北京el检测系统

识别“隐裂”的方法EL(Electroluminescence，电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺点检测设备，是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理，通过辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺点。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。形成“隐裂”的原因外力：电池片在焊接、层压、装框或搬运、安装、施工等过程中会受外力，当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。高温：电池片在低温下没有经过预热，然后在短时间内突然受到高温后出现膨胀会造成隐裂现象，如焊接温度高、层压温度等参数设置不合理。原材料：原材料的缺点也是导致隐裂的主要因素之一。上海欧普泰科技创业股份有限公司是一家专业提供检测的公司，期待您的光临！北京el检测系统

机器视觉技术与人类通过眼睛获取信息的方式是一致的，光学图像的采集就好比是机器在用“眼睛”获取信息，检测算法就是机器在用“大脑”思考的过程。而光学图像定位方法又分为灰度定位和几何定位，基于灰度定位的算法是通过分析模板图像的灰度值与待测物体图像的灰度值的相关性大小来判断物体的位置。由于该算法与图像的每一个像素点的灰度值关系密切，所以它对光照的亮度变化非常敏感。而在实际生产当中工件对光的吸收、反射不可能完全一致，从而会影响定位的准确率和通过率，因此采用几何定位方式。陕西人工智能检测设备上海欧普泰科技创业股份有限公司致力于提供检测，欢迎您的来电！

EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺点检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺点检测及生产工艺监控的测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑域，该部分没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。

导致这一现象发生的主要原因是P型（掺硼）晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。通过改变P型掺杂剂，用稼代替硼能有效的减小光致衰减；或者对电池片进行预光照处理，是电池的初始光致衰减发生在组件制造之前，光伏组件的初始光致衰减就能控制在一个很小的范围之内，同时也提高组件的输出稳定性。光致衰减更多的与电池片厂家有关，对于组件厂商的意义在于选择高质量的电池片来降低光致衰减带来的影响。初始的光致衰减，即光伏组件的输出功率在刚开始使用的初几天内发生较大幅度的下降，但随后趋于稳定。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，让您满意，期待您的光临！

安装在系统中的光伏组件由于以下原因可能会造成自身质量问题，从而对系统发电量产生影响：1、市场上有很多劣质组件，有些劣质组件在外观上与正规组件没什么差异，但其发电效率与使用寿命远远不能满足要求。2、大厂家生产的正规组件，在运输搬运过程中也可能出现组件的隐裂，由于组件串联的木桶效应，小的隐裂也可能对整个系统发电量产生大的影响。3、随着1500V系统技术的推进成熟，组件串联木桶效应会越来越严重，单个组件质量问题对系统发电量影响也会越来越大。在电站安装前进行EL检测，可以发现存在隐裂、断栅等质量问题的组件，从而将这些系统中的害群之马除掉，提升发电量。检测，就选上海欧普泰科技创业股份有限公司，有需要可以联系我司哦！宁夏检测仪厂家

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基于上述原因，我们可以看出对电池片功能影响比较大的，是平行于主栅线的隐裂。根据研究结果，50%的失效片来自于平行于主栅线的隐裂。45°倾斜裂纹的效率损失是平行于主栅线损失的1/4。垂直于主栅线的裂纹几乎不影响细栅线，因此造成电池片失效的面积几乎为零。相比于晶硅电池表面的栅线，薄膜电池表面整体覆盖了一层透明导电膜，所以这也是薄膜组件无隐裂的一个原因。有研究显示，组件隐裂严重时，会导致组件功率的损失，但是损失的大小并不一定。裂纹对组件电性能的影响小，而裂片对组件功率损失非常大；老化试验，即组件在工作或非工作的情况下，温、湿度变化可能会引起电池片隐裂的加剧；组件中没有隐裂的电池片比隐裂的电池片抗老化能力强。北京el检测系统