DDR测试数字信号测试USB测试
对于典型的3.3V的低电压TTL(LVTTL)信号来说，判决阈值的下限是0.8V,判决阈 值的上限是2.0V。正是由于判决阈值的存在，使得数字信号相对于模拟信号来说有更高的 可靠性和抗噪声的能力。比如对于3.3V的LVTTL信号来说，当信号输出电压为0V时， 只要噪声或者干扰的幅度不超过0.8V,就不会把逻辑状态由0误判为1;同样，当信号输出 电压为3.3V时，只要噪声或者干扰的幅度不会使信号电压低于2.0V,就不会把逻辑状态 由1误判为0。
从上面的例子可以看到，数字信号抗噪声和干扰的能力是比较强的。但也需要注意，这 个“强”是相对的，如果噪声或干扰的影响使得信号的电压超出了其正常逻辑的判决区间，数字信号也仍然有可能产生错误的数据传输。在许多场合，我们对数字信号质量进行分析和 测试的基本目的就是要保证其信号电平在进行采样时满足基本的逻辑判决条件。 数字信号常用的编码方式有哪些？DDR测试数字信号测试USB测试
要把并行的信号通过串行总线传输，一般需要对数据进行并/串转换。为了进一步减少传输线的数量和提高传输距离，很多高速数据总线采用嵌入式时钟和8b/10b的数据编码方式。8b/10b编码由于直流平衡、支持AC耦合、可嵌入时钟信息、抗共模干扰能力强、编解码结构相对简单等优点，在很多高速的数字总线如FiberChannel、PCIe、SATA、USB3.0、DisplayPort、XAUI、RapidIO等接口上得到广泛应用。图1.20是一路串行的2.5Gbps的8b/10b编码后的数据流以及相应的解码结果，从中可以明显看到解出的K28.5等控制码以及相应的数据信息。DDR测试数字信号测试USB测试数字信号的时钟分配（Clock Distribution）;
数字信号的时钟分配(ClockDistribution)
前面讲过，对于数字电路来说，目前绝大部分的场合都是采用同步逻辑电路，而同步逻辑电路中必不可少的就是时钟。数字信号的可靠传输依赖于准确的时钟采样，一般情况下发送端和接收端都需要使用相同频率的工作时钟才可以保证数据不会丢失(有些特殊的应用中收发端可以采用大致相同频率工作时钟，但需要在数据格式或协议层面做些特殊处理)。为了把发送端的时钟信息传递到接收端以进行正确的信号采样，数字总线采用的时钟分配方式大体上可以分为3类，即并行时钟、嵌入式时钟、前向时钟，各有各的应用领域。
时域数字信号转换得到的频域信号如果起来，则可以复现原来的时域信号。
描绘了直流频率分量加上基频频率分量与直流频域分量加上基频和3倍频频率分量，以及5倍频率分量成的时域信号之间的差别，我们可以看到不同频域分量的所造成的时域信号边沿的差别。频域里包含的频域分量越多，这些频域分量成的时域信号越接近 真实的数字信号，高频谐波分量主要影响信号边沿时间，低频的分量影响幅度。当然，如果 时域数字信号转变岀的一个个频率点的正弦波都叠加起来，则可以完全复现原来的时域 数字信号。其中复原信号的不连续点的震荡被称为吉布斯震荡现象。 幅度测量是数字信号常用的测量，也是很多其他参数侧鲁昂的基础。
采用前向时钟的总线因为有专门的时钟通路，不需要再对数据进行编解码，所以总线效率一般都比较高。还有一个优点是线路噪声和抖动对于时钟和数据线的影响基本是一样的(因为走线通常都在一起),所以对系统的影响可以消除到小。
嵌入式时钟的电路对于线路上的高频抖动非常敏感，而采用前向时钟的电路对高频抖动的敏感度就相对小得多。前向时钟总线典型的数据速率在500Mbps～12Gbps.
在前向时钟的拓扑总线中，时钟速率通常是数据速率的一半(也有采用1/4速率、1/10或其他速率的),数据在上下边沿都采样，也就是通常所说的DDR方式。使用DDR采样的好处是时钟线和数据线在设计上需要的带宽是一样的，任何设计上的局限性(比如传输线的衰减特性)对于时钟和数据线的影响是一样的。
前向时钟在一些关注效率、实时性，同时需要高吞吐量的总线上应用比较，比如DDR总线、GDDR总线、HDMI总线、Intel公司CPU互连的QPI/UPI总线等。 数字信号处理技术经过几十年的发展已经相当成熟，目前在很多领域都有着宽敞的应用。DDR测试数字信号测试USB测试
数字信号是由“0”和“1”。DDR测试数字信号测试USB测试
数字信号的建立/保持时间(Setup/HoldTime)
不论数字信号的上升沿是陡还是缓，在信号跳变时总会有一段过渡时间处于逻辑判决阈值的上限和下限之间，从而造成逻辑的不确定状态。更糟糕的是，通常的数字信号都不只一路，可能是多路信号一起传输来一些逻辑和功能状态。这些多路信号之间由于电气特性的不完全一致以及PCB走线路径长短的不同，在到达其接收端时会存在不同的时延，时延的不同会进一步增加逻辑状态的不确定性。
由于我们感兴趣的逻辑状态通常是信号电平稳定以后的状态而不是跳变时所的状态，所以现在大部分数字电路采用同步电路，即系统中有一个统一的工作时钟对信号进行采样。如图1.5所示，虽然信号在跳变过程中可能会有不确定的逻辑状态，但是若我们只在时钟CLK的上升沿对信号进行判决采样，则得到的就是稳定的逻辑状态。 DDR测试数字信号测试USB测试
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