江西APPH6040相噪分析仪与频谱仪

时间:2023年03月16日 来源:

相位噪声的测试技术---传统的测试方法主要有直接频谱仪法、基于低通采样的鉴频法和鉴相法,另外一种就是基于带通采样的中频频谱分析法。

直接频谱仪法是一种容易、简单的相位噪声测量技术,它可以直接显示单边带相位噪声 Lp(f),精确地显示两边带上的离散信号。该方法适宜测量漂移 较小但相位噪声相对较高的信号源。其缺点是不能测量频谱纯净的源,这主要是受频谱仪的动态范围和分辨带宽的限制:不能分辨调幅噪声和相位噪声,故对调幅噪声严重的源不能直接测得相位噪声Lp(f).也不适于测量漂移严重的源的 Lp(f)。

鉴频法具有不需要参考频率源、低的宽频带噪声底部、抑制调幅、结构简单等特点。但是该方案在近载频处系统灵敏度低,宽带移相器制作困难,只适宜于测量近载频噪声电平较高,即频率随机漂移较大振荡器。 APPH相位噪声分析仪以及有源和无源非自振设备,如放大器或分频器等。江西APPH6040相噪分析仪与频谱仪

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在现代高科技电子技术中,相位精度是基本的参数之一,相位精度与其他许多外部参数的测量体系和测量结果有着直接的密切关系,因此相位精确测量将变得更加重要。测量相位的方法有很多。其中电子计数器测量相位具有精度高、使用方便、测量快速、测量过程自动化方便等优点,是相位测量的重要手段之一。现代相位测量技术的发展可以分为三个阶段。第一步是早期采用的,如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法、平衡法等,方法简单,但测量精度低。第二步是利用数字电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等。APPH6040相噪分析仪厂家现货相噪分析仪如何测量?

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频率源的相位噪声是对电子设备和电子系统性能影响很大的一个非常重要的性能指标,从频域来看,在载波信号两侧分布着功率谱。当使用该信号进行各种频率基准时(无论是发射激励信号还是接收机本振信号),这些相位噪声在调整过程中会像信号一样出现在解调终端上,从而导致基带信噪比下降。降低通信系统中火炉的信噪比,提高错误率。雷达系统中影响目标的分辨率,即改进系数。接收机本振的相位噪声在出现强干扰信号时,增加接收器的有效噪声系数。因此,随着电子技术的发展,对频率源的相位噪声要求越来越严格。因为低相位噪声在物理、天文、无线通信、雷达、航空航天、精密测量仪器仪表等多个领域受到重视。

相位噪声的概念:

相位噪声是指信号源中,输出频率的短期稳定性指标。由于相位噪声的存在,引起载波频谱的扩展。在实际应用,所有信号源的输出都存在着幅度、频率或相位的起伏,这些相位起伏的特征描述通常叫做相位噪声。

相位噪声的来源:

信号源中的杂散分量一般是由电源纹波、机械振动或系统内部鉴相信号的泄漏或其它电路的信号蜜扰,具有一定的规律性。另外一种旱随机分布的相位噪声通常是由振荡器本身内各器件所产生的各种随机噪声引起的。 APPH相噪分析仪可在0.01 Hz至100 MHz的偏移范围内实现低至-190 dBc/Hz的测量。

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相位噪声指标对于当前的射频微波系统、移动通信系统、雷达系统等电子系统影响非常明显,将直接影响系统指标的优劣。该项指标对于系统的研发、设计均具有指导意义。相位噪声指标的测试手段很多,如何能够精细的测量该指标是射频微波领域的一项重要任务。随着当前接收机相位噪声指标越来越高,相应的测试技术和测试手段也有了很大的进步。同时,与相位噪声测试相关的其他测试需求也越来越多,如何准确的进行这些指标的测试也愈发重要。APPH相噪分析仪功能包括相位噪声和加性相位噪声、抖动和艾伦偏差、瞬态分析、VCO 表征和频谱监测。江西APPH6040相噪分析仪与频谱仪

APPH相位噪声分析仪尺寸为467.5 x 342 x 154 mm ,重量是10 kg。江西APPH6040相噪分析仪与频谱仪

延迟线法是把被测信号分成两路,一路信号经过延迟线后与另一路经过一个移相器移相后的信号进行鉴相,然后再滤波放大分析。延迟线的作用是将频率的变化转化为相位的变化,当频率变化时,将在延迟线中引起相位正比例的变化。双平衡混频器将相位变化转化为电压变化。该测试方法具有载波抑制、调幅噪声测试功能,测试时不需要额外的参考源,不需要信号同步,频率漂移不再是问题。但是该测试方法比较大频偏范围受限,高频时损耗较大,使得测试灵敏度较低,而且测试时需要校准,操作较为复杂。江西APPH6040相噪分析仪与频谱仪

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