浦东新区在线HTOL测试机

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芯片ATE程序开发及FT测试FT（FinalTest）是芯片在封装完成以后进行的*终的功能和性能测试，是产品质量控制*后环节，通过ATE+Handler+loadboard检测并剔除封装工艺和制造缺陷等生产环节问题的芯片。测试程序覆盖功能和全pin性能参数，并补充CP未覆盖的功能。服务内容：老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验在要求点(如0、168、500、1000 hr)进行 ATE 测试，确定芯片是否OK, 记录每颗芯片的关键参数，并分析老化过程中的变化。江苏HTOL测试机性能上海顶策科技TH801智能老化系统，是一款全程数据实时记录的高效HTOL设备。

在每个时间点读点过程为：将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断，若iref＜i，则闪存读出“1”；若iref＞i，则闪存读出“0”。与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：本发明所提供的闪存htol测试方法，对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除，以在所述闪存参考单元中引入电子；对所述闪存进行htol测试，所述引入电子在所述htol测试过程中存在丢失，以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量，从而使闪存htol读“0”通过，解决了闪存htol测试中读点失效的问题，提高闪存质量。附图说明图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图；图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图；图3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图；图4为本发明实施例的对闪存参考单元进行擦除示意图；图5为本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除直接进行htol测试的输出电流iref分布图；

    芯片可靠性测试（HTOL）HTOL(HighTemperatureOperatingLife)是芯片可靠性的一项关键性的基础测试，用应力（电压、温度等拉偏）加速的方式模拟芯片的长期运行，评估芯片寿命和长期上电运行的可靠性。广电计量服务内容：老化方案开发测试硬件设计ATE开发调试可靠性试验HTOL试验方案：在要求点(如0、168、500、1000hr)进行ATE测试，确定芯片是否OK,记录每颗芯片的关键参数，并分析老化过程中的变化。对芯片覆盖率要求如：CPU/DSP/MCU/logic：ATPG的stuck-atfaultcoverage＞70％。MemoryBIST:覆盖所有memory。3、模拟电路：覆盖PLL/AD/DA/SERDES等关键IP。 上海顶策科技智能HTOL系统，全程数据记录，让HTOL问题更容易分析，更有追溯性。

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    我开始的时候认为htons和htonl可以只用htonl代替但是后来发现这个是错误，会导致服务器端和客户端连接不上。下面就让我们看看他们：htons#include<arpa/(uint16_thostshort);htons的功能：将一个无符号短整型数值转换为网络字节序，即大端模式(big-endian)参数u_shorthostshort:16位无符号整数返回值:TCP/IP网络字节顺序.htons是把你机器上的整数转换成“网络字节序”，网络字节序是big-endian，也就是整数的高位字节存放在内存的低地址处。而我们常用的x86CPU(intel,AMD)电脑是little-endian,也就是整数的低位字节放在内存的低字节处。举个例子：假定你的port是0x1234,在网络字节序里这个port放到内存中就应该显示成addraddr+10x120x34而在x86电脑上，0x1234放到内存中实际是：addraddr+10x340x12htons的用处就是把实际内存中的整数存放方式调整成“网络字节序”的方式。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「gocpplua」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。 浦东新区在线HTOL测试机

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