杭州开放式荧光寿命成像使用方法
市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法,两者在本质上是相通的,测量精度相近,频域技术是时域法的傅里叶变换的延伸。时域和频域技术在各种显微寿命成像平台中都有应用,时间相关单光子计数方法(TCSPC )是常见的时域技术,而新兴的数字频域技术(FastFLIM™ )则取代了传统的模拟频域技术,凭借其独恃的优势成为应用广的频域技术。荧光寿命成像主要通过TCSPC技术(Time-Correlated Single Photon Counting)实现。由于TCSPC系统,一个激光脉冲只采集一个光子信号,所以激光器的重复频率决定了系统的数据采集速度。重频越高,采集速度越快,数据信噪比越好。荧光寿命可以在频域或者时间域测量。杭州开放式荧光寿命成像使用方法
荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性,使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。湖南生物荧光寿命成像将荧光寿命成像与共聚焦成像技术结合起来,实现人体三维荧光寿命成像,实现人体三维功能成像奠定基础。
荧光寿命成像或FLIM是基于荧光样品中不同区域的荧光的指数衰减速率的差异。由τ决定荧光寿命成像的每个像素的强度,这使研究人员可以查看具有不同荧光衰减率的材料之间的对比度,还可以产生显示其他衰减路径变化的图像。可以通过使用脉冲源在时域中确定荧光寿命。当荧光物质被超短脉冲激发时,时间分辨的荧光将呈指数衰减。时间相关单光子计数(tcspc)通常被用作荧光寿命的测量方法,因为它补偿了在源强度和单光子的脉冲幅度的变化。更具体地说,TCSPC由单个光子雪崩光电二极管(SPAD)记录相对于激发激光脉冲的单个光子的寿命。重复记录多个激光脉冲,并在记录了足够多的事件后,研究人员能够建立所有这些记录的时间点上事件数量的直方图。然后,可以将该直方图拟合到的指数寿命衰减函数的指数函数,并且可以相应地提取寿命参数。
作为荧光成像中除光谱和强度之外的新维度,当前,荧光寿命成像主要应用领域包括:用于样品分离,如利用不同染料荧光寿命的差异将不同组织、正常与病变细胞等有效分离。荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布,具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。通过双光子激发可以直接检测荧光和时间分辨的荧光寿命。这种无损检测技术,无需解剖或专门制造分层样品,不但可在样品表面,还可在样品表面以下实现深度解析测量。特别适用于新材料、光子学、光伏、光催化、生物材料、纳米材料和纳米复合材料以及其相关的原理探究和设计优化。荧光寿命成像提供了寿命分布的二维图形视图。
荧光寿命成像技术实时监控纳米颗粒在细胞内的稳定性:利用荧光寿命成像显微镜技术可实现可以实时监控发光纳米颗粒在活细胞内的稳定性。荧光寿命成像不但具有其它荧光显微镜所具有的高灵敏度、可检测人体生物样品等优点,它在监控荧光纳米材料的稳定性上还具有以下几个优势:(1)荧光寿命不受荧光探针的浓度的影响,可排除纳米材料的胞吐及细胞分化导致的纳米颗粒的稀释等对测量的影响;(2)很多常见的发光材料的荧光寿命都远远大于细胞的自荧光的寿命,很易去除生物自荧光对荧光成像的干扰;(3)发光材料的荧光寿命和其材料的稳定性密切相关,荧光寿命的改变可以灵敏地反映相应材料的化学稳定性。时域和频域技术在各种荧光显微寿命成像平台中都有应用。杭州开放式荧光寿命成像使用方法
荧光寿命成像(FLIM)可用于测量分子环境参数。杭州开放式荧光寿命成像使用方法
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