北京自动AOI光学检测仪

AI视觉在很大程度上提升了测量目标的准确性，人眼分辨识别的能力往往有限，对于极其微小的外观缺陷识别检测上具有一定的难度，甚至无法实现，但是这些不足，AI视觉都可以弥补，比如它对于微米级的缺陷目标检测可一步到位。人眼识别的速度与机器的速度对比也有很大的区别，人眼的识别能力使得它识别的速度被限定，AI视觉系统通过它强悍的机构驱动，快速移动扫描，搭载高精密相机，以及硬件涉施，闪速抓拍，能够完成精确快速的识别。AOI集成了图像传感技术、运动控制技术，AOI检测仪在产品生产过程中可以执行测量、识别和引导等一系列任务。北京自动AOI光学检测仪

AOI检测主要应用领域包括PCB、半导体和FPD面板。因AOI检测主要应用于PCB、半导体及FPD等电子元器件生产过程中的检测环节，几乎每一个电子元器件都需要进行瑕疵检测，因此这些电子元器件的产量与AOI检测的应用结构息息相关。因此，AOI检测行业应用需求结构主要通过PCB、半导体和FPD的产量比例来进行测算得到。经初步测算，PCB是目前我国主要的AOI应用领域，大概占AOI检测总规模的。对于产品检测来说，利用AOI技术能够有效提升产品检测分析的准确性和完整性。随着电子制造产业链的进一步整合，检测市场将不断扩容，AOI技术在终端应用将持续得到突破，应用领域拓展将为AOI检测服务和设备的需求增长增添动力，市场规模存在较大成长空间。 福建离线AOI品牌爱为视新一代智能插件AOI，采用卷积神经网络、先进深度学习模型，计算机视觉、图形图像处理等技术。

AOl具有元器件检测、PCB板检测、焊接元器件检测等功能。AOI检测系统用于SMT加工零部件检测的一般程序是对已安装部件的印刷线路板进行自动计数，并开始检查;检查印刷线路板的引线侧，确保引线端对齐、弯曲正确;检查是否有缺件、错件、损坏件、检查安装的IC和分立器件的类型、方向和位置，检查IC器件上的标记印刷质量。如果AOI发现有缺陷的部件，系统将向操作员发送一个信号，或触发处理程序这机器能自动除去有缺陷的零件。该系统对缺陷进行分析，向主机提供缺陷的类型和频率，并对制造过程进行必要的调整。AOI检测的效率和可靠性取决于所使用软件的完整性。AO还具有易于使用、易于调整、不需要编写可视化系统算法的优点。

随着计算机的快速发展，AOI也采用了目前许多成熟的图像分析技术，包括模板匹配法(或自动对比)、边缘检测法、特征提取法(二值图)、灰度直方图法、傅里叶分析法、光学特征识别法等，每个技术都有优势和局限。模板比较法通过获得物体图像，如片状电容或QFP，并用该信息产生一个刚性的基于像素的模板。在检测位置的附近，传感器找出相同的物体。当相关区域中所有点进行评估之后，找出模板与图像之间有Z小差别的位置停止搜寻。AOI系统为每个要检查的物体产生这种模板，通过在不同位置使用相应模板，建立对整个板的检查程序，来查找所有要求的元件。但是由于元件检测图像很少完全匹配模板，所以用两种方法来解决这个问题：可以用一定数量的容许误差来确认匹配的，如果模板太僵硬，可能产生对元件的“误报”;如果模板松散到接受大范围的可能变量，也会导致“漏报”;可以根据同类的众多良品进行标准模板的计算，或者叫“特征元件”，这样可以Zda限度提取该类元件的共性特征，从而降低误报率。 AOI设备是高度定制化产品，设备厂商往往需要根据下游客户的要求进行主机设备的调整或是软件的二次开发。

AOI自动光学检测设备有个比较大的缺点是有些灰阶或是阴影明暗不是很明显的地方，比较容易出现误判的情况，这些或许可以使用不同颜色的灯光来加以判别，但较麻烦的还是那些被其他零件遮盖到的元件以及位于元件底下的焊点，因为传统的AOI只能检测直射光线所能到达的地方，像是屏蔽框肋条或是其边缘底下的元件，往往就会因为AOI检测不到而漏掉。总之，AOI自动光学检测设备虽然好用但确实也有些先天上的限制，不过可以用在即时的SMT初步品质分析，并马上回馈SMT的品质状况，让SMT制程作业加以改善，的确可以有效提高SMT的产出良率。 无需设置参数：1.采用智能算法、自动框图比例高；2.无需抽色、无需调饱和度、色相、无需调容忍度、阈值。北京插件AOI

AOI运用于图像分析技术。北京自动AOI光学检测仪

AOI检测设备中常用的红绿蓝LED光源。特殊波长光源一般是指红外或紫外波长光源，一些特殊材料在可见光范围内吸收差别不大，灰阶变化不明显时可以考虑采用特殊波长光源，比如说利用紫外光能量高可以激发荧光材料的原理，检测具有荧光发光特性物质微残留时紫外光源就是一种比较有效的手段，因材料成分与红外光谱有对应关系的原理，红外光源对不具有发光性质的有机化合物残留缺陷检出就有很大的作用，甚至可以实现成分分析。特殊光源中，利用偏振光与物体相互作用后偏振态的变化，利用光学干涉原理的白光干涉（whitelightinterferometry）在特定缺陷检测中的得到了应用，例如通过相干光的干涉图案计算出对应的相位差和光程差，可以测量出被测物体与参考物体之间的差异，且分辨率与精度为可以达到亚波长，测量三维物体形貌与高度也正成为AOI检测的新需求。（下图为侧光源与同轴光源实例）北京自动AOI光学检测仪

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