天津钨灯丝扫描电子显微镜系统

电子显微镜（ElectronMicroscope）是采用电子束为光源，照射固体材料，以电子束散射的电子为信号，主要用于对材料表面或内部结构形态形貌进行高分辨成像，包括透射电子显微镜（TEM）、扫描透射电子显微镜（STEM）、扫描电子显微镜（SEM）。电子束轰击固体样品，在其表面或内部发生散射时，各种散射信号被相应探测器采集后，可直接或间接体现固体样品在微观区域独特的物理化学信息，如透射电子（TE结构形体，电子衍射，能量损失谱元素及价态特征），二次电子（SE形貌形态信息），背散射电子（BSE原子序数和相差异），特征X射线(EDX体相元素组分），俄歇电子（AE表面元素组分），阴极荧光（CL电子态信息），等离子激发（EELS元素及价态），电声（电子通道反差）等。微观物理化学结构特征决定材料宏观性能，对其开展精确分析意义重大。电子显微镜电子源阴极和阳极之间的电压差必须非常高，一般在数千伏到3百万伏特之间。天津钨灯丝扫描电子显微镜系统

SEM是什么？先放一张图SEM（扫描电子显微镜）的图片，实验室的真家伙我还没见过，不过看样子应该不算太便宜，以后应该也不让随变搞，到时候再说，反正我肯定要玩儿它几次才行，一看就比显微镜高级，说来惭愧，显微镜还没玩儿几次呢。这个东西跟显微镜有相似的地方，就是可以用来观察物理细节，成像。但是显微镜由于使用的是自然光，由于可见自然光的波长问题，光学显微镜的使用是有局限的，放大倍数有极限，也就是分辨率有物理极限【大于200nm】，没法突破，观察到的细节的东西就那样，学过大物的应该还记得光栅，当间隙小到小于光波的振幅的时候，光就抖不过去了，这个跟那个意思差不多。但是电子显微镜，用到的不是自然，而是用的电子，电子才多大，所以放大倍数比光学显微镜也就高那么十万倍。当然电子束也是有波长的，但是随着电压的升高，电子束速度越快，波长也就越短。上海台式扫描电子显微镜公司扫描电子显微镜具有景深大、图像立体感强、分辨率高、图像范围大以及样品制备过程比较简单等优点。

当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息;对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。

透射电镜相衬技术：晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究，这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候，观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量，对相衬图像的识别更加复杂。然而，这种成像方法的优势在于可以提供有关样品的更多信息。通过调整磁透镜使得成像的光圈处于透镜的后焦平面处而不是像平面上，就会产生衍射图样。对于单晶体样品，衍射图样表现为一组排列规则的点，对于多晶或无定形固体将会产生一组圆环。对于单晶体，衍射图样与电子束照射在样品的方向以及样品的原子结构有关。通常但但根据衍射图样上的点的位置与观测图像的对称性就可以分析出晶体样品的空间群信息以及样品晶体方向与电子束通路的方向的相对关系。电子显微镜的发明，极大推动材料科技发展。

透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope，简称TEM)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前者用电子束作光源，用电磁场作透镜。另外，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。这种切片需要用超薄切片机（ultramicrotome）制作。电子显微镜的放大倍数较高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，如果细分的话：主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子、聚光镜、物样室、物镜、衍射镜、中间镜、投影镜、荧光屏和照相机。电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成。四川mini sem电子显微镜系统

透射电子显微镜突破了光学显微镜分辨率低的限制，成为了诊断疑难病瘤的一种新的工具。天津钨灯丝扫描电子显微镜系统

扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子，可以进一步提高到3nm。仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同时在高放大倍数下也可获得一般透射电镜较难达到的高亮度的清晰图像。观察样品的景深大，视场大，图像富有立体感，可直接观察起伏较大的粗糙表面和试样凹凸不平的金属断口象等，使人具有亲临微观世界现场之感。天津钨灯丝扫描电子显微镜系统

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