奉贤区HTOL测试机供应
模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告。上海顶策科技有限公司提供高质量、高效率、低成本HTOL测试方案。可靠性测试事业部提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,可以满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发在线实时单颗监测技术,大幅度提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。上海顶策科技智能HTOL系统,通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅度提高HTOL效率。奉贤区HTOL测试机供应
技术实现要素:本发明提供了一种闪存htol测试方法,以解决闪存htol测试中读点失效的问题。本发明提供的闪存htol测试方法,包括:提供待测闪存,所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元;所述闪存参考单元中捕获有空穴;对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。进一步的,所述闪存参考单元包括衬底、位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极和漏极,位于所述导电沟道上方的栅极单元,所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层、浮栅、栅间介质层以及控制栅,所述栅极单元的两侧分布有侧墙。 长宁区在线HTOL测试机上海顶策科技有限公司提供芯片可靠性测试一条龙解决方案。
芯片HTOL测试如何做到省力省心?上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告等全方面服务。自有发明专利的智能HTOL系统,自主研发在线实时单颗监测技术,可灵活配置芯片工作状态,并施加信号,非常方便HTOLSetup,实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据,确保芯片处于正常HTOL状态。
TH801智能一体化HTOL测试机,拥有多项发明专利及软件著作权,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率。上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告等一条龙服务。集成电路动态老化设备,上海顶策科技有限公司自主研发TH801智能一体化HTOL测试机。
发明人检查失效的原因,发现读点失效为读“0”失效,并且进一步研究发现闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间有偏移,具体偏移量经测试统计在4μa以内,而且iref1<iref0,即48小时后iref往电流变小的方向偏移。闪存测试中,若iref>i,则读出“0”(即闪存读“0”操作时,iref>i)。闪存判断读“0”的具体操作过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断。当差值变弱到由读出放大器无法进行识别时,读“0”失效。当htol可靠性验证经过***时间点例如48小时后,由于闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移即iref变小,如此一来,闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值变小,超出读出放大器识别范围,于是读“0”失效。测试发现经48小时闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移后,进一步做htol测试,闪存参考单元的输出电流iref在第三时间点例如168小时,第四时间点例如500小时,第五时间点例如1000小时测试均不会进一步偏移。上海顶策科技有限公司自成立以来,已经为超过500家半导体公司提供高质、高效、低成本测试解决方案。浙江HTOL测试机供应商
上海顶策科技TH801智能老化系统,实时监测并记录环境温度,具体到每颗芯片的状态数据。奉贤区HTOL测试机供应
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