惠州WIFI射频测试公司

时间:2023年08月05日 来源:

为什么要进行射频测试?监管机构要求进行射频测试,以确保现有设备不会受到新设备的干扰,并证明新设备对现有射频环境具有抵抗力。此外,RF测试有助于评估产品发出的辐射,这些辐射也必须在可接受的范围内才能获得监管合规性。什么是射频(RF)?射频或"RF" 能量是电磁能的一种形式,被定义为由发射天线发射的电能和磁能(无线电波)在空间中一起移动的波。射频(RF)测试模拟无线电和电信设备的功能和性能,以确保设备不仅会干扰无线电频谱的其他用户,还会验证无线电设备是否有效地使用无线电频谱。通常还需要其他测试来验证您的设备是否符合当地关于电磁兼容性(EMC)、电气安全和射频暴露的法规。3.测试快速稳定,推荐配置(输出功率、频率偏置、灵敏敏度)8-12s即可完成测试;惠州WIFI射频测试公司

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射频测试中会有哪些专业术语呢?如1、功率/电平(dBm):放大器的输出能力,一般单位为w、mw、dBm注:dBm是取1mw作基准值,以分贝表示的功率电平。换算公式:电平(dBm)=10lgw5W→10lg5000=37dBm10W→10lg10000=40dBm20W→10lg20000=43dBm从上不难看出,功率每增加一倍,电平值增加3dBm2、增益(dB):即放大倍数,单位可表示为分贝(dB)。即:dB=10lgA(A为功率放大倍数)3、插损:当某一器件或部件接入传输电路后所增加的衰减,单位用dB表示。4、选择性:衡量工作频带内的增益及带外辐射的抑制能力。-3dB带宽即增益下降3dB时的带宽,-40dB、-60dB同理。5、驻波比(回波损耗):行驻波状态时,波腹电压与波节电压之比(VSWR)等。杭州RFID射频测试系统射频测试性能包括发射/带内功率、调制一致性、带内杂散、发送频谱密度以及相位噪声等。

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射频测试中都会有哪些术语呢?1.信噪比(SNR)信号电平与噪声电平的比值,其中的噪声是指宽带随机噪声,不包含失真。2.信纳比(SINAD)信号电平与噪声+失真电平的比值3.谐波(Harmonics)/总谐波失真(THD)在有用信号(基波)频率整数倍的频点出现的信号电平是谐波电平,除了基波以外各次的总的功率电平,与基波电平之比,是总谐波失真。4.驻波比(SWR)在入射波和反射波相位相同的地方,电压振幅相加为最大电压振幅Vmax,形成波腹;在入射波和反射波相反的地方电压振幅相减为小电压振幅Vmin,形成波谷。驻波比是驻波波腹处的电压幅值Vmax与波谷处的电压幅值Vmin之比。驻波比体现了电磁波传输节点的输出和输入部分的阻抗匹配情况,SWR=1表示匹配,节点没有信号反射;SWR>1,驻波越大,说明匹配越差,反射越大。5.差分(Differential)平衡(Balance)差分是一种信号传输方式,信号分成两个等幅相差180°的反相信号(一正一负);差分传输线要求等长等宽完全对称;这样的信号传输时平衡的。

射频测试中射频探针的基本要求和工作原理:1)探针的50-Ω平面传输线应当直接与DUT压点相接触而不用接触导线。对于微带线和随后的共面探针设计,探针的接触是用小的金属球来实现的,这个金属球要足够大以保证可靠且可重复性的接触。2)为了能同时接触到DUT的信号压点和接地压点,需要将探针倾斜。这个过程被称为“探针的平面化”。3)探针的接触重复性比同轴连接器的可重复性要好得多。便于进行探针极尖和在片标准及专门校准方法的开发。4)具有很高重复性的接触可以进行探针的准确校准并将测量参考平面移向其极尖处。来自探针线和到同轴连接器的过渡所产生的探针的损耗及反射是通过由射频电缆和连接器的误差相类似的方式而抵消的。5)由于其很小的几何尺寸,人们可以假设平面标准件的等效模型纯粹是集总式的。此外,人们可以从标准件的几何尺寸来很容易地预测模型参数。射频测试仪器的种类很多,应用越来越多,包括从信号源和功率计,到频谱和网络分析仪等各种仪器。

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无线通信系统中,一般包含有天线、射频前端、射频收发模块以及基带信号处理器四个部分。随着5G时代的,天线以及射频前端的需求量及价值均快速上升,射频前端是将数字信号向无线射频信号转化的基础部件,也是无线通信系统的关键组件。按照功能,可将射频前端分为发射端Tx以及接收端Rx。按照器件不同,射频前端可分为功率放大器PA(发射端射频信号放大)、滤波器filter(发射、接受端信号滤波)、低噪声放大器LNA(接收端信号放大,降低噪声)、开关switch(不同通道切换)、双工器duplexer(信号选择,实现滤波匹配)、调谐器tuner(天线信号通道阻抗匹配)等。耦合测试主要就是模拟整机的一个使用环境,测试手机在天线环境下的射频性能。检测天线与主板之间的匹配性。广东智能音箱射频模块测试

在高级射频测试仪方面,全球几大巨头基本垄断,国内厂商相对技术落后。惠州WIFI射频测试公司

早起在射频探针出现之前,由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法,因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏,引发各种问题。早期的射频探针使用的是共面陶瓷材料,而陶瓷不能太弯曲,因而压触的弹性范围并不大,同时支持的射频频率也较低,首先出现的探针只覆盖到18GHz。在差不多三十年的时间里,射频探针技术便取得了长足的进步,从低频测量到适用多种应用场合的商用方案:如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配,多端口,差分和混合信号的测量装置,连续波模式中直到60W的高功率测量,以及直到1.1THz的太赫兹应用,都能见到射频探针的身影。惠州WIFI射频测试公司

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