福建高精度DBC底板贴装机

电迁移、电化学腐蚀和金属化重构，IGBT 功率模块芯片顶部存在一层 Al 金属薄膜用以与外部进行连接。在电流和温度梯度的作用下，Al 金属离子会沿着导体运动，如沿着键合线运动，产生净质量输运，导致薄膜上出现空洞、小丘或晶须。随着器件的老化，有机硅凝胶的气密性下降，外部的物质会与 Al 金属薄膜接触，使其发生电化学腐蚀。常见的有 Al 的自钝化反应、单一阳极腐蚀电池反应以及与沾污的离子发生反应。金属化重构是由于 Al 与芯片上 SiO2 的 CTE 值相差两个数量级，导致界面处产生循环应力，使得Al 原子发生扩散，造成小丘、晶须和空洞，然后产生塑性形变，引发裂纹。以上所述三种因素导致的 Al 薄膜失效方式会加剧键合点处的疲劳情况，较终导致键合线脱落或电场击穿失效。当双极型晶体管的电流控制发挥作用时，它会进一步控制电流的流动，从而使IGBT的效率更高。福建高精度DBC底板贴装机

双极晶体管绝缘栅（IGBT）由于其输入阻抗高、开关速度快、通态电压低、阻挡电压高、电流大、热稳定性好，已成为当今电力半导体设备开发的主流。普遍应用于高速铁路和轨道交通、汽车电子、风能发电、太阳能、家用电器、节能、UPS，数控机床、焊机、动力传动等领域。对于IGBT模块，模块的外部是外壳和金属端子。不只有芯片，还有键合线、绝缘陶瓷基板和焊接层，统称为机械连接。为了保证产品的耐久性，即商品的使用寿命。IGBT模块制造商将在较终确定之前进行一系列可靠性测试，以确保产品的长期耐久性。专业无功老化测试设备批发价格IGBT可以用于电机控制，如三相伺服电机控制系统。

2018年中国市场IGBT模块需求为7898万，但国内产量只为115万，供需缺口巨大。据业内人士透露，IGBT总体市场规模将保持每年10%以上的增长率，主要受益于新能源汽车产业的发展。IGBT以上市公司斯达半导体为例，2016年至2018年，增长率将远高于此。许多国内公司IGBT主营企业实现了快速增长。特别是在贸易战洗礼后，越来越多的下游制造商开始尝试接受国内制造商IGBT，这是国产的IGBT更多的试错机会促进了国内的发展IGBT技术迭代，让国产IGBT进入良性迭代循环的过程。IGBT国内替代已进入快速增长期，越来越多的中小客户完成了高比例的产业化。在工业和部分细分领域，国产化率已达到50%以上。

电迁移、电化学腐蚀和金属化重构，IGBT功率模块芯片顶部有一层Al金属薄膜，用于与外界连接。在电流和温度梯度的作用下，Al金属离子会沿着导体移动，如沿键合线移动，产生净质量运输，导致薄膜上出现空洞、小丘或晶须。随着设备的老化，硅胶的气密性降低，外部物质与Al金属薄膜接触，导致电化学腐蚀。常见的有Al自钝化反应、单阳极腐蚀电池反应和与污染的离子反应。金属化重建是由于Al和芯片上SiO2的CTE值相差两个数量级，导致界面循环应力，Al原子扩散，导致丘陵、晶须和空洞，较终导致塑性变形和裂纹。上述因素导致的Al膜失效会加剧键合点的疲劳，较终导致键合线脱落或电场击穿失效。IGBT的结构使其可以实现从开启到关断的电流控制，而不会产生过大的漏电流，也不会影响其他电路的工作。

wafer阶段测试。目前wafer阶段测试，大部分晶圆厂或封装厂采用的都是静态测试。但是静态测试的条件比较有限，IGBT只能在低电压大电流或者高电压小电流的条件下工作，对芯片的筛选能力有限。而动态测试条件下，IGBT要在高电压和大电流下开通和关断，对其性能要求更加严苛，筛选标准更严格，若再配合高温短路测试，则筛选能力大幅提高。但是针对wafer的动态测试技术难度很高，实现起来非常困难，且测试设备极其昂贵，也不容易买到。所以wafer阶段的动态参数测试，现阶段不容易实现。一般所说的IGBT也指IGBT模块。静态测试真空灌胶自动线厂商

IGBT是将晶体管的特性和开关电路的特性结合在一起，使其成为一种可以控制电流的新型电子元件。福建高精度DBC底板贴装机

焊层失效，上述温度梯度也存在于焊接层和相邻组件中，因此会导致剪切应力。焊接层失效的主要表现形式是裂纹、空洞和分层。在开关循环中，作为弹性塑料材料的焊接层会出现非弹性应变，较终导致焊接层的裂纹、裂纹的发展和焊接材料的分层。空洞是由焊接材料的晶体边界空洞和回流焊工艺引起的，这是一种不可避免的现象。随着功率循环，焊接层受到热应力，空洞也会增加。焊接层失效后，热阻进一步增加，导致温度梯度增加，形成正反馈，较终导致焊接层完全失效。福建高精度DBC底板贴装机