陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试厂家供应

时间:2023年09月16日 来源:

CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗-钻孔太过粗糙,造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙;2)除胶渣-PCB制程之PTH中的除胶渣过度,或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应,过度的灯芯加上孔与孔相距太近时,可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生CAF效应。测试电压可在1.0-500V(2000V)之间以0.1V步进任意可调。陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试厂家供应

电阻测试

   定义CAF又称导电性阳极丝,是指印刷电路板电极间由于吸湿作用,吸附水分后加入电场金属离子沿玻纤纱从一金属电极向另一金属电极移动时,分析出金属与化合物的现象。CAF现象会导致绝缘层劣化。背景当前,无论是多层板的层数还是通孔的孔径,无论是布线宽度还是线距,都趋于细微化。由于绝缘距离的缩短以及电子设备便携化的影响,导致电路板容易发生吸湿现象,进而发生离子迁移。同时,当电路板发生离子迁移后,短时间内极易产生故障。待测PCB其正负两极间绝缘距离之规格分别为:两通孔铜壁间的距离为(26mil)孔铜壁到内层**近铜导体的距离为()孔环到外层**近导体的距离为()。 浙江供应电阻测试批量定制智能电阻具有更加便捷的操作和数据处理能力。

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为了提高PCB板的绝缘性能,可以采取一些措施。首先,要保持PCB板的清洁。在制造过程中,要注意防止污染物的进入,例如在操作过程中要戴手套,避免手部污染。其次,要选择合适的材料。一些材料具有较好的绝缘性能,可以在PCB板的制造中使用。此外,还可以采用一些特殊的工艺,例如涂覆绝缘层或使用特殊的涂料,来提高PCB板的绝缘性能。PCB离子迁移绝缘电阻测试是一项重要的测试方法,用于评估PCB板的绝缘性能。通过测量绝缘电阻,可以判断PCB板的绝缘性能是否符合要求。为了提高PCB板的绝缘性能,可以采取一些措施,例如保持清洁、选择合适的材料和采用特殊的工艺。通过这些措施,可以提高PCB板的绝缘性能,确保电子产品的可靠性和安全性。复制

耐CAF评估样品制作影响因素&建议:因CAF产生的条件是处于有金属盐类与潮湿并存的情况下,由于电场驱动,离子沿着玻璃纤维与树脂界面迁移而发生。因此,**根本的措施是让玻璃纤维与树脂界面致密而牢固的结合在一起,不存在任何隙缝。同时,减低树脂的吸水率,进一步提高材料的耐CAF能力。导致样品的CAF产生因素有如下:﹒PCB板由于不良玻璃质处理、压层缺陷、机械应力、热应力或耐化学性差,钻孔后引起压层界面削弱或破坏.温度和湿度***了压层缺陷反应(可能有湿度阀值).pH值梯度促进CAF形成.导体间电压梯度低至3伏到可能800伏.某些焊剂成分(聚乙二醇)或加工过程中产生的其它离子污染物选择智能电阻时,用户需要考虑测量范围和分辨率。

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Sir电阻测试是一种常用的电阻测试方法,它可以用来测量电路中的电阻值。在电子工程领域中,电阻是一种常见的电子元件,它用来限制电流的流动。因此,了解电路中的电阻值对于电子工程师来说非常重要。Sir电阻测试是一种非接触式的测试方法,它利用电磁感应原理来测量电路中的电阻值。这种测试方法不需要直接接触电路,因此可以避免对电路的损坏。同时,Sir电阻测试还具有高精度和高速度的优点,可以更加快速准确地测量电路中的电阻值。广州维柯信息技术有限公司多通道导通电阻实时监控测试系统,1-128 通道,测试范围 10 -5Ώ---10 3Ώ。广西智能电阻测试批量定制

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PCB离子迁移绝缘电阻测试是一项重要的测试方法,用于评估PCB板的绝缘性能。在电子产品制造过程中,PCB板的绝缘性能是至关重要的,它直接影响着产品的可靠性和安全性。因此,进行PCB离子迁移绝缘电阻测试是必不可少的。PCB离子迁移是指在电场作用下,PCB板表面的离子会迁移到其他位置,导致电路短路或绝缘性能下降。这种现象主要是由于PCB板表面的污染物引起的,例如油污、灰尘、水分等。当这些污染物存在时,它们会在电场的作用下形成离子,进而迁移到其他位置,导致电路短路或绝缘性能下降。陕西pcb离子迁移绝缘电阻测试厂家供应

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