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众所周知，IGBT开关损耗的原因是开关暂态过程中存在电压和电流的重叠部分。因为两者都是正的，所以会释放功率，对外工作产生热量。那么为什么IGBT开关过程中会有这样的特点呢？也就是说，为什么暂态电流先上升电压再下降，而暂态电压先上升再下降？IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。IGBT模块生产过程主要是把晶圆贴片在陶瓷基板上，键合线，插针，点胶密封等过程。一般所说的IGBT也指IGBT模块。浙江动态测试真空封盖自动线

VDMOS功率器件工艺流程是在功率场效应晶体管(VDMOS)的基础上，在其承受高压的飘移区(N型IGBT的N-层)之下增加一层P+薄层引入了电导调制效应，从而较大程度上提高了器件的电流处理能力。IGBT制造流程主要是包括芯片设计，晶圆制造，封装测试；IGBT芯片的制程正面和标准VDMOS差异不大，背面工艺包括:1) 背面减薄；2) 背面注入；3) 背面清洗；4)背面金属化；5) 背面Alloy；这里介绍下IGBT封装的工艺流程及其设备。首先了解下IGBT模块跟单管主要优势有以下几个。多个IGBT芯片并联，IGBT的电流规格更大。多个IGBT芯片按照特定的电路形式组合，如半桥、全桥等，可以减少外部电路连接的复杂性。多个IGBT芯片处于同一个金属基板上，等于是在单独的散热器与IGBT芯片之间增加了一块均热板，工作更可靠。一个模块内的多个IGBT芯片经过了模块制造商的筛选，其参数一致性比市售分立元件要好。一体化真空封盖自动线定制双极型晶体管(BJT)：它是IGBT的主要，它由两个双极型晶体管构成，它们可以产生高功率。

为了便于分析，我们以双脉冲测试电路为例进行分析。在这里，我们还需要强调的是，由于大多数工业应用负荷是感性的，所以在分析双脉冲测试时，我们只需要接收一个电感。对于开启临时状态分析，我们主要关注双脉冲第二脉冲开启临时状态的过程。至于原因，相信大家都应该清楚。[敏感词]个脉冲电流从0开始上升，不会造成开启损失，而是IGBT第二个在开关状态下工作的。3、4、5、n个脉冲的开启暂态本质上是一样的，但是电流的大小逐渐增加。不同电流下的开启暂态行为可以通过改变[敏感词]个脉冲的宽度来模拟，所以所有电流下的开启暂态分析都可以通过双脉冲来完成。IGBT超声焊接机

IGBT模块工艺流程简介：（1）检测：使用检测设备对焊接口进行平面和立体成像检测，不合格的产品经人工维修合格后进入下一工序；X射线检测，用来检查IGBT模块内部的焊接效果，有无空洞等缺陷，（2）晶圆键合、一体针上锡：使用键合机利用键合线连接一体针与DBC基板的上铜层、DBC基板与底板，该过程需使用二次焊组装机设备利用焊锡丝进行焊点预上锡。引线键合环节，机器人通过图像识别技术定位，然后使用超声波引线键合技术将芯片与芯片之间的电路自动连接完整。IGBT具有良好的可靠性，具有抗电磁干扰能力强、抗温度变化性能好和耐久性高等优点，可以长期稳定运行。

在国际节能环保的大趋势下，IGBT下游的新能源汽车、变频家电、新能源发电等领域发展迅速。加上我国经济飞速发展，能源需求量大幅上升，在这样的背景下，各企业对IGBT模块的需求逐步扩大，新兴行业的加速发展也持续推动IGBT市场的高速增长。以往国内的IGBT厂家主要以封装为主，IGBT芯片大部分都是购买的英飞凌、ABB等进口品牌。这些进口大厂的芯片技术比较成熟，良率及稳定性比较高，因此在封装过程中，因芯片本身质量问题导致的模块不良情况比较少，所以绝大部分封装厂都是在IGBT模块封装成成品以后才做动态参数测试。由于其高效率、低损耗和可靠性，IGBT在电动汽车控制、动力转换和充电系统等方面有着重要的应用。云南一体化真空灌胶自动线

IGBT的损耗一般比MOSFET要低，可以达到1W-15MW之间。浙江动态测试真空封盖自动线

电迁移、电化学腐蚀和金属化重构，IGBT功率模块芯片顶部有一层Al金属薄膜，用于与外界连接。在电流和温度梯度的作用下，Al金属离子会沿着导体移动，如沿键合线移动，产生净质量运输，导致薄膜上出现空洞、小丘或晶须。随着设备的老化，硅胶的气密性降低，外部物质与Al金属薄膜接触，导致电化学腐蚀。常见的有Al自钝化反应、单阳极腐蚀电池反应和与污染的离子反应。金属化重建是由于Al和芯片上SiO2的CTE值相差两个数量级，导致界面循环应力，Al原子扩散，导致丘陵、晶须和空洞，较终导致塑性变形和裂纹。上述因素导致的Al膜失效会加剧键合点的疲劳，较终导致键合线脱落或电场击穿失效。浙江动态测试真空封盖自动线