湖北表面绝缘电阻测试系统

时间:2024年10月14日 来源:

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作,通过分析确定失效机理,找出失效原因,反馈给设计、制造和使用,共同研究和实施纠正措施,提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认结果的失效原因,可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试(包括破坏性实验)。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础,元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。如果 SIR 值较低,表示材料的表面绝缘性能较差,可能导致电路短路等故障,从而降低 MTTF。湖北表面绝缘电阻测试系统

电阻测试

1.碳膜的多采用酚醛树脂,其结构上存在羟基与苯环直接相连,由于共轭效应,氧原子上未共享电子对移向苯环上而使氢原子易成H+,它在碱溶液中与OH-作用,引起水解致使整个分子受破坏,同时高温加速水解。2.文字油墨的主体是不形成网状结构或体型结构的线型树脂,此类树脂是碳原子以直链形式连接,稳定性差。溶剂对表面分子链先溶剂化,然后树脂内部逐步溶剂化,使油墨溶胀引起鼓泡或脱落。3.采用中性水基清洗或常温清洗可缓解碳膜和文字油墨等材料的破坏,在规定的清洗时限内保持材料的完好性。2、原因分析阔智通测科技(广州)有限公司QualtecTongceTechnology(Guangzhou)Co.,Ltdn案例分享3、PCBA水基清洗技术以XX水基清洗剂为例,结合了溶剂和表面活性剂技术优点的水基清洗技术,具有宽大的应用窗口和从电子基材表面彻底去除所有污染物的能力。陕西表面绝缘SIR电阻测试哪家好半导体元器件随着技术和生产工艺的进步,其可靠性得到了长足的发展。

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电子元器件筛选的目的:剔除早期失效产品。提高产品批次使用的可靠性。元器件筛选的特点:筛选试验为非破坏性试验。不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。对批次产品进行*筛选。筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。电子元器件筛选常规测试项目:检查筛选:显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。密封性筛选:液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验、颗粒碰撞噪声检测。环境应⼒筛选:高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离⼼加速度、温度冲击、综合应⼒、动态老炼。 电子元器件筛选覆盖范围:半导体集成电路:时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、致模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;

线路板表面的每一种材料都有可能是电迁移产生的影响因素:无论是线路板材料和阻焊层、元器件的清洁度,还是制板工艺或组装工艺产生的任何残留物(包括助焊剂残留物)。由于这种失效机制是动态变化的,理想状况是对每种设计和装配都进行测试。但这是不可行的。这就提出了一个问题:如何比较好地描述一个组件的电化学迁移倾向。表面电子组件的电化学迁移的发生机理取决于四个因素:铜、电压、湿度和离子种类。当环境中的湿气在电路板上形成水滴时,能够与表面上的任何离子相互作用,使离子沿着电路板表面移动。离子与铜发生反应,它们在电压的作用下,被推动着在铜电路之间迁移。这通常被总结为一系列步骤:水吸附、阳极金属溶解或离子生成、离子积累、离子迁移到阴极和金属枝晶状生长。从而使绝缘体处于离子导电状态。显然,这将使绝缘体的绝缘性能下降甚至成为导体而造成短路故障。

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【SIR测试促进绿色能源技术发展】随着绿色能源技术的快速发展,尤其是太阳能光伏板和风力发电系统的广泛应用,SIR测试成为确保这些系统长期可靠性的关键。光伏板和风电机组中的电子部件需要在户外长期暴露,面临风雨侵蚀、温度波动等挑战。通过SIR测试,可以评估并选择适合户外环境的绝缘材料,减少因环境因素导致的性能衰退,提升能源转换效率和设备寿命,加速清洁能源的普及和应用。【SIR测试在医疗设备安全中的作用】医疗设备的电气安全直接关系到患者的生命健康。SIR测试在这里发挥着不可替代的作用,确保设备中使用的绝缘材料能够有效防止电流泄露,保护患者免受电击风险。特别是在手术器械、监测设备等对电气安全有极高要求的场合,SIR测试结果是产品认证和质量控制的重要依据。通过对医疗设备进行定期的SIR测试,制造商能够持续改进设计,提升设备的安全性和可靠性,保障医疗操作的安全无虞。模块化的集成设计,16通道组成一个测试模块。陕西表面绝缘SIR电阻测试哪家好

类型1-500V,通道数16-256/128/64/32(通道可选),测试速度快: 20ms/所有通道。湖北表面绝缘电阻测试系统

广州维柯信息技术有限公司多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-500,可在设定的环境参数下进行长时间的测试样品,观察并记录被测样品阻抗变化状况。系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控,测试数据自动存储和管理,客户根据需要可导出为Excel表格式,对测试样品进行分析。***用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂,封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估,以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。通道数16-256/128/64/32(通道可选),测试组数1-16组(组数可选)测试时间1-9999小时(可设置)偏置电压1-500VDC(0.1V步进)测试电压1-500VDC(0.1V步进)偏置电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)测试电压输出精度±设置值1%+200mV(5-500VDC)电阻测量范围1x106-1x1014Ω电阻测量精度1x106-1x109Ω≤±2%1x109-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%。湖北表面绝缘电阻测试系统

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