深圳红外荧光寿命成像使用步骤

荧光寿命成像中的荧光寿命及其含义：假定一个无限窄的脉冲光(δ函数)激发n0个荧光分子到其激发态，处于激发态的分子将通过辐射或非辐射跃迁返回基态。假定两种衰减跃迁速率分别为Γ和knr，则激发态衰减速率可表示为：其中n(t)表示时间t时激发态分子的数目，由此可得到激发态物种的单指数衰减方程。荧光寿命定义为衰减总速率的倒数：荧光强度正比于衰减的激发态分子数，因此可将上式改写为：其中I0是时间为零时的荧光强度，τ为荧光寿命。也就是说荧光强度衰减到初始强度的1/e时所需要的时间就是该荧光物种在测定条件下的荧光寿命。实际上用荧光强度的对数对时间作图，直线斜率即为荧光寿命倒数的负值。荧光寿命也可以理解为荧光物种在激发态的统计平均停留时间。事实上当荧光物质被激发后有些激发态分子立即返回基态，有的甚至可以延迟到5倍于荧光寿命时才返回基态，这样就形成了实验测定的荧光强度衰减曲线。荧光寿命(FLT)是荧光团在发射光子并返回基态之前花费在激发态的时间。深圳红外荧光寿命成像使用步骤

荧光寿命可以在频域或者时间域测量。时间域测量方法涉及用短光脉冲照射样品（比色皿、细胞或组织），然后随时间测量发射强度。FLT由衰减曲线的斜率确定。有几种荧光检测方法可用于寿命测量，其中时间相关单光子计数（TCSPC）可实现简单的数据收集和增强的定量光子计数。频域方法涉及高频率入射光的正弦调制。在该方法中，发射发生在与入射光相同的频率处，并且随着激发光兼有相位延迟和振幅的变化（解调）。寿命测量不需要波长比率探针来提供众多分析物的定量测定。寿命法通过使用光谱位移探针扩展了分析物浓度范围的灵敏度。寿命测量可用于没有直接探针的分析物。包括葡萄糖、抗原或基于荧光能量转移转导机制的任何亲和力或免疫测定。江苏三维荧光寿命成像荧光寿命成像这种技术相对较新，涉及到同时在图像的每个像素处确定荧光衰减时间的空间分布。

荧光寿命成像（FLI）：这种技术相对较新，涉及到同时在图像的每个像素处确定荧光衰减时间的空间分布。它基于荧光团的荧光寿命取决于其分子环境而并非浓度的事实。它可以用于无法控制局部探针浓度的荧光显微镜中。荧光寿命成像(FLIM)可用于测量分子环境参数，通过荧光共振能量转移(FRET)进行的蛋白质相互作用，并可以通过细胞和组织的自发荧光来测量其代谢状态。分子环境参数可以通过因荧光淬灭或荧光团的构象变化而引起的寿命变化来测量。FLIM可用于多种生物应用，包括组织表面扫描、组织类型绘图、光动力治理、DNA芯片分析、皮肤成像等。

荧光寿命成像FLIM在生物学上的应用根据荧光分子种类可以分为三种：分别为自发荧光FLIM、外源分子探针FLIM和FRET-FLIM。自发荧光FLIM被普遍应用于非标记生物成像领域。所谓自发荧光，即生物细胞本身便包含荧光分子，称为内源性荧光分子团。FLIM通过对自发荧光分子团（如NAD(P)H和FAD）荧光寿命的考察，可以实现细胞代谢的监测。这种方案无需人为对样品加入荧光试剂便可以发射荧光，有效减少了荧光染料对样品的毒性、荧光分子与样品的非特异性结合及染料对生理性能的干扰影响。荧光寿命显微成像是荧光寿命测量和荧光显微技术的结合。

荧光寿命成像在生物医学研究和临床诊断应用中的许多场合都对多光谱分辨提出特殊要求，如在FRET测量中，要求能同时测量供体和受体的荧光强度随时间的衰减，多光谱分辨的荧光寿命成像提供了一种新的定量研究手段．目前，基于门控像增强器的多光谱宽场FLIM 技术一次只能获得至多两个谱段的荧光寿命图像，而基于TCSPC的多光谱分辨FLIM的成像速度又很低，这些都限制了其应用范围．目前的一个研究方向是，发展光谱分辨率高、成像速度快、价格低廉的多光谱分辨荧光寿命成像显微技术。市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法。化学荧光寿命成像好不好

荧光寿命是微环境的相对参数，不受环境吸收、样本浓度等因素影响。深圳红外荧光寿命成像使用步骤

荧光寿命成像（FLIM）的方法特别适合于体内诊断，因为它们是无创且无损的。因此，它们被普遍用于受试者的临床研究和医学检查。例如，该技术可以用于以下领域：皮肤的体内诊断：人类皮肤的多光子扩散层析成像结合了双光子激发和非解扫检测，因此，多光子FLIM可以提供组织层的光学切片图像，深度可达100 µm。人皮肤细胞的体内双光子成像是可能的，而不会损害组织的活力，可以从亚细胞分辨率重建三维结构。眼科检查：眼科FLIM结合了快速光束扫描和皮秒二极管激光器激发的功能。该方法非常灵敏，可以记录人眼眼底（背景）的寿命图像。通过这种方式，有可能及早发现眼部疾病，因为这些疾病通常伴随着眼底的代谢变化。反过来，这些引起内源性荧光团的荧光衰减参数的变化。深圳红外荧光寿命成像使用步骤

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