微米级轴类件精度测量

时间:2023年03月03日 来源:

由于在高转速和高扭矩下工作,转子轴必须承受恒定的机械应力。为了使这些部件达到比较高质量,必须对其某些方面(如轴承,座)进行极其精确的磨削操作。成品质量和优化周期是整个工艺过程中十分重要的。Marposs在磨削过程监控方面具有丰富的经验。Marposs设计开发一整套传感器,这些传感器专门设计用于在不同磨削阶段控制所有的关键参数:过程中和过程后测量、动平衡声发射、振动和功率。Marposs提供定制化动态测量工站对轴或转子组件进行自动加工后测量。泄漏测试是电池pack装配过程中的要求用于检查电池pack气密性,保证电池pack内部的高压零部件不会出现短路。微米级轴类件精度测量

微米级轴类件精度测量,检测设备

考虑到电动汽车在低转速下具有高转矩而在高转速下具有恒定功率的特点,电动汽车的传动系统相对简单。通常,这只需要在输入和输出之间配置一个或两个速比。在设计变速箱时,由于电机的高转速(高达20,000 rpm)特点,需要对其进行特殊设计以减少功率损耗,确保高运转效率的同时控制噪音。噪音是电动汽车变速箱设计过程中的一个主要考虑因素,因为没有内燃机那样的发动机噪音来抵消传动系统的噪音。电动汽车变速箱的公差必须非常严格。在装配和制造过程中,应特别注意轮齿几何尺寸和机械设计,以确保产品的高质量和高性能。局部放电PDIV测试Hetech Marposs系统都具备很多优势,首先是有两个泵送系统,一个真空泵送系统和一个分析泵送系统。

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Optoflash可以测量超高分辨率精度的型号用于超小尺寸的工件。OptoflashXS提供了超高级别的分辨精度密度,所以更适合小工件和小公差带。因此,OptoflashXS具有超高精度的图像分辨率。另外,Optoflash外观设计紧凑为生产车间现场而设计,也可用于实验室环境。将光学处理系统和软件系统集成在一体机内。除此之外,Optoflash具有超快的测量速度操作人员只需要把工件放在测量平台上,然后按“开始START”按钮,两秒后即可完成工件测量。

对于半导体行业来说,圆晶测量和缺陷检测都是半导体生产的关键环节,检测和控制生产中的每一步生产质量。为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。马波斯和STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和的光学设计。马波斯的小横向分辨率为0.4μm * 0.4μm,大倾斜角为+/-45°,0.75数值孔径。局部放电绝缘测试是一种更复杂的技术,对外部电磁干扰不敏感,因此更适合在生产环境中使用。

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在测量转子轴多个截面的外径的同时,还可以同时测量铁芯和花键齿轮相对于转子轴的跳动。用激光扫描技术检查平衡孔的直径和深度是一个附加功能。Marposs可以提供基于2D光学技术的高精度测量解决方案,用于在计量实验室和生产环境中对转子和转子轴进行快速和多样的质量控制。触觉感应和光学技术的结合(也能在转子磁场的影响下工作)使测量能力达到理想水平。根据转子类型的不同,客户可使用定制的手动或自动方案进行不同的测试操作。通过反电动势分析检查永磁转子的磁场均匀性、检查感应电机鼠笼转子条的局部缺陷、绕线转子的绝缘测试,包括局部放电测量等。马波斯TM3PF是一个气动模块,用于自动系统和唱机转盘上的泄漏和气流测试。电线电缆直径检测仪

本质上NVH检测的原理是通过施加与实际工况相似(甚至更高)的转速和扭矩值来对齿轮进行检测。微米级轴类件精度测量

Marposs单啮测试系统可用于在实验室中测量试制样件,以验证齿轮设计过程。该测量系统也可测量变速箱(减速器)样品中待测样件相比于master,或待测样件相比于共轭齿轮的尺寸偏差。操作人员甚至可以调节齿轮中心距及轴线倾斜角,以比较大化降低噪音。对于齿轮制造过程在线监控来说,该监控系统旨在检测出磨削过程中的尺寸变化,从而在砂轮接触零件或修整器时能够极精确得控制进给速度。该系统尤其可以防止加工过程中的碰撞,检测机器或工装的故障,检测砂轮上的碎片,以及检测修整器的缺陷。微米级轴类件精度测量

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