浙江化学荧光寿命成像价格表

门控探测法适用于单组分荧光强度衰减的测量和荧光寿命成像。荧光寿命可通过在两个不同延迟时刻开启的相同宽度的门内记录的荧光强度信息求得，通常情形下，在条件允许的情况下，采用多门控探测，即选取多个窗口获取多幅图像（通常为5~10幅）来反演寿命图像。一般使用门控微通道板像增强器（MCP Intensifier）或者增强型CCD（Intensified CCD）相机，实现样品的宽场（full-field）荧光寿命成像。通过在样品受到超短光脉冲激发后的不同时刻（时间窗口）选通像增强器或CCD相机，获得一组荧光强度图像，然后利用公式，逐点计算出样品上各点的荧光寿命并成像。随着技术的发展，在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。浙江化学荧光寿命成像价格表

显微荧光寿命成像应用：材料科学领域：宽禁带半导体等体系的少子寿命mapping 测量；量子点等用作荧光寿命成像显微镜探针；钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测；铜铟镓硒CIGS，铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测；镧系上转换纳米颗粒；GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究；生命科学领域：细胞体自身荧光寿命分析；自身荧光相对荧光标记的有效区分；活细胞内水介质的PH 值测量；局部氧气浓度测量；具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分；活细胞内钙浓度测量；时间分辨共振能量转移（FRET）：纳米级尺度上的远差测量，环境敏感的FRET 探针定量测量；代谢成像：NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像。深圳动物荧光寿命成像售价荧光寿命成像技术有两种：时间域和频率域。

荧光寿命是荧光基团在通过发射荧光光子返回基态之前在其激发态下保持平均多长时间的量度。不同荧光基团激发态停时间不同，大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。荧光寿命检测经典方法为点对点的时间相关单光子计数（TCSPC），但由于过去检测硬件的局限和复杂的使用而没有被普遍地应用于科学研究。随着技术的发展，在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。荧光寿命成像提供了寿命分布的二维图形视图。该图形视图使任何观察者都能快速区分和分离FLIM图像中的不同寿命种群。相量FLIM分布的解释很简单。因为每个物种都有特定的相量，所以可以在单个像素内解析多个分子物种。相量图如何生成？当使用时间分辨单光子计数（TCSPC）系统获取数据时，相量FLIM分布是从傅立叶变换中得出的（Digman等，2008）。图像中的每个像素对应于相量图中的一个点。

荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅（即检测到的光子数）。由于FRET减少了供体寿命，因此如果无FRET的供体寿命已知，就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此，FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性，因此对其他不利影响（如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平）具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性，使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。测量荧光寿命需要极快响应时间的探测器。

荧光寿命成像分析：荧光寿命是用于几种生物测定的稳健参数。它有可能替代传统的测量技术，如吸收法、冷光法或荧光强度法3。荧光团物理化学环境的任何变化都会导致荧光寿命的改变。可通过各种机制来研发基于寿命的分析，例如简单的结合测定，涉及到两个组分的结合（一个被荧光标记）而引起FLT的变化。另一种机制是猝灭释放型测定，涉及大量过量存在的猝灭物质，其具有低而有限的荧光。一旦荧光化合物被释放（通过酶促反应或与互补DNA结合），系统的寿命就会改变。FLT可与FRET（荧光共振能量转移）分析结合用于能量转移效率测量。在种类繁多的显微技术中，荧光寿命显微成像技术被普遍地应用于生物学研究及临床诊断等领域。湖南三维荧光寿命成像使用方法

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