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    即温度传感器的输出导线与铝层连接以通过铝层与金属铂层连接。上述铂热电阻传感器，利用金属铂在温度变化时自身电阻值也会随着温度改变的特性来测量温度，温度传感器的输出端子与显示仪表连接，显示仪表会显示受温度影响得到的铂电阻对应的温度值。在一实施例中，因上述热电阻传感器中上层有金属结构如金属铝和金属铂，对于直接暴露在空气中时容易氧化的金属层，其上还形成有一层钝化层，可对金属层进行保护。同时，需要在对应温度传感器引出端子处开设有通孔，通过通孔可引出输出端子。在本实施例中，是在两端的金属铝上方的钝化层开设有通孔。钝化层可为氧化硅层或氮化硅层，也可为叠设的氧化硅层和氮化硅层。在一实施例中，测温单元为一热电偶传感结构，包括：多晶硅层，包括并排且间隔设置的n型多晶硅条和p型多晶硅条；和第三金属层。第三金属层包括位于相邻多晶硅条之间的金属结构，n型多晶硅和p型多晶硅通过金属结构串联，第三金属层还包括位于多晶硅层外侧两端的第二金属结构，用于引出温度传感器的输出端子。如图和图所示，氧化硅薄膜上形成有一层多晶硅层。该多晶硅层包括并排且间隔设置的n型多晶硅条和p型多晶硅条。好的的温度传感器供应，信任深圳市美信美科技有限公司。广东混合温度传感器价格

    会在半导体内部产生温差电动势，不同类型的半导体其温差电动势不同，将两种半导体两端连接形成闭合回路时，在回路中有电流产生，半导体两端的温差不同时，所产生的电动势不同。在本方案中，采用n型半导体和p型半导体构成塞贝克结构且多个塞贝克结构串联，可以增强温度传感器的灵敏度。在一实施例中，可以将温度传感器两输出端子作为冷端且保持冷端温度恒定，将串联的多晶硅层作为热端感测实际环境温度，当环境温度发生变化时，冷端和热端的温差发生变化，因此冷端的电势会发生变化，与显示仪表连接后，显示仪表会显示热电偶受当前环境温度影响得到的电势所对应的热端温度，即当前环境温度。通常，形成测温单元还包括钝化步骤，即，步骤s136：在金属层上形成钝化层，并在钝化层上对应温度传感器引出输出端子处设有通孔。因上述热电偶传感器中上层有金属结构如金属铝层，对于直接暴露在空气中时容易氧化的金属层，其上还形成一层钝化层，可对金属结构进行保护。同时，需要在对应温度传感器引出端子处开设通孔，通过通孔可引出输出端子。在本实施例中，是在外侧多晶硅端部的金属铝上方的钝化层开设通孔。钝化层可为氧化硅层或氮化硅层，也可为叠设的氧化硅层和氮化硅层。沈阳温度传感器工艺进口温度传感器，认准深圳市美信美科技。

    钝化层可为氧化硅层或氮化硅层，也可为叠设的氧化硅层和氮化硅层。上述温度传感器，测温单元设于氧化硅薄膜上，氧化硅薄膜具有较低的导热率，因此不会影响测温单元的测温效果。且氧化硅薄膜与硅之间形成有空腔，空腔下方的硅不会影响空腔上方的氧化硅的隔离效果，在温度传感器的制备过程中，无需通过深槽刻蚀工艺将多余的硅刻蚀掉，因此简化了温度传感器的制备时间，节约了成本。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上实施例表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

