衍射现象是波的特有现象，一切波都会发生衍射现象。 如果采用单色平行光，则衍射后将产生干涉结果。相干波在空间某处相遇后，因位相不同，相互之间产生干涉作用，引起相互加强或减弱的物理现象。 衍射的结果是产生明暗相间的衍射花纹，表示着衍射方向（角度）和强度。 x射线照射晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波．由于晶体内各原子呈周期排列，因而各原子散射波问也存在固定的位相关系而产生干涉作用，在某些方向上发生相长干涉，即形成了衍射波．由此可知，衍射的本质是晶体中各原子相干散射波叠加(合成)的结果．衍射和干涉其物理本质是一样的！！！！都是光的干涉。淮安衍射仪品牌纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

衍射仪： x射线发生器 探测器 1衍射仪进展 衍射仪的进展主要在三个方面： 1、X 射线发生器，2、探测器，3、衍射几何与光路。 x射线发生器 X射线发生器是进行X射线衍射实验所不可缺少的、重要的设备之一，其优劣会严重影响X射线衍射数据的质量。 探测器 探测器是用来记录衍射谱的，因而是多晶体衍射设备中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射线会透过而不被吸收；它的计数线性范围不大，强衍射不易测准；而且，还会起“雾”；又由于要有暗室用化学法进行显影、定影、冲洗、晒干等一套繁琐的过程，因此被性能更好的光子计数器所取代。计数器探测器不需化学处理，可以通过电子电路直接记录衍射的光子数，方便了许多。初的计数器是盖格计数器，但由于它的时间分辨率不高，计数的线性范围不大，故不是一个良好的探测器。以后，正比计数器及闪烁计数器取代了盖格计数器，成为普遍使用的探测器。随着人类对自然的认识越来越广，越来越深，对实验的要求也越来越高，越多样化，简单的正比或闪烁计数器亦不 能满足不同的实验要求，于是又陆续发展出许多不同的探测器。

X射线单晶体衍仪器要求： 基本要求 要按式⑷来求解晶体结构，就要有尽可能多的衍射的FHKL，而且其值要准确，这样所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的结构就准确。一粒小晶体衍射的X射线是射向整个空间的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的强度一般比较低，不易测得。如何在三维空间测得尽可能多的，尽可能准确的衍射线强度成为对X射线单晶体衍射仪的基本要求。 实验仪器 若将一束单色X射线射到一粒静止的单晶体上，入射线与晶粒内的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少数的晶面能符合布拉格公式而发生衍射。如何才能使各晶面族都发生衍射呢？常用的方法就是转动晶体。转动中各晶面族时刻改变着与入射线的交角，会在某个时候符合布拉格方程而产生衍射。目前常用的收集单晶体衍射数据的方法，一为回摆法，二为四圆衍射仪法。x射线粉末衍射可以判断是何种晶体物质。

X射线衍射仪技术（XRD） X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。 X射线衍射仪使用过程中应随时观察循环冷却水机组是否正常制冷，水温是否保持在≤27C。淮安衍射仪品牌

X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术。淮安衍射仪品牌

X射线衍射仪技术（XRD）注意事项： （1）固体样品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整，可以用几块粘贴一起。 （2）对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常，需提供测试方向。 （3）对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。 （4）粉末样品要求磨成320目的粒度，直径约40微米，重量大于5g。X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。淮安衍射仪品牌

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