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时间:2023年07月11日 来源:

可靠性研究的两大内容就是失效分析和可靠性测试(包括破坏性实验)。两者之间是相互影响和相互制约的。电子元器件技术的快速发展和可靠性的提高奠定了现代电子装备的基础,元器件可靠性工作的根本任务是提高元器件的可靠性。因此,必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作,通过分析确定失效机理,找出失效原因,反馈给设计、制造和使用,共同研究和实施纠正措施,提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认结果的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。CAF的增加会使板子易吸附水汽,将会造成环氧树脂与玻璃纤维的表面分离。陕西多功能电阻测试牌子

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局部萃取的离子色谱法在过去的十年中,一种新兴的方法得到了***的应用,那就是局部萃取,然后用离子色谱(IC)分析来控制重要的清洁度,通常被称为C3测试。这种方法使用冷蒸汽直接通过一个小喷嘴,并在选定的电路板和组件表面冷凝,用以溶解各种离子。然后喷嘴将水和离子的溶液萃取回测试池中进行测试。电流通过萃取物,并测量达到持续状态的时间。然后用离子色谱法对萃取物进行检测,以确定其中存在的离子种类及数量。这种类型的测试特别适用于对电路板上潜在的问题区域进行抽查,例如低间距组件、高热质量区域、选择性焊接的部件和清洗过的组件。**重要的是,局部萃取方法可以很容易地集成到质量保证协议中,以验证测试结果随时间变化的一致性和很多不同组装工艺的一致性。湖南国内电阻测试订做价格精度高:优于同业产品。

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1、**通道高精度微电流测试。2、**通道测试电流电阻,电阻超大量程测量范围在10的4次方到10的14次方。3、实现多通道电流同时采集,实时监控测试样品离子和材料绝缘劣化过程。4、板卡式结构,灵活配置系统通道,1个板卡16通道,单系统可扩展256通道。5、每个板卡一个**测试电源,可适应多批量测试条件。6、测试电压可以扩展使用外接电压,最大电压可高达2000V。7、测试电压可在1.0-500V(2000V)之间以0.1V步进任意可调。

剖面结构观察通过SEM观察失效电阻镶样的横截面,如图4所示。由图4可发现:电阻一端外电极有一个明显的腐蚀凹坑,这是由电化学反中阳极溶解所产生的,腐蚀形态主要为点蚀。根据文献[5]报道,在电解液中存在Cl-的电化学过程中,阳极表面的钝化膜易溶解于含Cl-的溶液中,或Cl-直接渗透阳极表面的钝化膜,造成钝化膜开裂或形成微孔诱发局部腐蚀,**终形成点蚀坑的腐蚀形貌。电化学迁移失效复现根据失效分析,得出离子、潮气及电场为失效的敏感因子,故设计故障复现试验。将样品分为两组,1000h潮热加电实验。1-500V 1-2000V 以0.1V分辨率任意值可调。

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电阻表面枝晶状迁移物SEM放大形貌和EDS能谱分析见图2所示,枝晶状迁移物由一端电极往另一端电极方向生长,图2(b)EDS测试结果表明枝晶状迁移物主要含有Sn,Pb等元素,局部区域存在Cl元素,此产品生产中采用的SnPb焊料为Sn63Pb37,说明SnPb焊料中的Sn,Pb金属元素发生电化学迁移导致枝晶的生长,连通电阻两极,导致电阻短路失效。对失效电阻样品表面迁移物区域和原工艺生产用SnPb焊料取样进行离子色谱分析,所得的结果如表1所示。从表1中可以得出失效电阻表面存在Cl-的含量为1.403mg/cm2。目前行业内为避免印刷电路板发生腐蚀和电化学迁移而导致失效,控制表面残留的Cl-含量不高于0.5mg/cm2。但本案中的失效样品表面所测的Cl-含量明显超出了行业规范的要求,Cl-可以诱导阳极金属表面钝化膜的破裂,诱发局部腐蚀。接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室LIMS系统。浙江sir电阻测试订做价格

测量离子与非离子污染物对PCB可靠性的影响,其效果远比其它方法(如清洁度试验、铬酸银试验等)有效方便。陕西多功能电阻测试牌子

此外,失效电阻表面还存在少量的乙酸根离子(CH3COO-),由于工艺生产中引入的有机弱酸减小了溶液的pH、提高了溶液的导电率,促进了金属阳极的溶解过程,加大金属阳离子的浓度而提升枝晶的生长速率,造成了电阻的短路失效。从表1离子色谱结果可以得出原工艺中生产使用的SnPb焊料存在较高的氯离子(Cl-),说明SnPb焊料中的助焊剂中存在较高的氯离子,加速了电阻表面发生焊料的电化学迁移。参考国际电子工业联接协会标准表面绝缘电阻手册IPC-TM-6502.3.28.2[4],“/”表示未检出,其含量低于方法检出限,方法检出限为0.003mg/cm2。陕西多功能电阻测试牌子

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