江苏CAF电阻测试原理
表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。测试配置灵活:每块模块可设置不同的测试电压,可同时完成多工况测试。江苏CAF电阻测试原理
电阻测试
PCB/PCBA绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗,这种损耗很大时,原先的电能转化为热能,使电介质温度升高,绝缘老化,甚至使电介质熔化、烧焦,**终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标,电介质即绝缘材料,是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质,通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下,电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象,这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。江西表面绝缘SIR电阻测试市场在电子设备领域,表面阻抗测试SIR测试被认为是评估用户线路板组装材料可靠性的有效评估手段。
绝缘电阻测量:-偏置电压:100V+2V-测量电压为100v时无极化变化-**小时间斜坡到100V=2秒-测量时间=60秒-被测样品应与其他样品电隔离限流电阻:**小1mohm与PCB串联在线测试程序:1)PCB干燥后立即进行绝缘电阻测量;2)将样品放入环境测试箱,并连接到在线测量设备。在试验结束前,不能取出样品,也不能打开试验箱。(***组数据)3)施加温度至85℃(持续时间3小时),然后施加湿度至85%的相对湿度(持续时间另一个3小时),没有偏置电压(第二组数据)。在85℃,85%湿度下放置96小时后,测量绝缘电阻为IR初始值(第三组数据)4)开始输出偏置电压100V-标记为0小时,开始试验;
4、在初始的绝缘电阻测量后关闭测试系统,使样品在65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH、无偏压的环境下静置96个小时(±30分钟)。96个小时(±30分钟)的静置期后,在每个菊花链网络和地之间测试绝缘电阻。5、确认所有的测试样品的连接是有效的,每个测试电路对应适当的限流电阻。然后将测试板与电源相连开始进行T/H/B部分的CAF测试。6、确认适当的偏置电压已经被加载在样品上进行周期性测试。为了比较不同内层材料和制程的耐CAF性能,使用100V直流偏压的标准CAF测试条件。为了确认测试结果与实际寿命之间的关系,第二个偏置电压条件需要选择给定的最高工作电压的两倍。当一个较小的偏置电压不能有效地区别更多不同的耐CAF材料和制程时,更高的偏置电压由于会线性地影响失效时间,应该被避免采用。这是因为过高的偏置电压会抵消掉相对湿度的影响,而相对湿度由于局部加热的原因是非常重要的失效机制部分。7、在96个小时的静置时间后,测试电压和偏置电压的极性必须是始终一致的。表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCBA的表面清洁度(包括加工、制造过程的残留)。
CAF发生的原理离子迁移现象是由溶液和电位等相关电化学现象引起的,尤其是在高密度电子产品中,材料与周围环境相互影响,导致离子迁移现象发生,形成CAF通路第一阶段的基本条件是有金属盐类存在以及有潮湿或蒸汽压存在,这两个条件都不可或缺。当施加电压或偏压时,便会产生第二阶段的CAF增长。其中,测试的温湿度越高,吸附的水分越多,生长得就越快;电压越高,加快电极反应,CAF生长得越快;PH值越低,越易发生CAF;基材的吸水率越高,越易发生CAF。影响因素:电压,材质NO.2CAF发生的主要影响因素智能电阻具有更加便捷的操作和数据处理能力。湖南表面绝缘电阻测试原理
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1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(CAF)目前公认的CAF成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,PCB内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。PCB/PCBA绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征PCB绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标,绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在PCB表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ECM)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(CAF)。1、电化学迁移(ECM)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。江苏CAF电阻测试原理
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