仪器校准激光干涉仪

激光干涉仪：从激光器发出的光束，经扩束准直后由分光镜分为两路，并分别从固定反射镜和可动反射镜反射回来会合在分光镜上而产生干涉条纹。当可动反射镜移动时，干涉条纹的光强变化由接受器中的光电转换元件和电子线路等转换为电脉冲信号，经整形、放大后输入可逆计数器计算出总脉冲数，再由电子计算机按计算式式中λ为激光波长(N为电脉冲总数)，算出可动反射镜的位移量L。使用单频激光干涉仪时，要求周围大气处于稳定状态，各种空气湍流都会引起直流电平变化而影响测量结果。激光干涉仪也是一种高精度位移传感器，可直接用于高精度、大 尺寸的动态位移测量系统。仪器校准激光干涉仪

激光干涉仪是以激光波长为长度计量基准的高精度测量仪器，随着双频激光干涉仪的出现，因其具有性能稳定、检测精度高及数据可靠性好等优点，已成为高精密机械生产中校准及补偿的标准仪器，在机械制造、金属切削加工及航空航天等领域得到了普遍的应用。激光干涉仪有单频和双频之分，单频激光干涉仪受环境因素影响较大，一般用于特定环境的实验室。双频激光干涉仪应用频率变化来测量位移，对由光强变化引起的直流电平变化不敏感，抗干扰能力强，普遍应用于各种工况下。沧州数控轴垂直度激光干涉仪品牌激光干涉仪具有快速、高准确测量的优点。

激光干涉仪在立式配置下，样品的放置，夹持和调整更方便，提高了测试效率。立式架构整机占地更小；整个干涉腔，处于稳定的框架结构下，这样对抗振要求更低，可省去昂贵和庞大的抗震平台。立式配置对于某些特殊应用的特殊优势，比如高精度曲率半径测量，大口径平面样品的拼接测量。对于很多超高精度测量，要求样品表面保持和工作状态一致的条件下测量。工业现场测试环境下，立式配置下，样品的夹持放置，更有效率，更加稳定。在某些应用场合，基于测试效率，样品夹持，测试方式或精度的要求，立式配置会更有优势。

激光干涉仪的应用：几何精度检测。可用于检测直线度、垂直度、俯仰与偏摆、平面度、平行度等。位置精度的检测及其自动补偿可检测数控机床定位精度、重复定位精度、微量位移精度等。利用激光干涉仪不只能自动测量机器的误差，而且还能通过RS232接口自动对其线性误差进行补偿，比通常的补偿方法节省了大量时间，并且避免了手工计算和手动数控键入而引起的操作者误差，同时可比较大限度地选用被测轴上的补偿点数，使机床达到比较佳精度，另外操作者无需具有机床参数及补偿方法的知识。激光干涉仪具有对光栅、磁栅、线纹尺、感应同步器等精密测量元件的检测。

激光干涉仪作为数控机床精度常用的检测工具，能对数控机床进行线性测量、直线度测量、平面度测量、角度测量、回转轴分度精度等进行测量。其中线性测量功能通过机床运行一段直线插补程序，能检测线性坐标轴的定位精度、重复定位精度，反向间隙等。以我司生产的型号XL-80激光干涉仪为例，其线性测长精度可达到±0.5ppm(0~40℃)，线性测量比较长可以达到80m，比较高线性测长分辨率0.001μm，比较高测量速度240m/min。激光干涉仪以光波为载体，具有测量精度高、测量速度快、测量范围大、Zgao测速下分辨率高等特点，其光波波长可直接对米进行定义并溯源至国家标准。因此，激光干涉仪普遍应用于数控机床、PCB钻孔机、坐标测量机、位移传感器等精密仪器的质量控制与校准以及科研开发、设备制造等领域。激光干涉仪可用于精密机床、大规模集成电路加工设备等在线位置测量。仪器校准激光干涉仪

激光干涉仪的光源——激光。仪器校准激光干涉仪

激光干涉仪使用技巧；Z轴激光光路快速准直方法：用激光干涉仪进行线性测量时，Z轴测量时激光光路的准直相对X、Y轴准直来说，要困难的多。尤其是在Z轴距离较长的情况下，要保证激光光束经反射镜反射后回到激先探测器的强度满足测量对对光强的要求，准直激光光路往往需要很长时间。Z轴激光光路快速准直方法具体调整方法如下：Z轴置于低处，利用激光器外壳中部的瞄准槽，正对Z轴放置分光镜，左右移开Z轴，观察激光光路，保证激光转向后大致平行于Z轴，左右移回Z轴放置线性反射镜及光靶(可以盖在反射或分光镜上以帮助入眼瞄准及控制光路的靶)，激光打在反射镜光靶上。仪器校准激光干涉仪

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