福建动态测试无功老化测试设备

由于共晶时所需的温度较高，特别是使用AuGe焊料共晶时，对基板和薄膜电路的耐高温性能提出了要求。要求电路能承受400℃的高温，电阻和导电性能在这个温度下不能改变。因此，共晶的一个关键因素是温度。它不光是达到一定的值温度，而是经过一个温度曲线变化的过程。在温度变化中，它还具有处理真空、充气、排气/水冷等任何随机事件的能力。这些都是共晶炉设备的功能。IGBT超声焊接机共晶焊接时形成的空隙会降低设备的可靠性，扩大IC断裂的可能性，增加设备的工作温度，削弱管芯的粘接能力。绝缘层：它是IGBT的基础，它由一层绝缘层构成，它可以保护IGBT元件免受外界环境的侵蚀和损坏。福建动态测试无功老化测试设备

目前主流使用的包装形式有焊接型和压接型。两种包装结构在功率密度、串并联能力、制造成本、包装可靠性和散热能力等方面都有所不同。由于压接包装具有双面冷却和故障自短路效应，在散热、可靠性和串联性方面优于焊接包装，普遍应用于高功率密度场合，如高压电网和高功率机械设备，但包装复杂而笨重。焊接包装结构因其制造工艺简单、成本低、并联能力强，普遍应用于消费电子、汽车电子等低功率密度场合。这两种包装结构导致了不同的故障机制，但其本质主要是IGBT芯片工作产生的热量没有立即消耗，导致温度梯度，较终导致包装材料疲劳导致故障。IGBT超声焊接机专业真空封盖自动线定制由于其高效率、低损耗和可靠性，IGBT在电动汽车控制、动力转换和充电系统等方面有着重要的应用。

无损检测焊料层的空洞一般采用X-RAY(X射线)无损检测，X-ray检测设备是一种通过x射线通过检测对象进行内部显像，然后通过检测图像直观地看到内部缺陷的检测方法。x射线无损检测普遍应用于半导体检测。可有效检测IGBT模块内的空洞率、位置和尺寸，有效帮助客户分析半导体的可靠性。两侧水冷IGBT是新能源汽车发展的需要，主要是为了解决车载逆变器的功率密度问题。与目前的IGBT模块相比，DCB在模块顶部形成了第二个排热通道，用于提高模块的散热效果。作为两侧水冷模块，首先需要保证塑料密封材料在不同温度下的机器一致性。22℃和150℃模块表面平整度好，防潮性能优异。增加模块上方的排热通道后，散热效果提高70%。需要注意的是，热阻值受表面影响很大，达到热阻。

对于IGBT模块，模块的外部是外壳和金属端子。内部不只有芯片、绑定线、DBC绝缘陶瓷衬底，还有焊接层。我们通常称之为机械连接。如何检测这些机械连接的质量？超声波断层扫描成像技术派上了用场。功率模块是实现绿色能源转换的重要组成部分。作为使用频率[敏感词]的电源转换芯片，绝缘门极晶体管是故障频率[敏感词]的装置，大量研究了其故障机理和检测方法。可靠的包装是IGBT功率模块可靠性的重要组成部分，为芯片工作提供稳定的电气连接、良好的绝缘性和充分的抗干扰能力。IGBT的损耗一般比MOSFET要低，可以达到1W-15MW之间。

焊接 IGBT 功率模块封装失效机理：键合线失效，一般使用 Al 或 Cu 键合线将端子与芯片电极超声键合实现与外部的电气连接，两种材料均与 Si 及Si 上绝缘材料，如 SiO2 的 CTE 差别较大。当模块工作时，IGBT 芯片功耗以及键合线的焦耳热会使键合线温度升高，并在接触点和键合线上产生温度梯度，形成剪切应力。长时间处于开通与关断循环的工作状态，产生应力及疲劳形变累积，会导致接触点产生裂纹，增大接触热阻，焦耳热增多，温度梯度加大较终导致键合线受损加剧，形成正向反馈循环，较终导致键合线脱落或断裂。研究表明，这些失效是由材料 CTE 不匹配导致的结果。键合线断裂的位置出现在其根部，这种根部断裂是键合线失效的主要表现。一些研究指出，可以通过优化键合线的形状来改善其可靠性。具体而言，键合线高度越高、键合线距离越远，键合线所受应力水平越低，可靠性越高。汽车IGBT模块测试标准主要参照AEC-Q101和AQG-324，同时车企会根据自己的车型特点提出相应的要求。高精度网带式气氛烤炉制造

IGBT是将晶体管的特性和开关电路的特性结合在一起，让它成为一种可以控制电流的新型电子元件。福建动态测试无功老化测试设备

在国际节能环保的大趋势下，IGBT下游的新能源汽车、变频家电、新能源发电等领域发展迅速。加上我国经济飞速发展，能源需求量大幅上升，在这样的背景下，各企业对IGBT模块的需求逐步扩大，新兴行业的加速发展也持续推动IGBT市场的高速增长。以往国内的IGBT厂家主要以封装为主，IGBT芯片大部分都是购买的英飞凌、ABB等进口品牌。这些进口大厂的芯片技术比较成熟，良率及稳定性比较高，因此在封装过程中，因芯片本身质量问题导致的模块不良情况比较少，所以绝大部分封装厂都是在IGBT模块封装成成品以后才做动态参数测试。福建动态测试无功老化测试设备