上海明策发射率测量仪准不准

时间:2024年11月12日 来源:

明策代理:半球发射率测量仪AE1&RD1——美国D&S-现货库存

读数器:D&S微型数字伏特计。

型号RD1输出:材料温度为25℃时,2.4毫伏通常对应材料发射率为0.9

线性关系:检测器输出和发射率成线性关系,精度为+0.01发单位测量时间:

10s加热装置:加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度:高达130华氏度,约为55℃

漂移:输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以想睡不计标准体:提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。

电源:100-240V/50-60Hz,12V直流输出

测量波长:3-30um

测量范围:0-1测量精度:±0.01被测样品尺寸:Min5.7cm(可选配2.54cm样品探测器)外形尺寸:探测头中57X107mm,测量台H46mmx宽105mmxD152mm

标准配置:AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,校准证书、操作手册、手提箱。 D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致。上海明策发射率测量仪准不准

发射率测量仪

    通常采用的反射计有热腔反射计、积分球(抛物面、椭球面等)反射计、镜面反射计及测角反射计等。(1)热腔反射计法测量范围通常为1~15μm,精度3%~5%,但该方法的精度在很大程度上取决于样品温度,而且必须很大低于热腔壁的温度,所以不适于高温测量,但此方法能测出样品的光谱及方向发射率,样品制备简便,设备简单,测试周期也较短,故仍得到一定应用。2)积分球反射计主要部分是一个具有高反射率的漫反射表面积分球。工作原理是被测样品置于球心处,入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上,经过球面一次反射即均布在球表面上,探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。然后某一已知反射率的标准样品取代被测样品,重复前述过程。两次测量辐射反射能之比即为反射率系数,被测样品的反射率即为此系数乘以标准样品的反射率。此方法温度范围宽,上限可达5000℃以上。(3)激光偏振法测量精度优于5%,测量时间小于,但只能测量光滑表面的材料发射率。原理为分别测量反射光两个偏振方向的强度比。 上海明策发射率测量仪准不准AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪*对辐射热传输响应。

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在日新月异的科技浪潮中,精细测量技术作为推动工业进步与科研创新的关键力量,正以前所未有的速度发展。上海明策电子科技有限公司,作为行业内的佼佼者,凭借其深厚的研发实力与敏锐的市场洞察力,成功推出了新一代发射率测量仪,为材料科学、热工测试、环境监测等多个领域带来了变革。发射率,作为衡量物体表面辐射能力的重要物理量,在温度测量、热效率评估等方面扮演着至关重要的角色。然而,传统测量方法往往受限于环境干扰、材料特性差异等因素,难以实现高效、精细的测量。上海明策电子科技有限公司深刻洞察这一行业痛点,历经数年潜心研发,终于推出了这款集高精度、高稳定性、易操作于一体的发射率测量仪。

    归类常见的人体红外线测温仪可分成红外热成像人体体温迅速筛检仪和红外体温计两大类。红外热成像人体体温迅速筛检仪,可在人流密集的公共场合开展大规模检测,全自动追踪、警报高溫地区,与不可见光视頻相互配合,迅速找到并跟踪人体体温较高的工作人员。当红外热成像人体体温迅速筛检仪集成化面部识别、手机上探头等技术性时,还能把握人体体温较高工作人员的其他信息。红外体温计又可分成红外线耳温计和红外额温计,红外体温计机器设备简易、方便使用、价钱性价比高,运用,可完成对工作人员的先后、迅速温度测量。基本原理及精确测量方法身体的发热量会根据辐射热的方式释放到自然环境中,人体红外线测温仪根据内嵌的控制器检测身体的辐射热,进而完成测体温的目地。 然后仪器就会根据这个标准,计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。

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材料表面发射率/辐射率的研究以及测量已经经过了很长的一段时间发展,近五十年来材料发射率的测量方法有了很大的进展,目前已经建立了分别适用于不同温度和状态以及不同物质的各种测试方法。大致分为两个大的方向,半球发射率测量以及方向发射率测量。而半球发射率通常用的就是量热法。量热法的基本原理是:一个热交换系统包含被测样品和周围相关物体,根据热传理推导出系统有关材料发射率的传热方程,通过测量样品某些点的温度值得到系统的热交换状态,即能求得发射率。把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。上海明策发射率测量仪准不准

线性关系:该测量仪输出和发射率成线性关系,偏差小于±0.01。上海明策发射率测量仪准不准

对于不规则表面,由于部分表面与测量口的距离不一,测得的反射率通常偏低。

建议的方法是,在测量口与表面接触及不同距离下分别测量反射率。然后,通过估算表面与测量口“接触”时的平均距离,利用已有的平面样品的反射率与距离的关系曲线,对测量结果进行修正。

实际测量在实际操作中,由于表面通常不仅有纹理,还有色彩的差异,因此需要大量测量以获得准确的平均值。文中提供了红色碎石铺石的测量数据,经过修正后的反射率变化不大,表明修正方法适用于这种类型的表面。 上海明策发射率测量仪准不准

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