NB/T 20010.10-2010地震测试

上海天梯检测技术有限公司振动测试： 振动是自然界较普遍的现象之一，是指物体在平衡位置附近的往复运动，在振动的过程中，振动物体的一些物理参数，如位移、速度等，将发生反复变化，由此对日常生活和电子工程带来一定的危害。对于电工电子产品而言，在产品包装运输、安装及使用过程中，都会发生振动，这种振动一般是随机且无规律的，为提前确保产品到客户手里可正常使用，国家标准中针对电工电子产品的环境试验，也明确定义了振动的测试标准。 振动的危害 振动会影响精密仪器设备的功能，加剧构件的疲劳和磨损，从而缩短机器和结构物的使用寿命 引起结构的大变形破坏，产生巨大损失 导致产品性能和工作状态的不稳定，甚至产品的损坏 降低行业产品竞争力 破坏企业品牌形象 产生更高的费用和售后人力第三方地震测试公司，欢迎咨询上海天梯！NB/T 20010.10-2010地震测试

综合环境测试：温度+湿度+振动/冲击/碰撞、HALT/HASS/HASA、温湿度堆码试验、高压蒸煮试验。 包材及包装运输测试：环境温湿度测试、堆码测试、包装抗压测试、振动测试、冲击测试、跌落测试、碰撞测试、水平夹持测试、低气压测试。 物理性能测试：百格测试、耐磨测试、划痕测试、插拔测试、弯折测试、色牢度测试、防火/燃烧测试;摇摆测试、按键寿命测试、硬度测试、落锤冲击/摆锤冲击测试、拉伸强度/抗压强度/屈服强度测试、熔融测试。 电磁兼容环境测试：射频性能测试、SAR测试、OTA测试、HAC测试、TCOIL测试、数字电视机性能测试、音视频产品性能测试、卫星导航产品(GPS)性能测试、平板显示性能测试、中国医疗器械注册检测、中国电信进网许可检测浦东新区抗震能力地震实验有人了解地震测试吗？

上海天梯检测技术有限公司以数据为参考使得地震模拟体验屋的相关指标达到或者接近达到地震的运动特点。一般地震测试中，可以看到浅源地震地震波地表特性表现为：纵波先到达，数秒后横波到达，纵横波之间会夹杂面波等复合波形。地震测试由模拟地震平台和平台上面的房屋组成，技术上有液压系统、传感系统、计算机控制系统、音响系统、自动评分系统等。模拟地震的震级和持续时间市有控制台上预先设置进行的。突出体现地震时地面剧烈抖动，波动纵波，横波，加之视景，音响，等的有机配合。

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 5、振动试验： 振动试验标准：电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式 只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56-2006。只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc和导则：振动（正弦）只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg。 6、温度变化试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 7、温度/湿度组合循环试验： 环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验 8、跌落试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落 9、机械冲击试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 10、碰撞试验： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞地震测试需要注意什么？

地震检测的范围包含： 交换类：电话交换设备、路由器、以太网交换机、HLR 传输类： SDH、WDM、MSTP、PTN、OTN、ASON数字微波通信设备、卫星地球站传输设备 电源类：高频开关电源、UPS、蓄电池、锂电池、高压直流240V/336V供电系统、交/直流配电柜 移动基站类：基站设备、直放站设备、基站控制器 接入类设备：ADSL/ADSL2+、VSAT、EPON 服务器和网关类设备：服务器、网关、BNAS、SIP、综合接入媒体网关设备、信令网关设备 通信设备及设施：集装箱数据中心、ICT机房设备等 各种电力设备、电工电子设备、核设备等地震测试可以分为哪些呢？NB/T 20010.10-2010地震测试

什么是振动地震测试？NB/T 20010.10-2010地震测试

上海天梯检测技术有限公司地震测试的目的： 地震发生时，通讯信号及电子产品都会被损害，提前对电子工业级及通讯设备的测试非常重要，其重要性可从电子产品发展的三个特点来加以说明。 首先，电子产品的复杂程度在不断增加。人们较早使用的矿石收音机是非常简单的，随之先后出现了各种类型的收音机、录音机、录放相机、通讯机、雷达、制导系统、电子计算机以及宇航控制设备，复杂程度不断地增长。其次，电子产品的使用环境日益严酷。从实验室到野外，从热带到寒带，从陆地到深海，从高空到宇宙空间，经受着不同的环境条件，除温度、湿度影响外，海水、盐雾、冲击、振动、宇宙粒子、各种辐射等对电子元器件的影响，导致产品失效的可能性增大。 第三，电子产品的装置密度不断增加。从一代电子管产品进入第二代晶体管，现已从小、中规模集成电路进入到大规模和超大规模集成电路，电子产品正朝小型化、微型化方向发展，其结果导致装置密度的不断增加，从而使内部温升增高，散热条件恶化。NB/T 20010.10-2010地震测试

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