北京顺序式光谱仪厂家价格

X射线荧光光谱仪测试样品要求：通常的定性半定量分析中X射线荧光光谱分析对测试样品有以下要求：这要求测试样品需要是均匀的，因为X射线荧光光谱分析区域体现出来的均匀性取决于材料受仪器激发的体积内样品的物理均匀性。例如尺寸合适的金属合金、塑料壳就可以看作是一个均匀的样品。对于不均匀的样品，我们需要经过处理后再进行分析，例如矿物或地质样品需要经过研磨成粉末后压片处理。有一定尺寸和厚度，X射线荧光光谱分析要求所测试的样品要完全覆盖光谱的测试窗口。覆盖不只只是指样品的测试平面宽度，还有样品的厚度要大于分析层（产生X射线荧光）的厚度，比如聚合物和轻金属如Al、Mg或Ti较小厚度要求5mm，液体厚度较小15mm，其它合金厚度较小1mm，需要压片处理的粉末样品一般4g以上。X射线荧光光谱仪是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。北京顺序式光谱仪厂家价格

X荧光光谱仪的原理：X射线是一种电磁波，波长比紫外线还要短，为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后，从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线，X荧光光谱仪使用的是通过对第一种荧光X射线的测定，从物质中获取元素信息（成分和膜厚）的荧光X射线法原理。物质受到X射线的照射时，发生元素所固有的X射线（固有X射线或者特征X射线）。荧光X射线装置就是通过对该X射线的检测而获取元素信息。通常人们将X光管所产生的X射线称为初级X射线。以初级X射线为激发光源照射试样，激发态试样所释放的能量不为原子内部吸收而以辐射形式发出次级X射线，这便是X射线荧光由于各种元素发射具有特定波长（或能量）的标识X射线,可利用锂漂移、硅半导体等不同探测器及能谱分析仪来确定元素的种类。而标识谱线强度可用来确定元素含量。北京顺序式光谱仪厂家价格X荧光光谱仪内置工作曲线，客户使用时无需各种标准物质。

X射线荧光光谱仪是一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪（简称：XRF光谱仪或XRF分析仪），也是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被普遍用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象普遍用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

如果对样品不甚了解，请不要将未处理的样品直接采用X荧光光谱分析，否则可能对你仪器造成致命的伤害。例如样品中含有挥发性酸，如盐酸、醋酸（样品夹杂测量中，样品用酸处理，挥发不干净）等，这些样品一旦进入仪器内部在抽真空时，挥发到晶体、X光管、探测器等，都会都会造成致命的伤害；如果环境酸性物质多，也同样会造成仪器的损伤。还有1个就是水分，样品未经过烘干处理，带有水分进入仪器，也会挥发，日积月累也会腐蚀仪器，如有些用户，仪器没使几年，光管铍窗破了；晶体潮解了；探测器窗口破了等问题，其中有些就是用户没有注意样品存在的危险性，如炉渣中的硫化物，都能闻到刺鼻气味，还压片分析，岂不知对仪器的伤害有多严重。X荧光光谱仪可以通过对陶瓷器的胎、彩、釉分别取点检查，分析出的微量元素结果。

X射线荧光光谱仪是一种可以实现快速对多元素进行同时测定的设备。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)，由于不同元素具有不同波长的特征X射线，从而实现定性分析，同时利用特征X射线荧光强度与元素浓度的正向关系，可以实现定量或半定量分析。它具有分析速度快、不破坏样品组分、检测范围广、结果稳定可靠等优点，被普遍应用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、考古等诸多领域。其测试的样品一般需要通过制样的步骤，以便得到一种能表征样品的整体组分并为仪器测试的试样。试样应具备一定尺寸和厚度，表面平整，可放入仪器专门使用的样品盒，同时要求制样过程具有良好的重现性。定量分析需要将样品和助溶剂按照一定的比例熔融成成分均一的熔片，以保证测试结果的稳定性和重现性。X荧光光谱仪的波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。北京顺序式光谱仪厂家价格

X荧光光谱分析仪能够直观的分析图谱，元素分布一目了然。北京顺序式光谱仪厂家价格

X荧光光谱仪操作时注意事项：不要直接分析低熔点样品，如低熔点沥青、苯酚、油漆等，有些样品在室温下是固体，经射线照射会融化，如果滴到光管头上，会损坏仪器。如果要分析，请放在液体杯内测量。分析液体样品和粉末样品时，必须在氦气模式下测量，不能抽真空。不要长时间分析液体样品，液体杯的照射时间一般不能超过半小时。不要分析压得不坚实的样品，如有裂纹的压片。如果大块样品掉到了样品室，立刻停止样品分析。X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也普遍。北京顺序式光谱仪厂家价格

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