陕西快恢复二极管MUR2060CT

快恢复二极管(简称FRD)是一种具有开关特性好、反向恢复时间短特点的半导体二极管，主要应用于开关电源、PWM脉宽调制器、变频器等电子电路中，作为高频整流二极管、续流二极管或阻尼二极管使用。 快恢复二极管的内部结构与普通PN结二极管不同，它属于PIN结型二极管，即在P型硅材料与N型硅材料中间增加了基区I，构成PIN硅片。因基区很薄，反向恢复电荷很小，所以快恢复二极管的反向恢复时间较短，正向压降较低，反向击穿电压(耐压值)较高。采用TO–220或TO–3P封装的大功率快恢复二极管，有单管和双管之分。双管的管脚引出方式又分为共阳和共阴。MURF2040CT是什么类型的管子？陕西快恢复二极管MUR2060CT

快恢复二极管是指反向恢复时间很短的二极管(5us以下)，工艺上多采用掺金措施，结构上有采用PN结型结构，有的采用改进的PIN结构。其正向压降高于普通二极管(1-2V)，反向耐压多在1200V以下。从性能上可分为快恢复和超快恢复两个等级。前者反向恢复时间为数百纳秒或更长，后者则在100纳秒以下。 肖特基二极管是以金属和半导体接触形成的势垒为基础的二极管，简称肖特基二极管(Schottky Barrier Diode)，具有正向压降低(0.4--0.5V)、反向恢复时间很短(10-40纳秒)，而且反向漏电流较大，耐压低，一般低于150V，多用于低电压场合。 这两种管子通常用于开关电源。ITO220封装的快恢复二极管MUR2040CTMUR2060CA是什么类型的管子？

    有一种二极管叫做SONIC二极管，其反向回复时间较为长，约～µs，软度因子在。在制造中除了使用平面结终止结构，玻璃钝化并有硅橡胶保护外，还使用了从硅片背面开展深扩散磷和控制轴向寿命抑制因素，使迅速二极管的反向恢复电流衰减较慢，具反向“软恢复”特点，防范在高频应用时在硬关断过程中产生过高的反向尖峰电压，维护了开关器件及其二极管自身。该二极管在整个工作温度范围内性能安定，并且对于温度的变化正向电压降的变化可以忽视不计。该二极管是为高频应用设计的，在高频应用时安定确实。新的迅速软恢复二极管——SONIC二极管系列克服了这些缺陷，它们的优点为：1．并联二极管工作时正向电压降Vf与温度无关；2．阻断电压平稳，漏电流比掺金和铂的小；3．迅速软恢复二极管在高温下反向漏电流从25℃到125℃比掺铂FRED少50%。SONIC二极管使用磷深扩散和轴向寿命抑制因素，电压从600V至1800V，如图3所示。在硼中受控的轴向寿命抑制因素用来支配区域1中空穴的发射效率。区域2所示的软N区为软恢复提供了额外电荷。空穴的较低的发射效率使得器件的正向电压降对温度不太敏感，这有利二极管并联工作，并且在高温时开关损耗很小。运用电子辐照作为外加的规范寿命抑制因素。

    迅速软恢复二极管模块化技术与应用著者：海飞乐技术时间：2018-05-2320:43摘要在高频应用中为了减小电路损耗和防范过电压尖峰对器件的损坏，需迅速软恢复二极管。硬开关过程中存在二极管反向回复电流（Irm）增加了开关器件开通损耗率和过电压尖峰，并且在迅速di/dt开关时能够产生电磁干扰。本文介绍了使用特别工艺设计的迅速软恢复二极管。该二极管是为高频应用而设计的，在高频应用方面有着平稳的开关属性。本文还介绍了用该二极管制造的200A绝缘型和非绝缘型迅速软恢复二极管模块及其应用。1．快速软恢复二极管介绍大功率快速软恢复二极管主要运用在高频电力电子电路中，它与主回路中的晶闸管或IGBT等新型电力半导体开关器件相并联，开关器件反向时，流过负载中的无功电流，减少电容的充电时间，同时抑止因负载电流瞬时反向而感应的过电压尖峰。为了提高开关器件及电力电子线路的可靠性和稳定性，须要采用迅速软恢复二极管。快速软恢复二极管可以减小高频电路的损耗。在硬开关过程中存在的主要疑问是：二极管反向回复电流（Irm）增加了开关器件开通损耗率，并且在迅速di/dt开关时能够产生电磁干扰。如果反向回复电流迅速返回零点，就会产生尖峰电压和电磁干扰。快恢复二极管可以在冷焊机上的使用。

    我们都知道在选择快恢复二极管时，主要看它的正向导通压降、反向耐压、反向漏电流等。但我们却很少知道其在不同电流、不同反向电压、不同环境温度下的关系是怎样的，在电路设计中知道这些关系对选择合适的快恢复二极管显得极为重要，尤其是在功率电路中。在快恢复二极管两端加正向偏置电压时，其内部电场区域变窄，可以有较大的正向扩散电流通过PN结。只有当正向电压达到某一数值（这一数值称为“门槛电压”，锗管约为，硅管约为）以后，快恢复二极管才能真正导通。但快恢复二极管的导通压降是恒定不变的吗？它与正向扩散电流又存在什么样的关系？通过下图1的测试电路在常温下对型号为快恢复二极管进行导通电流与导通压降的关系测试，可得到如图2所示的曲线关系：正向导通压降与导通电流成正比，其浮动压差为。从轻载导通电流到额定导通电流的压差虽为，但对于功率快恢复二极管来说它影响效率也影响快恢复二极管的温升，所以在价格条件允许下，尽量选择导通压降小、额定工作电流较实际电流高一倍的快恢复二极管。 MUR3060CT二极管的主要参数。TO220F封装的快恢复二极管MUR2060CTR

快恢复二极管如何选择？陕西快恢复二极管MUR2060CT

    以及逆变器和焊接电源中的功率开关的保护二极管和续流二极管。2．迅速软恢复二极管的一种方法使用缓冲层构造明显改善了二极管的反向恢复属性。为了缩短二极管的反向恢复时间，提高反向回复软度，同时使二极管具备较高的耐压，使用了缓冲层构造，即运用杂质控制技术由轻掺杂的N1区及较重掺杂的N2区构成N基区；二极管的正极使用由轻掺杂的P区与重掺杂的P＋区镶嵌构成，该P－P＋构造可以操纵空穴的注入效应，从而达到支配自调节发射效率和缩短反向回复时间的目的。图4使用缓冲层构造二极管示意图芯片设计原始硅片根据二极管电压要求，同常规低导通压降二极管设计参数相同。使用正三角形P+短路点构造，轻掺杂的P区表面浓度约为1017cm－3，短路点浓度约为1019cm－3。阴极面N1表面浓度约为1018cm－3，N2表面浓度约为1020cm－3。少子寿命控制目前少子寿命控制方式基本上有三种，掺金、掺铂和辐照，辐照也有多种方式，常用的方式是高能电子辐照。缓冲层构造的迅速二极管的少子寿命控制方式是使用金轻掺杂和电子辐照相结合的办法。图5缓冲层构造的迅速二极管的能带示意图从能带示意图中可以看出，在两个高补偿区之间形成一个电子圈套。当二极管处于反偏时，电子从二极管阴极面抽走。陕西快恢复二极管MUR2060CT