    测温单元形成于空腔上方的氧化硅薄膜后得到的温度传感器性能较好。在其中一个实施例中，所述测温单元包括：金属层，所述金属层为金属铂层，所述金属铂层呈连续弓字形结构；和第二金属层，位于所述金属铂层外侧两端，用于引出所述温度传感器的输出端子。在其中一个实施例中，所述测温单元包括：多晶硅层，包括并排且间隔设置的n型多晶硅条和p型多晶硅条；和第三金属层，所述第三金属层包括位于相邻多晶硅条之间的金属结构，所述n型多晶硅条和p型多晶硅条通过所述金属结构串联，所述第三金属层还包括位于所述多晶硅层外侧两端的第二金属结构，用于引出所述温度传感器的输出端子。附图说明图1为一实施例中温度传感器制备方法的方法流程图；图2a～2c为一实施例中温度传感器制备方法各步骤对应生成的结构剖视图。图3为一实施例中温度传感器侧视图；图4为与图3对应的温度传感器俯视图；图5为另一实施例中温度传感器侧视图；图6为与图5对应的温度传感器俯视图。具体实施方式为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更的描述。附图中给出了本发明的优先实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地。数字式温度传感器其采用PTAT结构，这种半导体结构具有精确的，与温度相关的良好输出特性。

    并在钝化层上对应所述温度传感器引出输出端子处设有通孔。因上述热电阻传感器中上层有金属结构如金属铝和金属铂，对于直接暴露在空气中时容易氧化的金属层，其上还形成一层钝化层，可对金属层进行保护。同时，需要在对应温度传感器引出端子处开设通孔，通过通孔可引出输出端子。在本实施例中，是在两端的金属铝上方的钝化层开设通孔。钝化层可为氧化硅层或氮化硅层，也可为叠设的氧化硅层和氮化硅层。在一实施例中，测温单元为一热电偶传感结构，其具体形成过程为：步骤s：在所述氧化硅薄膜上淀积一层多晶硅层，所述多晶硅层包括并排且间隔设置的n型多晶硅条和p型多晶硅条。如图和图所示，在氧化硅薄膜上淀积一层多晶硅层，该多晶硅层包括并排且间隔设置的n型多晶硅条和p型多晶硅条。n型多晶硅可为在多晶硅内部掺杂ⅴ族元素形成导电类型为n型的多晶硅，且其内部掺杂均匀。p型多晶硅可为在多晶硅内部掺杂ⅲ族元素形成导电类型为p型的多晶硅，且其内部掺杂均匀。n型多晶硅条和p型多晶硅条形状相同，在本方案中，n型多晶硅条和p型多晶硅条为长条型，多晶硅条平行设置，具有相同的间距。步骤s：在多晶硅层上淀积第三金属层，第三金属层包括位于相邻多晶硅条之间的金属结构。双金属装置也是温度传感器的一种，它在加热时利用金属膨胀的优势。佛山进口温度传感器厂家

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    热退火在氢气环境中进行。步骤s130：氧化所述空腔上部的硅片得到氧化硅薄膜。通过热氧化工艺氧化空腔上部的硅片以形成氧化硅薄膜23(如图2c所示)。在900℃～1200℃的高温环境中，通过外部供给氧气或者水蒸气使之与硅发生化学反应，可以在空腔上方得到一层热生长的氧化层。由于当氧化层达到一定厚度时，氧化反应几乎停止，因此当难以通过一次氧化工艺将空腔上方的硅全部氧化成氧化硅时，需要通过多次氧化步骤实现将空腔上方的硅全部氧化，具体为，进行次热氧化生成一层氧化硅薄膜后，空腔上方为残留的未氧化的硅以及在硅上生成的氧化硅薄膜，通过刻蚀工艺去除上方的氧化硅薄膜，保留空腔上方的硅，此时硅的厚度减小，继续通过上述热氧化、刻蚀和热氧化的循环工艺逐渐减小空腔上方硅的厚度，直至后一次热氧化后空腔上方的硅全部生成氧化硅薄膜，由此实现上层氧化硅薄膜与下层硅通过空腔隔离。此时，温度传感器的基作完成。在一实施例中，在得到上述氧化硅薄膜后还可在氧化硅薄膜上形成氮化硅薄膜或者聚酰亚胺薄膜，由于氧化硅内部存在较大的应力，氧化硅薄膜容易断裂，在氧化硅薄膜上面再淀积一层氮化硅薄膜或者聚酰亚胺薄膜，可以平衡氧化硅内部应力。广东混合温度传感器价格