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DDR眼图测试1-4
DDR4 做测试时,由于 BGA 信号难以探测,是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer,将 BGA 下方的信号引到 Interposer ,方便探头焊接,为了减少 Interposer 对信号带来影响,在 interposer 内专门有埋阻设计,减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应;但为了精确测量,我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌,在软件内使用多端口拓扑模型,载入 Interposer 的S 参数,生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数,在示波器中测得去嵌后的波形,下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 眼图是什么?通过示波器如何测量眼图?广东HDMI测试眼图测试销售
传统眼图测量方法的原理传统方法的个缺点就是效率太低。对于现在的高速信号如PCI-ExpressGen2,PCI-SIG要求测量1百万个UI的眼图,用传统方法就需要触发1百万次,这可能需要几个小时才能测量完。第二个缺点是,由于每次触发只能叠加一个UI,形成1百万个UI的眼图就需要触发1百万次,这样不断触发的过程中必然将示波器本身的触发抖动也引入到了眼图上。对于2.5GBbps以上的高速信号,这种触发抖动是不可忽略的。如何同步触发,也就是说如何使每个UI的数据相对于触发点排列?也有两种方法,一种方法是在被测电路板上找到和串行数据同步的时钟,将此时钟引到示波器作为触发源,时钟的边沿作为触发的条件。另外一种方法是将被测的串行信号同时输入到示波器的输入通道和硬件时钟恢复电路(CDR)通道,硬件CDR恢复出串行数据里内嵌的时钟作为触发源。这种同步方法引入了CDR抖动,这是传统方法的第三个缺点。信息化眼图测试价格多少眼图测试系统基础知识?
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在早期设计阶段,如何完整评价DDR信号质量和时序等参数呢,这里为大家介绍一个设计到验证的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具,在ADS仿真后,生成波形可以直接导入到运行于电脑里的示波器离线分析软件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性测试套件,这个软件可以分析前面所说的JEDEC对DDR4信号要求的电气和时序等参数,判断是否符合规范要求,以测试报告形式呈现,这种方式可以在设计阶段发现违规问题,及时改进设计,缩短研发周期,降低硬件开发成本。另一方面,在硬件已经打板回来,可以通过V系列等示波器测试信号,通过实际的信号检查存在的问题,将仿真的结果和实际测试的结果做相关对比,进一步迭代优化仿真模型和测量方法,使仿真和测试结果逐渐逼近。
眼图测量方法(传统眼图测量方法),眼图测量方法有两种:传统眼图测量方法用中文来理解是八个字:“同步触发+叠加显示”,现代眼图测量方法用中文来理解也是八个字:“同步切割+叠加显示”。两种方法的差别就四个字:传统的是用触发的方法,现代的是用切割的方法。“同步”是准确测量眼图的关键,传统方法和现代方法同步的方法是不一样的。“叠加显示”就是用模拟余辉的方法不断累积显示。传统的眼图方法就是同步触发一次,然后叠加一次。每触发一次,眼图上增加了一个UI,每个UI的数据是相对于触发点排列的,因此是每触发一次眼图上只增加了一个比特位。图一形象表示了这种方法形成眼图的过程。眼图测试软件,眼图测量。
当眼图形成以后,我们已经可以根据眼图的张开程度大概了解信号质量的情况,但更进一步的分析就需要对眼图的参数进行精确测量,常用的测量参数有眼高(Eye Height)、眼宽(Eye Width)、眼的抖动(交叉点处的Jitter)等。
1.眼高的测量
眼高反映的是眼图的垂直方向张开的程度。其测量方法是先在眼图的中心位置对眼图的电平分布进行统计,根据直方图分布出现概率的位置得到高电平和低电平的位置;然后再根据高低电平上的噪声分布情况各向内推3个西格玛,从而的到眼高的测量结果。 眼图分析测试详解克劳德高速数字信号测试实验室。信息化眼图测试价格多少
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对于DDR源同步操作,必然要求DQS选通信号与DQ数据信号有一定建立时间tDS和保持时间tDH要求,否则会导致接收锁存信号错误,DDR4信号速率达到了,单一比特位宽为,时序裕度也变得越来越小,传统的测量时序的方式在短时间内的采集并找到tDS/tDH差值,无法大概率体现由于ISI等确定性抖动带来的对时序恶化的贡献,也很难准确反映随机抖动Rj的影响。在DDR4的眼图分析中就要考虑这些抖动因素,基于双狄拉克模型分解抖动和噪声的随机性和确定性成分,外推出基于一定误码率下的眼图张度。JEDEC协会在规范中明确了在DDR4中测试误码率为1e-16的眼图轮廓,确保满足在Vcent周围Tdivw时间窗口和Vdivw幅度窗口范围内模板内禁入的要求。 广东HDMI测试眼图测试销售
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