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MRO茗熔 RS3-250A RS0-250A RGS32 快速熔断器RSO 250A 快熔保险
用途:本系列熔断体适用于交流50HZ,额定电压至690V,额定电流至1600A,主要用在电气线路中作为半导体设备的短路保护(aR)。本系列熔断体额定分段能力至100KA。本系列熔断体符合国家标准GB13539.1/GB13539.4和国际电工委标准IEC60269-1/IEC60269-4.结构特点:有纯银片制成的变截面熔体封装于**度瓷制成的熔管内;熔管中充满经化学处理过的高纯度石英砂作为灭弧介质;熔体二端采用点焊于触头牢固电连接。熔断体型式有方管刀形触头和方管平板形触头两种。 MIRO茗熔RGS9 aR 550V/200A;山西RS99A aR 660V/1000AMIRO茗熔一级代理库存充足
RS97D 700V 400A MRO茗熔 快速熔断器
配电系统中熔断器是起安全保护作用的一种电器,熔断器广泛应用于电网保护和用电设备保护,当电网或用电设备发生短路故障或过载时,可自动切断电路,避免电器设备损坏,防止事故蔓延。(- 般的工业用电设备都要用到熔断器。)熔断器由绝缘底座(或支持件)、触头、熔体等组成,熔体是熔断器的主要工作部分,熔体相当于串联在电路中的一段特殊的导线,当电路发生短路或过载时,电流过大,熔体因过热而熔化,从而切断电路。熔体材料具有相对熔点低、特性稳定、易于熔断的特点。一般采用铅锡合金、镀银铜片、锌、银等金属。 湖南RS98C aR 700V/500AMIRO茗熔批发采购RS87AZ 1600A现货直销;
MRO茗熔 快速熔断器 A70QS400-4 现货RS97D 400A
智能保险丝或三端保险丝是既可通过指令熔断,也可因过流而熔断的器件。通常,这种保险丝不但成本比以上方案高很多,而且还需要电源电压保持在一定的高度,才能真正熔断保险丝。否则,在出现故障时所有部件都会变得很热,而且可能不会引起安全关断。所有这四种方案都具有会导致故障跳变的两大主要问题。首先,它们无法限制上电时或掉电后进入系统的浪涌电流。其次,由于它们都需要调降,因此可能会允许充足的电流通过系统故障部位,使故障电路进一步发热,导致更严重的故障。例如,一个额定5A的12V系统可能会试图使用10A甚至更高额定值的保险丝。在短路且电源工作良好的情况下,这可能会为故障电路输入高达120W的功率。
茗熔 MRO RS95B 125A 150A 200A 225A 250A 300A 500V
常用的熔断器(1)插入式熔断器(2)螺旋式熔断器(3)封闭式熔断器(4)快速熔断器(5)自复熔断器参数选择(1)熔断器额定电压应符合电动机的运行电压。熔断器的工作电压与其熔管长度及绝缘强度有关。不能把熔断器用在高于其额定电压的回路中去,也不能把大熔片装到小溶断管中去。(2)熔断器的额定电流应大于电动机回路长期通过的最大工作电流。(3)熔断器的极限断路电流应大于流过的最大短路电流。用以保证切断故障电流时,不致烧毁熔断器。 R茗熔一级代理S95A aR 500V/300A;
茗熔 RGS30C-30A RGS30C 30A RSO RS0 30A RS3 30A 快速熔断器 用途:本系列熔断体适用于交流50HZ,额定电压至500V,额定电流至50A,主要用在电气线路中作为半导体设备的短路保护(aR)。本系列熔断体额定分段能力至100KA。本系列熔断体符合国家标准GB13539.1/GB13539.4和国际电工委标准IEC60269-1/IEC60269-4.结构特点:有纯银片制成的变截面熔体封装于**度瓷制成的熔管内;熔管中充满经化学处理过的高纯度石英砂作为灭弧介质;熔体二端采用点焊于触头牢固电连接。熔断体型式有方管刀形触头和方管平板形触头两种。RGS5-1 aR 1200V/75A全国发货;天津RS99E aR 700V/1250AMIRO茗熔询价必回
熔断器的极限断路电流应大于流过的最大短路电流;山西RS99A aR 660V/1000AMIRO茗熔一级代理库存充足
MRO 茗熔熔断器 RGS4 RGS4Z 660GH 690V 10A 16A 20A 25A 30A
1.选择额定电压快速熔断器发生熔断后两端出现的故障电路及外加交流电压应该较快速熔断器的额定电压稍微低一些。若出现逆变型负载以及导体设备的负荷是有源逆变器这两种情况时,应考虑是否是半导体器件失控等引|起设备直流侧短路。2.选择额定电流熔断器的额定电流是以电路实际流过的电流有效值作为基础,同时加以考虑环境温度、冷却条件等因素影响后再进行计算。如果快速熔断器选用的额定电流过大则会造成熔断器的值随之增加,这可能会对保护半导体器件造成不可挽回的伤害。3.选择分断性能当快速熔断器与半导体器件串联协同工作的时候,快速熔断器的值应该小于半导体器件允许通过的值。否则在熔断器熔断时,器件也被烧损。4、选择过电压一般而言半导体器件产生的反向击穿均是由于过电过而导致的,因此分断过电压必须满足-定的条件,即必须和半导体器件允许反向峰值电压相等或小于它的值。5.选择额定分断能力 山西RS99A aR 660V/1000AMIRO茗熔一级代理库存充足