进口布鲁克粉末衍射仪参数

如何由 XRD 图谱确定所做的样品是准晶结构？XRD 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？三者并无严格明晰的分界。在衍射仪获得的 XRD 图谱上，如果样品是较好的”晶态”物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此很窄的”尖峰”（其半高度处的 2θ宽度在 0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的”至小宽度”）。如果这些”峰”明显地变宽，则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm，可以称之为”微晶”。晶体的 X 射线衍射理论中有一个 Scherrer 公式，可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。XRD设备的使用可以满足不同类型的研究需要。进口布鲁克粉末衍射仪参数

XRD仪器操作规程：制样：1. 粉末样品制样方法： 粉末样品应干燥，粒度一般要求约10~80μm，应过200目筛子（约0.08mm），且避免颗粒不均匀。用药勺取适量样品于玻璃样品架中间的槽里，另取一块载玻片，用载玻片轻轻将样品压紧，并将高出样品架表面的多余粉末刮去，如此重复几次使样品表面平整。将样品架边缘的样品刮掉，擦干净即可进行测试。注意事项：玻璃样品架易碎、数量有限，使用要千万小心，如有损坏按原价赔偿。制样时用力要均匀，不可力度过大，以免形成粉粒定向排列。样品一定要刮平，且与样品架表面高度一致，否则引起测量角度和对应d值偏差。其他样品：对于不易研碎的样品，可先将其处理成与窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内，固定时橡皮泥或石蜡等请注意略低于样品，不要与样品齐平。片状、纤维状或薄膜样品也可类似固定在样品架的窗孔内，应注意使样品表面与样品架平齐。广东台式D8 Discover生产厂家高分辨率 XRD ，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切。

X射线衍射仪的英文名称是X-ray Powder diffractometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做x射线多晶体衍射仪，英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。 X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。X射线的波长较短,大约在10-8～10-10cm之间。当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关不同的晶体物质具有自己独特的衍射样,这就是X射线衍射的基本原理。XRD设备的应用面十分普遍。

X射线衍射仪采用创造性的设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)，外延多层膜厚度，晶胞参数，晶格错配，组份，应变及弛豫过程，横向结构，镶嵌度，X射线反射率(XRR)，薄膜厚度，组份，粗造度，密度，孔隙度。X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异。布鲁克XRD仪器原理

XRD设备具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装。进口布鲁克粉末衍射仪参数

XRD设备简介：仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。XRD设备的送样要求：1）粉末样品：颗粒度在10微米以下；块体、薄膜样品：表面打磨平滑，厚度不超过5毫米；尺寸不超过2厘米(平台不提供制样)。2）信息要求：若需样品成分分析，需提供体系可能含有的全部元素。进口布鲁克粉末衍射仪参数

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