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时间：2024年04月15日来源：

Cle4.0测试的CBB4和CLB4夹具无论是Preset还是信号质量的测试，都需要被测件工作在特定速率的某些Preset下，要通过测试夹具控制被测件切换到需要的设置状态。具体方法是：在被测件插入测试夹具并且上电以后，可以通过测试夹具上的切换开关控制DUT输出不同速率的一致性测试码型。在切换测试夹具上的Toggle开关时，正常的PCle4.0的被测件依次会输出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps如何区分pci和pci-e(如何区分pci和pcie) ？中国香港PCI-E测试工厂直销

综上所述，PCIe4.0的信号测试需要25GHz带宽的示波器，根据被测件的不同可能会同时用到2个或4个测试通道。对于芯片的测试需要用户自己设计测试板；对于主板或者插卡的测试来说，测试夹具的Trace选择、测试码型的切换都比前代总线变得更加复杂了；

在数据分析时除了要嵌入芯片封装的线路模型以外，还要把均衡器对信号的改善也考虑进去。PCIe协会提供的SigTest软件和示波器厂商提供的自动测试软件都可以为PCle4. 0的测试提供很好的帮助。山东校准PCI-E测试PCI Express物理层接口(PIPE)；

在之前的PCIe规范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一个参考时钟(RefClk),在这种芯片的测试中也是需要使用一个低抖动的时钟源给被测件提供参考时钟，并且只需要对数据线进行测试。而在PCIe4.0的规范中，新增了允许芯片使用内部提供的RefClk(被称为Embeded RefClk)模式，这种情况下被测芯片有自己内部生成的参考时钟，但参考时钟的质量不一定非常好，测试时需要把参考时钟也引出，采用类似于主板测试中的Dual-port测试方法。如果被测芯片使用内嵌参考时钟且参考时钟也无法引出，则意味着被测件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法进行特殊处理。

PCle5.0的链路模型及链路损耗预算在实际的测试中，为了把被测主板或插卡的PCIe信号从金手指连接器引出，PCI-SIG组织也设计了专门的PCIe5.0测试夹具。PCle5.0的这套夹具与PCle4.0的类似，也是包含了CLB板、CBB板以及专门模拟和调整链路损耗的ISI板。主板的发送信号质量测试需要用到对应位宽的CLB板；插卡的发送信号质量测试需要用到CBB板；而在接收容限测试中，由于要进行全链路的校准，整套夹具都可能会使用到。21是PCIe5.0的测试夹具组成。PCI-E测试信号完整性测试解决方案；

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PCI-E 3.0测试接收端容限测试；中国香港PCI-E测试工厂直销

并根据不同位置处的误码率绘制出类似眼图的分布图，这个分布图与很多误码仪中眼图扫描功能的实现原理类似。虽然和示波器实际测试到的眼图从实现原理和精度上都有一定差异，但由于内置在接收芯片内部，在实际环境下使用和调试都比较方便。PCIe4.0规范中对于Lane Margin扫描的水平步长分辨率、垂直步长分辨率、样点和误码数统计等都做了一些规定和要求。Synopsys公司展示的16Gbps信号Lane Margin扫描的示例。克劳德高速数字信号测试实验室中国香港PCI-E测试工厂直销

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