中山场效应管按需定制

栅极电压（UGs）对漏极电流（ID）的控制作用称为转移特性，反映这两者之间关系的曲线称为转移特性曲线。下图1-60所示为N沟道结型场效应管的转移特性曲线。当栅极电压UGs取不同的电压值时，漏极电流ID将随之改变。当ID=0时,UGS的值为场效应管的夹断电压Uq；当UGs=0时，ID的值为场效应管的饱和漏极电流Idss。在Ugs一定时，反映ID与Uds之间的关系曲线为输出特性曲线，也称为漏极特性曲线。上图1-61所示为N沟道结型场效应管的输出特性曲线。由图可见，它分为三个区：饱和区、击穿区和非饱和区。起放大作用时，应工作在饱和区（这一点与前面讲的普通三极管不同）。注意，此处的“饱和区”对应普通三极管的“放大区”。盟科有TO封装形式的MOS管。中山场效应管按需定制

为了避免普通音量电位器传输失真，非稳态接触电阻、摩擦噪声和操作易感疲惫之嫌，本机采用音响型极低噪声VMOS场效应管IRFD113作指触音量控制。其相对于键控音量电路又减少了一些元件，并加以屏蔽，使音量控制部分的噪声系数达到1dB以下(VMOS场效应管噪声系数在0.5dB左右)，敢与优良真空步进电位器或无源变压器电位器抗衡，手感更贴切人性化。VMOS场效应管内阻高，属电压控制器件，在栅极及源极之间连接充电电容，由于栅漏电流极小，电容电压在很长一段时间内能基本保持不变。当管子工作于可调电阻区时，其漏源极电阻将受到栅源极电压即电容的电压所控制，这时管子相当于压控可变电阻，当指触(依手指电阻导电)开关S1闭合，即向电容充电，当指触开关S2闭合，即将电容放电，从而达到以电压控制漏源极电阻的目的。将其按入音响设备中，即可调节音量的大小。S1和S2可用薄银片或薄铜片制作，间距2mm左右，待调试后确定，音量增减量设置在±2dB左右。汕头场效应管批量定制低压mos管选择深圳盟科电子。

三极管是流控型器件，MOS管是压控型器件，可控硅不单单是流控型器件，稍微复杂一点。分别介绍。三极管的控制方式三极管是常用的电子元器件，可以用作开关，也可以用作信号放大。三极管分为NPN型和PNP型，当三极管的PN结正向偏置之后，三极管导通。对于NPN三极管而言：在基极是高电平时，三极管导通；在基极是低电平时，三极管截至。对于PNP三极管而言：在基极是高电平时，三极管截至；在基极是低电平时，三极管导通。MOS管的控制方式MOS管是压控型的器件，与三极管相比较，其过电流能力会更大。MOS管分为NMOS管和PMOS管。其导通条件不一样。NMOS管，在Vgs>0时导通，Vgs<><0时导通，vgs>0截至；可控硅的控制方式可控硅的控制方式稍微复杂一点，可控硅共有四个工作象限，而且可控硅一旦导通，移除门极触发信号后，依然导通不会关断。可控硅的导通条件：门极存在满足条件的触发电流，T1和T2存在大于管压降的电压。可控硅的截至条件：门极触发信号移除，T1和T2之间的电流小于维持电流。

电子产品失效故障中，虚焊焊点失效占很大比重，据统计数字表明，在电子整机产品故障中，有将近一半是由于焊接不良引起的，几乎超过电子元器件失效的概率，它使电子产品可靠性降低，轻则噪声增加技术指标劣化，重则电路板无法完成设计功能，更为严重的是导致整个系统在未有任何前兆的情况下突然崩溃，造成重大的经济损失和信誉损失。在电子产品生产的测试环节以及售后维修环节，虚焊造成的故障让技术人员在时间、精力上造成极大的浪费，有时为找一个虚焊点，用上一整天的时间的情况并不鲜见。在电子产品生产过程及维修过程中，即使从各方面努力，也无法杜绝虚焊现象，因此，虚焊一直是困扰电子行业的焦点问题。笔者长期从事电子产品装联、电子电路测试、电子产品优化和电子产品系统维修，浅谈《电子产品生产中虚焊分析及预防》，旨在减少虚焊的危害，提高电子产品质量，也是抛砖引玉，以引起大家对虚焊的注。虚焊：在电子产品装联过程中所产生的不良焊点之一，焊点的焊接界面上未形成良好的金属间化合物（IMC）,它使元器件与基板间形成不可靠连接。（这里定义的虚焊指PCBA上的焊点虚焊。）产生原因：基板可焊面和电子元件可焊面被氧化或污染。盟科MK6400参数是可以替代万代AO6800的参数。

目视可检查出较为严重的氧化，对于氧化后的电子元器件，或弃之不用，或去氧化处理合格后再用。一般处理氧化层采用外力擦、刮；微酸清洗；涂抹助焊剂，然后搪锡使用。（表面贴装元器件因其封装体积小，氧化一般不易处理，通常退回厂家换货或报废处理）元器件是否氧化除目检以外，还有较为复杂详细的可焊性试验检测标准，条件不具备的，可用手工、波峰焊或回流焊方法，对元器件进行批次抽样试焊。电子元器件储存条件及储存期见下表：元器件可焊面的污染在电子产品生产中，元器件要经过来料接收清点、存储、发料、成型和插件（THT工艺）、SMC和SMD的上下料、贴装和手工补焊等工序或操作，难免会产生灰尘、油污及汗渍的污染，造成电子元器件焊面的可焊性下降。在电子装联生产场所，保持洁净的生产环境，穿戴防护用品，严格按操作规程操作，是防止元器件污染的有效措施。元器件引脚变形SMD器件，特别是其中细脚间间距的QFP、SOP封装器件，引脚极易损伤变形，引脚共面性变差，贴装后，部分引脚未紧贴焊盘，造成虚焊，见下图1：预防:对细间距贴装IC，用**工具取放，切记不能用手直接触碰引脚，操作过程中，防止IC跌落，QFP常用盘装，SOP一般为杆式包装。生产过程中切忌弯曲）。mos管代工选择深圳盟科电子。惠州场效应管加工厂

场效应管在源极金属与衬底连在一起时，源极和漏极可以互换使用，且特性变化不大。中山场效应管按需定制

取出的MOS器件不能在塑料板上滑动，应用金属盘来盛放待用器件。焊接用的电烙铁须要不错接地。在焊接前应把电路板的电源线与地线短接，再MOS器件焊接完成后在分离。MOS器件各引脚的焊接依次是漏极、源极、栅极。拆机时依次相反。电路板在装机之前，要用接地的线夹子去碰一下机械的各接线端子，再把电路板接上来。MOS场效应晶体管的栅极在容许条件下，接入保护二极管。在检修电路时应留意查明原来的保护二极管是不是损坏。JK9610A型功率场效应管测试仪：是一种新颖的全数字显示式功率场效应管参数测试设备，可用于标称电流约在2-85A，功率在300W以内的N沟导和P沟导功率场效应管主要参数的测试。场效应管测试仪它可以精确测量击穿电压VDSS、栅极打开电压VGS(th)和放大特点参数跨导Gfs，更是是跨导Gfs的测试电流可以达到50A，由于使用脉冲电流测试法，即使在大电流测试时也不会对被测器件导致任何损坏，更可以在大电流状况下对场效应管开展参数一致性的测试(配对)；仪器全然可用于同等电流等级的IGBT参数的测量；仪器还是一台性能甚为优于的电子元器件耐压测试装置，其测试耐压时的漏电流有1mA、250uA、25uA三挡可以选项。中山场效应管按需定制

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