深圳荧光光谱仪厂家有哪些

时间:2022年05月14日 来源:

X荧光光谱仪技术原理:X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X荧光光谱仪主要用途X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。深圳荧光光谱仪厂家有哪些

X射线荧光光谱仪原理就是:X射线管通过产生入射X射线,来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。天津波长型X射线荧光光谱仪使用说明X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱技术,可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。

X荧光光谱仪引起样品误差的原因:样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。样品的组分分布不均匀,样品组分的偏析、矿物效应等。样品的组成不一致 引起吸收、增有效应的差异造成的误差;被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。制样操作,在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

X荧光光谱仪技术已成功应用于环境、食物链、动植物、农产品、人体组织细胞、生物医学材料、组织细胞、医学试剂、动植物、代谢产物中的无机元素测定。X荧光光谱仪是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能t范围在0.1^-100keV的光子。X射线光谱仪与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。X射线荧光光谱仪是由物质中的组成元素产生的特征辐射,通过侧里和分析样品产生的x射线荧光,即可获知样品中的元家组成,得到物质成分的定性和定量信息。使用注意事项:仪器会产生电离辐射,在测试时确保不要将仪器对着人;不要将仪器对着空气做测试;不要用手拿着样品做测试;在运作状态时,勿打开仪器的防护盖或勿将测试仪器对准人体;每次开启仪器和每连续工作4小时,须对仪器进行校验;严禁非专门的人员操作该仪器,操作时必须按照操作步骤进行,任何错误的操作,均会导致仪器的测试结果及使用寿命。X射线荧光光谱仪会产生电离辐射,在测试时确保不要将仪器对着人。

X射线荧光光谱仪是一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪(简称:XRF光谱仪或XRF分析仪),也是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素之内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析,特别是在研究金属,玻璃,陶瓷和建筑材料,以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管(EURoHS)和考古学等领域,在某种程度上与原子吸收光谱仪互补,减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。X射线荧光光谱仪是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。天津波长型X射线荧光光谱仪使用说明

在X荧光光谱仪X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。深圳荧光光谱仪厂家有哪些

X射线荧光光谱仪(以下简称XRF)是一种可以对多种元素进行快速、非破坏性测定的仪器,其工作原理可表述为:待测样品受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(K、L或M壳层)电子被激发逐出原子而引起壳外电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线(荧光);通过测定特征X射线的波长(或能量)和强度,即可进行待测元素的定性和定量分析的光谱分析仪器。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行定性和定量分析。深圳荧光光谱仪厂家有哪些

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