六合区智能自动测试设备供应商

时间:2024年04月21日 来源:

自动测试设备应用在晶振行业,用于测量晶振的各项电气特性参数。取代之前人员一个个取料,测量后人员放入良品和不良品盒子,会存在放错盒子的问题,这样不良品有可能放到良品盒子里对产品品质有影响。用了自动测试测试后,设备自动取料,然后放一个产品在测试座中,自动测量后根据测试结果将产品分类放于良品盒子或者不良品盒子,不良品还可以分类,比如电流不良,启动不良,电阻不良等。这样保证了产品质量也提升了作业效率。是一款非常实用的自动化设备。温补晶振自动补偿设备在哪购买?六合区智能自动测试设备供应商

自动测试设备

  根据客户的要求非标订制一款自动测量设备,用于晶振行业,测量温补晶振的温度特征,温补晶振是需要在整个要求的温度范围内都要符合频率不能超出规定的范围。比如要求产品在-40度到85度之间频率误差不能超过1PPM。这个设备就要可以测量出每个产品在整个温度范围内的频率值,比如每间隔一度测量一次,后面把各个温度测出的频率值或频率误差值绘出一个曲线,自动判断 是否超出规格范围。配合自动分选机,自动连测试数据,根据测试结果挑选出良品,不良品继续做补偿然后再测试直到符合规格。盐城多功能自动测试设备搭建温补晶振的自动测试设备有用过南京从宇的吗?

六合区智能自动测试设备供应商,自动测试设备

自动温度循环测试设备。 l温测温度范围:-55℃~125℃。l温度测试方式:线性连续测试,步进测试,定温测试。l测试电压范围:1.2V~5V。压控电压电压范围0~5V。l测试产品尺寸种类:2016,2520,3225,5032,7050,需选配不同测试座。l产品波形:CMOS,SINE,PECL,需选用不同测试座。l测试速度:快于30pcs/秒。l频率测试精度:0.01ppm。l测试数量:80pcs/板,10板/框,共2框,共计1600pcs。l温箱温度控制范围:-55℃~150℃。l温箱温度分布均匀度:±1~2℃。l温箱控温精度:±0.2℃,解析度0.01℃。l温变能力:降温≤2℃/min,升温≤10℃/min。l温箱冷却方式:风冷。l温箱内尺寸:50cm(W)*60cm(H)*50cm(D)。l温箱其它功能:压力检测,氮气进气管等。l测试数据数据库管理:支持SQL,MES等接入。上料&分选机,Tray盘上料到到温测板或定制其它类型,例如Reel供料,振动盘供料等。CCD方向识别产品方向。自动取出温测数据,分选出良品与不良品。

SoC测试机:主要针对以SoC芯片的测试系统,SoC芯片即系统级芯片(SystemonChip),通常可以将逻辑模块、微处理器MCU/微控制器CPU内核模块、数字信号处理器DSP模块、嵌入的存储器模块、外部进行通讯的接口模块、含有ADC/DAC的模拟前端模块、电源管理模块PMIC等集成在一起,设计和封装难度高于普通数字和模拟芯片,SoC测试机被测芯片可以是微处理器MCU、CPU、通信芯片等纯数字芯片或数模混合/数字射频混合芯片,测试引脚数可达1000以上,对信号频率要求较高尤其是数字通道测试频率要求较高。晶振自动测试自动上料设备有用过从宇的吗?

六合区智能自动测试设备供应商,自动测试设备

自动测试系统框图现场测试照片源测量单元SMU用于直流电流、电压、电阻等参数测量,可实现IV单点以及IV曲线扫描测试等功能,并可作为电源输出,为器件提供源驱动,主要适用器件有电阻、二极管、MOSFET、BJT等。LCR表或阻抗分析仪用于器件的电容、电感等参数测量,可实现CF曲线扫描和CV曲线扫描等功能,主要适用器件有:MOSFET、BJT、电容、电感等。矢量网络分析仪用于射频器件参数提取,通过对器件上的S参数测量,获得器件的传输、反射特性以及损耗、时延等参数,常见测量器件有:滤波器、放大器、耦合器等。矩阵开关或多路开关用于测多引脚器件如MEMS等,实现测量仪表与探针卡按照设定逻辑连接,将复杂的多路测试使用程序分步完成晶振的温度测试结果如何判断?江苏电动自动测试设备搭建

晶振温测设备测试一度一测可判断SLOP!六合区智能自动测试设备供应商

  晶振产品的自动测试设备, 根据设定的参数比如电流测试范围,频率偏差值,电阻规格值。选用合适的测量仪器。 上料采购模组移动,将产品移到测试座,自动测量。系统自动判断测试结果 。根据测量结果将产品分类放于相应的收纳盘中。整个机构根据实际来料情况设计结构,如果来料是散状的,可以用振动盘将产品有序排列,然后再移载和测试分类放置。如果来料是盘装的,可以直接用XY模组来取料。影像系统自动判断产品方向,方向错的旋转机构自动旋转正确。然后测试分类。设备效率高,测量准确。六合区智能自动测试设备供应商

信息来源于互联网 本站不为信息真实性负责