PCI-E测试眼图测试项目
数字信号眼图分析
波形参数测试室数字信号测试常用的测量方法，但是随着数字信号速率的提高，波形参数的测量方法越来越不适用，5G的信号来说，由于受到传输通道的损耗的影响，不同位置的信号的幅度、上升时间，脉冲宽度等都是不一样的。不同的操作人员的波形的不同位置测量得到的结果也是不一样的，这就使用我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估，对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。
所谓眼图，实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图，显示了眼图的形成过程。我们可以看到，随着叠加的波形数量的增加，数字信号逐渐形成一个个类似眼睛一样的形状，我们把这种图形叫作眼图。 USB2.0眼图测试设备步骤？PCI-E测试眼图测试项目
示波器作为时域或数字电路信号测量与测试重要的仪器设备，本质上是作为相对被测信号或系统的接收机在工作，因此其根本的价值在于真实还原或复现被测信号。在早年的并行总线电路系统的设计和测试中主要扮演简单的信号检测和调试的角色，而在的高速数字电路系统的研发和测试中扮演越来越重要的地位，已经从简单的信号检测与调试用途转化为高速数字信号的处理和分析平台，包括眼图及抖动分析和调试，均衡和去嵌处理等，以及终量产前的一致性(Compliance)测试即检验产品是否符合出货标准。当然示波器还有另一重要使用场景在高速数据采集场合。为什么眼图测量已经成为高速串行数据测试的重要的项目？波形参数测试是数字信号质量评估常用的测量方法，但是随着数字信号速率的提高，靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了。因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估，对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。所谓眼图，实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图。PCI-E测试眼图测试项目一种统计眼图的测算方法及眼图分析装置？
眼图测量方法（传统眼图测量方法），眼图测量方法有两种：传统眼图测量方法用中文来理解是八个字：“同步触发+叠加显示”，现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字：“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字：传统的是用触发的方法，现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键，传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次，然后叠加一次。每触发一次，眼图上增加了一个UI，每个UI的数据是相对于触发点排列的，因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。
USB眼图
USB眼图是用余辉方式累积叠加显示采集到串行信号的比特的结果，叠加后的图形形状看起来和眼睛很像，故名眼图。由于USB眼图是用一张图形就完整地表征了串行信号的比特信息，所以成为了衡量信号质量的重要工具，所以眼图测量也叫“信号质量测试”。
随着网络科技的完善人们逐渐无法满足于单调且静态的资讯，开始追求多媒体影音效果，为了达到身临其境的感受，影像或游戏的资料量越来越大。另一方面，为了维持视觉语音整体流畅度及即时性，各种产品间的传递效率和处理速度必须加快。整体而言，加快信号传输速度就会造成接收端辨识率降低。此外，现今电子产品体积越来越迷你化，电路板间的信号线间的距离也越来越近，造成信号线与信号线间的相互干扰已不得再忽略。那么该如何判定一个产品的传输质量的好坏？USB眼图就能够作为判定产品信号品质优劣的依据。 眼图的测试现场方法测试找克劳德高速数字信号测试实验室。
DDR4眼图测试1-2是德科技ADS仿真软件的DDR4总线仿真器，提供了统计眼图分析的功能，能够在短时间内统计计算在极低误码率(1e-16)下的DQ眼图，根据规范判断模板是否违规。另外基于总线的仿真，也很易于仿真基于串扰因素下的眼图质量。基于示波器的DDR4信号实测，可以利用大家熟悉的InfiniiScan区域触发功能，很容易分离出“写”信号，再通过Gating功能对Burst写信号做时钟恢复和眼图重建，再进行EyeContour测量，并验证1e-16误码率下的眼图模板是否违规。如果是使用一致性测试软件，就不用手动操作，软件会自动跟踪和分离波形并实现眼图测试 基于眼图测试的USB接口链路故障定位方法？PCI-E测试眼图测试项目
眼图测试系统的参数和含义？PCI-E测试眼图测试项目
DDR眼图测试1-3
在早期设计阶段，如何完整评价DDR信号质量和时序等参数呢，这里为大家介绍一个设计到验证的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接导入到运行于电脑里的示波器离线分析软件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性测试套件，这个软件可以分析前面所说的JEDEC对DDR4信号要求的电气和时序等参数，判断是否符合规范要求，以测试报告形式呈现，这种方式可以在设计阶段发现违规问题，及时改进设计，缩短研发周期，降低硬件开发成本。另一方面，在硬件已经打板回来，可以通过V系列等示波器测试信号，通过实际的信号检查存在的问题，将仿真的结果和实际测试的结果做相关对比，进一步迭代优化仿真模型和测量方法，使仿真和测试结果逐渐逼近。 PCI-E测试眼图测试项目
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