广东自动IC老化测试设备批量价格
IC产品可靠性等级测试之使用寿命测试项目:1、EFR:早期失效等级测试(EarlyfailRateTest)目的:评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。测试条件:在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。2、HTOL/LTOL:高/低温操作生命期试验(High/LowTemperatureOperatingLife)目的:评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力测试条件:125℃,1.1VCC,动态测试失效机制:电子迁移,氧化层破裂,相互扩散,不稳定性,离子玷污等参考标准:125℃条件下1000小时测试通过IC可以保证持续使用4年,2000小时测试持续使用8年;150℃1000小时测试通过保证使用8年,2000小时保证使用28年。针对不同的IC封装参数,必须使用与之匹配的IC烧录配件!广东自动IC老化测试设备批量价格
FLA-6620AS高温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持3360颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温的同时确保温度准确。
性能特点
1:温度准确,产品周边温度稳定控制在±3°内
2:升温速度:可同时针对
3、360颗芯片进行老化测试
4:测试座可拔插替换式,方便更换与维护
5:预留MES系统对接接口
6:更換不同老化板即可兼容生产eMMC/eMCP/ePOP/UFS产品
7:单颗DUT电源设计,保护产品
设备型号FLA-6620AS使用产品类别eMMC/eMCP/ePOP/UFS温度范围常温~+85℃测试DUT数3360pcs电源三相380V功率30KV尺寸3320mm(长)x2350mm(高)x1300mm(深)重量1000kg。 高效IC老化测试设备交期多长FLA-6620AS可同时针对3360颗芯片进行老化测试。
FLA-6630ASFLA-6630AS高低温老化设备,是一款专门针对eMMC、UFS、eMCP…等颗粒存储芯片进行高低温老化的设备。设备采用专业工控机和Windows系统控制,能够同时支持5040颗芯片同步老化测试,腔体可在产生高温(低温)的同时确保温度准确。
性能特点
1:温度准确,产品周边温度稳定控制在±3°内
2:升降温速度:可同时针对5040颗芯片进行老化测试
3:测试座可拔插替换式,方便更换与维护
4:预留MES系统对接接口
5:更換不同老化板即可兼容生产eMMC/eMCP/ePOP/UFS产品
6:单颗DUT电源设计,保护产品
设备型号FLA-6630AS使用产品类别eMMC/eMCP/ePOP/UFS温度范围‘-20℃~+85℃测试DUT数5040pcs电源三相380V功率30KV尺寸3350mm(长)*1450mm(深)*2300mm(高)重量1200kg。
使用老化测试座有哪些优势?
可靠性验证:老化测试座能够模拟产品在长时间使用过程中的性能表现,通过持续运行来验证产品的耐用性。它有助于检测可能存在的故障问题,提前发现并解决潜在的产品质量隐患。
寿命评估:通过将产品放置在老化测试座上进行长时间运行,可以预测产品在实际使用环境下的寿命。通过观察和记录产品在长时间运行后的性能变化,可以预测产品的使用寿命和耐用性。
加速失效:老化测试座可以加速产品的失效过程,使产品在相对短的时间内经历长时间使用产生的疲劳、磨损和老化。这有助于更快地发现可能存在的问题,以便及时进行改进和优化。
节省时间和成本:老化测试座能够快速、可靠地对产品进行长时间稳定运行测试,从而节省了人力和时间成本。通过有效的老化测试,可以减少后期维修和更换的频率,降低产品售后成本。
提高产品质量:通过老化测试,可以发现产品的弱点和不足之处,并及时进行改进和优化。这有助于提高产品质量和耐用性,增加用户满意度和品牌信誉。 优普士完整的E化平台系统整合计划,与物流及代理商电子商务平台链接计划。
优普士电子FP-006C一款专门针对eMMC颗粒存储芯片进行整盘产品高低温老化的老化板。采用整盘产品同时接触技术,精度高。
性能特点:
1:占用空间小
2:可同时测试152pcs产品
3:ARM内可建制BIB自我检测功能
4:BIB板内建制温度侦测功能
5:预留MES系统对接接口
6:单颗DUT电源设计,保护产品。
设备型号FP-006C使用产品类别:eMMC、温度范围:-20℃~85℃测试DUT数:152pcs尺寸:400mm(长)*380mm(宽)*50mm(高)重量4kg。是一款不错的设备。 FLA-66ALU6 是专门上下料的设备,可实现不同尺寸产品从IC tray到老化座、老化座到IC tray间物料上板下板功能。江苏使用IC老化测试设备报价行情
SP-352A,采用弹性更换测试座设计,可大幅降低工程技术人员维护时间。广东自动IC老化测试设备批量价格
半导体设备用高低温老化设备应用知识介绍:
半导体材料的温度会直接影响器件的电学特性和可靠性。以硅材料为例,它的导电性随着温度的升高而增强,而在温度较低时却表现出半导体的性质。此外,温度的变化还会导致硅材料晶体结构的改变,从而影响器件的性能。因此,通过IC老化测试设备可以对产品的可靠性进行测试。
用高低温老化设备可以适用于大规模的半导体检测。通过合理的设备布局和优化的控制算法,可以满足大规模制造过程中的需求。 广东自动IC老化测试设备批量价格
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