惠州销售SPI检测设备功能

3．节约成本在SMT组装的前期，如果使用SPI设备检测出不良，可以及时完成返修，这节约了时间成本。另一方面，避免不良板延迟到后期制造阶段，造成PCBA板功能性不良，这节约了生产成本。4.提高可靠性前面我们说过，在SMT贴片加工中，有75%的不良是由于锡膏印刷不良造成的，而SPI能够在SMT制程中对锡膏印刷不良进行准确拦截，在不良的来源处进行严格管控，有利于减少不良产品提高的可靠性。现在的产品越来越趋向于小型化，元器件也在不停改变，在提高性能的同时缩小体积，如01005，BGA，CCGA等对锡膏印刷质量有较高的要求，因此在SMT制程中，SPI已经是不可或缺的一个质量管控工序，每一个用心做PCBA的工厂都应该在SMT装配中配有SPI锡膏检测设备。对于PCB行业而言，从工艺、成本和客户需求几个角度来看对于SPI设备的需求都呈现上升趋势。惠州销售SPI检测设备功能

SMT贴片焊接加工导入SMT智能首件检测仪可以带来以下效益：1.节省人员：由2人检测改为1人检测，减少人工。2.提高效率：首件检测提速2倍以上，测试过程无需切换量程，无需人工对比测量值。3.可靠性：FAI-JDS将BOM、坐标及图纸进行完美核对，实时显示检测情况，避免漏检，可方便根据误差范围对元件值合格值自动判定，对多贴，错料，极性和封装进行方便检查；相较于传统方式完全依靠人员，人工更容易出错。4.可视性：FAI-JDS系统对PCB位号图或者扫描PCB图像，将实物放大几十倍，清晰度高，容易识别和定位；传统方式作业员需要核对BOM，元件位置图以及非LCR背光丝印，容易视觉疲劳，导致容易出错。5.可追溯性：自动生成首件检测报告，并可还原检测场景。6.更加准确：使用高精度LCR测试仪代替万用表。7.工艺图纸：可同时生成SMT首件工艺图纸，方便品管或维修人员使用。8.扩展性：软件支持单机版和网络版，网络版按用户数量授权可以多个用户同时使用。汕尾高速SPI检测设备技术参数应用于3DSPI/AOI领域的DLP结构光投影模块编码结构光光源蓄势待发在2D视觉时代，光源主要起到什么作用？

3DSPI（SolderPasteInspection）是指锡膏检测设备，主要的功能就是以检测锡膏印刷的品质，包括体积，面积，高度，XY偏移，形状，桥接等。如何快速准确的检测极微小的焊膏，PARMI3DSPI是使用Laser（中文译为激光三角测量技术）的检测原理。根据研究结果，印刷工艺有着大于74%的可变性，之所以存在这么大的可变性，是因为印刷工艺中包含大量不确定的工艺参数，包括焊膏的种类、配方、环境条件、钢网的类型、厚度、开孔的宽厚比和面积比、印刷机等类型、刮刀、印刷头技术、印刷速度等等。

3分钟了解智能制造中的AOI检测技术AOI检测技术具有自动化、非接触、速度快、精度高、稳定性高等优点，能够满足现代工业高速、高分辨率的检测要求，在手机、平板显示、太阳能、锂电池等诸多行业应用较广。智能制造中的AOI检测技术AOI集成了图像传感技术、数据处理技术、运动控制技术，在产品生产过程中，可以执行测量、检测、识别和引导等一系列任务。简单地说，AOI模拟和拓展了人类眼、脑、手的功能，利用光学成像方法模拟人眼的的视觉成像功能，用计算机处理系统代替人脑执行数据处理，随后把结果反馈给执行或输出模块。以AOI检测应用较广的PCB行业为例，中低端AOI检测设备的误判过筛率约为70%，即捕捉到的不良品中其实有70%的成品是合格的。拥有了训练成熟的AI技术加持后，AIAOI检测系统不断学习，能够自行定义瑕疵范围，进一步有效判别未知的瑕疵图像。AI视觉辨识技术能辅助AOI检测能够大幅提升检测设备的辨识正确率，有效降低误判过筛率，加速生产线速度PCBA工艺常见检测设备SPI检测。

SPI在SMT行业中指的是锡膏检测设备（Solder Paste Inspection）的英文简称。用于锡膏印刷后检测锡膏的高度、体积、面积、短路和偏移量。其工作原理：锡膏检查机增加了锡膏测厚的雷射装置，所以SPI的工作原理与AOI类似，就是要先取一片拼板目检没有问题后让机器拍照当成标准样品，后面的板子就依照首片板子的影像及资料来作为判断根据，这样会有很多的误判率，所以需要不断的修改其参数，直到误判率降低到一定标准，因此，使用SPI时，需要有工程师维护。AOI检测设备对SMT贴片加工的重要性。汕尾高速SPI检测设备技术参数

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PCBA工艺常见检测设备ATE检测：AutomaticTestEquipment集成电路(IC)自动测试机，用于检测集成电路功能之完整性，为集成电路生产制造之终流程，以确保集成电路生产制造之品质。在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(AutomaticTestEquipment)。这里所说的电子元器件DUT(DeviceUnderTest)，当然包括IC类别，此外，还包括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。在元器件的工艺流程中，根据工艺的需要，存在着各种需要测试的环节。目的是为了筛选残次品，防止进入下一道的工序，减少下一道工序中的冗余的制造费用。这些环节需要通过各种物理参数来把握，这些参数可以是现实物理世界中的光，电，波，力学等各种参量，但是，目前大多数常见的是电子信号的居多。ATE设计工程师们要考虑的较多的，还是电子部分的参数比如，时间，相位，电压电流，等等基本的物理参数。就是电子学所说的，信号处理。惠州销售SPI检测设备功能