河源半导体SPI检测设备原理
结构光栅型SPIPMP又称PSP(PhaseShiftProfilometry)技术是一种基于正弦条纹投影和位相测量的光学三维面形测量技术。通过获取全场条纹的空间信息与一个条纹周期内相移条纹的时序信息,来完成物体三维信息的重建。由于其具有全场性、速度快、高精度、自动化程度高等特点,这种技术已在工业检测、机器视觉、逆向工程等领域获得广泛应用。目前大部分的在线SPI设备都已经升级到此种技术。但是它采用的离散相移技术要求有精确的正弦结构光栅与精确的相移,在实际系统中不可避免地存在着光栅图像的非正弦化,相移误差与随机误差,它将导致计算位相和重建面形的误差。虽然已经出现了不少算法能降低线性相移误差,但要解决相移过程中的随机相移误差问题,还存在一定的困难。为何要对锡膏印刷环节进行外观检测?河源半导体SPI检测设备原理
SPI锡膏检查机的作用和检测原理SPI是英文Solder Paste Inspection的简称,行业内一般人直接称呼为SPI,SPI的作用和检测原理是什么?SPI锡膏检查机的作用 一般,SMT贴片中80-90%的不良是来自于锡膏印刷,那么在锡膏印刷后设置一个SPI锡膏检查机是不是很有必要,将锡膏印刷不良的PCB在贴片前就刷选下来,这样就可以提高回流焊接后的PASS率。现在越来越多的0201小元件需要贴片焊接,因此锡膏印刷的品质需求就越高,在锡膏印刷后检查出来的不良比回流焊接后检查出来的维修成本要低很多,节省成本,并且更容易返修。SPI锡膏检查机的检测原理 SPI的检测原理与AOI(延伸阅读:什么是AOI?详解自动光学检测设备aoi)基本类似,都是利用光学影像来检查品质,锡膏检查的是锡膏的平整度、厚度以及偏移量,因此需要先将一块OK板检测出来作为样板,后面批量印刷的PCB板就依据OK板来进行判断,也许刚开始还有很多不良率,但是这是正常,因为机器需要不断的学习和修改参数以及工程师维护。惠州全自动SPI检测设备设备对于PCB行业而言,从工艺、成本和客户需求几个角度来看对于SPI设备的需求都呈现上升趋势。
SMT表面组装技术是目前电子组装行业里流行的一种技术和工艺,促进了电子产品的小型化、多功能化,为大批量生产、低缺陷率生产提供了条件。SMT锡膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生产工艺的重要环节,锡膏印刷质量直接影响焊接质量,特别在5G智能手机,汽车电子等产品SMT锡膏印刷更为重要;“60%以上的工艺不良来源于锡膏的印刷环节”这句话在密间距的电子产品中就能明显体现出它的含义。在现在一切数字化,智能化,自动化的浪潮下,智能机器人,汽车电子智能驾驶,AIOT,医疗设备等领域的小批量订单出现了爆发式增长,对传统的供应链管理造成了很大的挑战,电子EMS制造产业自动化已成为趋势,SMT行业也需要与时俱进。
那么SPI具体是如何检测的呢?目前SPI领域中主要的检查方法有激光检査和条纹光检查两种。其中激光方法是用点激光实现的。由于点激光加CCD取像须有X、Y逐点担的机构,并未明显増加量测速度。为了增加量测速度,需将点激光改成扫描式线激光光线。这两种是经常用到的方法,此外还有360°轮廓测量理论、对映函数法测量原理( coordinate Mapping)、结构光法( Structure Lighting)、双镜头立体视觉法。但这些方法会受到速度的限制而无法被应用到在线测试上,只适合单点的3D测量。PCBA工艺常见检测设备ATE检测。
SPI即是SolderPasteInspection的简称,中文叫锡膏检查,这种锡膏检查机类似我们一般常见摆放于SMT炉后的AOI(AutoOpticalInspection)光学识别装置,同样利用光学影像来检查品质。它的工作原理:锡膏检查机增加了锡膏测厚的雷射装置,所以SPI可能遇到的问题与AOI类似,就是要先取一片拼板目检,没有问题后让机器拍照当成标准样品,后面的板子就依照***片板子的影像及资料来作判断,由于这样会有很多的误判率,所以需要不断的修改其参数,直到误判率降低到一定范围,因此并不是把SPI机器买回来就可以马上使用,还需要有工程师维护。SPI锡膏检测仪只能做表面的影像检查,如果有被物体覆盖住的区域设备是无法检查到的。锡膏检查机可以量测下列数据:锡膏印刷量锡膏印刷的高度锡膏印刷的面积/体积锡膏印刷的平整度锡膏检查机可以侦测出下列不良:锡膏印刷是否偏移(shift)锡膏印刷是否高度偏差(拉尖)锡膏印刷是否架桥(Bridge)锡膏印刷是否缺陷破损SPI锡膏检测机主要应用于锡膏检查。茂名国内SPI检测设备功能
在线3D-SPI(3D锡膏检测机)在SMT生产中的作用当今元件PCB的复杂程度,己经超越人眼所能识别的能力。河源半导体SPI检测设备原理
PCBA工艺常见检测设备ATE检测:AutomaticTestEquipment集成电路(IC)自动测试机,用于检测集成电路功能之完整性,为集成电路生产制造之终流程,以确保集成电路生产制造之品质。在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面,存在着去伪存真的需要,这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程,就需要各种试验设备,这类设备就是所谓的ATE(AutomaticTestEquipment)。这里所说的电子元器件DUT(DeviceUnderTest),当然包括IC类别,此外,还包括分立的元件,器件。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各个环节,具体的取决于工艺(Process)设计的要求。在元器件的工艺流程中,根据工艺的需要,存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品,防止进入下一道的工序,减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握,这些参数可以是现实物理世界中的光,电,波,力学等各种参量,但是,目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要考虑的较多的,还是电子部分的参数比如,时间,相位,电压电流,等等基本的物理参数。就是电子学所说的,信号处理。河源半导体SPI检测设备原理
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