新材料半导体器件加工实验室

刻蚀的基本原理是利用化学反应或物理作用，将材料表面的原子或分子逐层去除，从而形成所需的结构。刻蚀可以分为湿法刻蚀和干法刻蚀两种方式。湿法刻蚀是利用化学反应溶解材料表面的方法。常用的湿法刻蚀液包括酸性溶液、碱性溶液和氧化剂等。湿法刻蚀具有刻蚀速度快、刻蚀深度均匀等优点，但也存在一些问题，如刻蚀剂的选择、刻蚀液的废弃物处理等。干法刻蚀是利用物理作用去除材料表面的方法。常用的干法刻蚀方式包括物理刻蚀、化学气相刻蚀和反应离子刻蚀等。干法刻蚀具有刻蚀速度可控、刻蚀深度均匀、刻蚀剂的选择范围广等优点，但也存在一些问题，如刻蚀剂的选择、刻蚀剂的损伤等。晶圆的主要加工方式为片加工和批加工，即同时加工1片或多片晶圆。新材料半导体器件加工实验室

半导体制程是一项复杂的制作流程，先进的 IC 所需要的制作程序达一千个以上的步骤。这些步骤先依不同的功能组合成小的单元，称为单元制程，如蚀刻、微影与薄膜制程；几个单元制程组成具有特定功能的模块制程，如隔绝制程模块、接触窗制程模块或平坦化制程模块等；然后再组合这些模块制程成为某种特定 IC 的整合制程。大约在 15 年前，半导体开始进入次微米，即小于微米的时代，尔后更有深次微米，比微米小很多的时代。到了 2001 年，晶体管尺寸甚至已经小于 0.1 微米，也就是小于 100 纳米。辽宁压电半导体器件加工工厂晶片清洗过程是在不改变或损害晶片表面或基底除去的化学和颗粒杂质。

半导体技术材料问题：而且，材料是组件或 IC 的基础，一旦改变，所有相关的设备与后续的流程都要跟着改变，真的是牵一发而动全身，所以半导体产业还在坚持，不到后面一刻肯定不去改变它。这也是为什么 CPU 会越来越烫，消耗的电力越来越多的原因。因为CPU 中，晶体管数量甚多，运作又快速，而每一个晶体管都会「漏电」所造成。这种情形对桌上型计算机可能影响不大，但在可携式的产品如笔记型计算机或手机，就会出现待机或可用时间无法很长的缺点。也因为这样，许多学者相继提出各种新颖的结构或材料，例如利用自组装技术制作纳米碳管晶体管，想利用纳米碳管的优异特性改善其功能或把组件做得更小。但整个产业要做这么大的更动，在实务上是不可行的，顶多只能在特殊的应用上，如特殊感测组件，找到新的出路。

半导体技术挑战：曝光显影：在所有的制程中，很关键的莫过于微影技术。这个技术就像照相的曝光显影，要把IC工程师设计好的蓝图，忠实地制作在芯片上，就需要利用曝光显影的技术。在现今的纳米制程上，不只要求曝光显影出来的图形是几十纳米的大小，还要上下层结构在30公分直径的晶圆上，对准的准确度在几纳米之内。这样的精确程度相当于在中国大陆的面积上，每次都能精确地找到一颗玻璃弹珠。因此这个设备与制程在半导体工厂里是很复杂、也是很昂贵的。晶圆测试是指对加工后的晶圆进行晶片运收测试其电气特性。

半导体的发现实际上可以追溯到很久以前。1833年，英国科学家电子学之父法拉第先发现硫化银的电阻随着温度的变化情况不同于一般金属，一般情况下，金属的电阻随温度升高而增加，但法拉第发现硫化银材料的电阻是随着温度的上升而降低。这是半导体现象的初次发现。不久，1839年法国的贝克莱尔发现半导体和电解质接触形成的结，在光照下会产生一个电压，这就是后来人们熟知的光生伏特的效应，这是被发现的半导体的第二个特性。1873年，英国的史密斯发现硒晶体材料在光照下电导增加的光电导效应，这是半导体的第三种特性。MEMS采用类似集成电路(IC)的生产工艺和加工过程。广东新结构半导体器件加工

清洗是半导体制程的重要环节，也是影响半导体器件良率的较重要的因素之一。新材料半导体器件加工实验室

半导体技术挑战：除了精确度与均匀度的要求外，在量产时对于设备还有一项严苛的要求，那就是速度。因为时间就是金钱，在同样的时间内，如果能制造出较多的成品，成本自然下降，价格才有竞争力。另外质量的稳定性也非常重要，不只同一批产品的质量要一样，现在生产的IC与下星期、下个月生产的也要具有同样的性能，因此质量管控非常重要。通常量产工厂对于生产条件的管制，包括原料、设备条件、制程条件与环境条件等要求都非常严格，不容任意变更，为的就是保持质量的稳定度。新材料半导体器件加工实验室