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局部放电的原因:造成局部放电的因素除了设计上考虑不周密外，较主要的原因是由制造生产过程中造成的，一般有如下原因：1、零部件结构有尖角、毛刺，造成电场畸变，放电起始电压降低;2、有异物和粉尘，引起电场集中。在外电场作用下发生电晕放电或击穿放电;3、有水分或气泡。因水、气介电系数较低，在电场的作用下，首先发生放电;4、金属结构件悬浮剂接触不良，就会形成电场集中或产生火花放电。对于及时发现变压器故障，避免运行事故是非常必要的，从而为电力企业提高大型电力变压器安全运行水平和事故预知能力，有效降低事故率，优化检修策略，提高维护检修的技术水平，带来可观的经济效益。数字式局放仪是 技术人员根据多年高压电气设备局放检测经验设计生产。苏州局放传感器哪家靠谱

局部放电是只发生在绝缘体中的一部分区域的放电。这些放电也可能发生在电极上，但也可能是“无电极”发生在电场空间。局部放电会发生在：气体，液体和固体中。在发生局部放电时，不但会产生损耗，其产生的高能电子和UV辐射会对周围的绝缘材料造成损坏。不同的绝缘介质，局部放电会产生老化损害是不一样的：没有损害：流动的空气，天然物质例如玻璃云母；轻微损害：密闭气体绝缘例如SF6，空气；中度损害：油纸绝缘（变压器，DF）铸造树脂；严重损害：PE，VPE，几乎所有塑料。在局部放电对绝缘体造成轻微至严重损害的情况下，对它的测量变得尤为重要。苏州局放传感器哪家靠谱局放的在线监测设备供应。

局部放电测量的基本回路如图所示为测量局部放电的三种基本回路。图中C意味着试品电容， Z (Z)意味着测量阻抗，Ck意味着耦合电容，它的作用是为Cx与Zm之间提供 一个低阻抗的通道。Z意味着接在电源与测量回路间的低通滤波器，Z可以让工频电压作用到试品上，但阻止被测的高频脉冲或电源中的高频分量通过。 图 (a)中，试验电压U经Z施加于试品Cx,测量回路由Ck与Zm串联而成，并与Cx并联，因此称为并联测量回路。试品上的局部放电脉冲经Ck 耦合到Zm上,经放大器A送到测量仪器M。这种测量回路适合于试品一端接地的情况，在实际工作中应用较多。图 (b)为串联测量回路，测量阻抗Zm串联接在试品Cx低压端与地之间，并经由Ck形成放电回路。因此， 试品的低压端必须与地绝缘。图 (c)为桥式测量回路，又称平衡测量回路。试品Cx与耦合电容Ck均与地绝缘，测量阻抗Zm与Zm分别接在Cx 与Ck的低压端与地之间。

绝缘内部存在缺陷或混入各种杂质，或者在绝缘结构中存在某些电气连接不良，都会使局部电场集中，在电场集中的地方就有可能发生固体绝缘表面放电和悬浮电位放电。从局部放电发生的位置、放电过程和现象来看，局部放电可以分为三种类型：内部放电、表面放电和电晕放电。造成内部局部放电的常见原因是固体绝缘体内部存在气隙或液体绝缘内部存在气泡。绝缘内部气隙发生放电的机理随气压和电极系统的变化而异，从放电过程而论，可分为电子碰撞电离放电和流注放电两类;在放电形式上可分为脉冲型(火花型)放电和非脉冲型(辉光型)放电两种基本形式。局放测试结果需要进行可靠性分析。

所谓“局部放电”是指在电场作用下，绝缘系统中只有部分区域发生放电而并没有形成贯穿性放电通道的一种放电。产生局部放电的主要原因是电介质不均匀时，绝缘体各区域承受的电场强度不均匀，在某些区域电场强度达到击穿场强而发生放电，而其它区域仍然保持绝缘的特性。大型电气设备的绝缘结构比较复杂，使用的材料多种多样，整个绝缘系统电场分布很不均匀。由于设计或制造工艺上不尽完善使绝缘系统中含有气隙，或是在长期运行过程中绝缘受潮，水分在电场作用下发生分解产生气体而形成气泡。因为空气的介电常数比绝缘材料的介电常数小，即使绝缘材料在不太高的电场作用下，气隙气泡部位的场强也会很高，当场强达到一定值后就会发生局部放电。局放测试仪用户界面友好，操作方便。深圳局放监测价钱

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